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一種電氣測試電路的制作方法
【專利摘要】本實用新型提供了一種電氣測試電路，屬于電氣自動化【技術(shù)領(lǐng)域】。它解決了現(xiàn)有的電氣電路的接點狀態(tài)難以檢測的問題。本電氣測試電路包括內(nèi)部電源、檢測模塊和分別連接在待測接點兩側(cè)的兩測試線，所述的檢測模塊包括檢測電阻、保護電阻和穩(wěn)壓電路，穩(wěn)壓電路的陰極與檢測電阻串聯(lián)后接在內(nèi)部電源正極，陽極接地，保護電阻串接于檢測電阻與內(nèi)部電源正極之間，所述穩(wěn)壓電路和檢測電阻之間的接點處還設(shè)有引出的檢測端一，上述兩測試線中的其中一條電性連接在內(nèi)部電源正極與檢測電阻之間，另一條電性連接在穩(wěn)壓電路的陽極端。本測試電路檢測接點通斷狀態(tài)準確可靠，且不會對被測電路造成影響。
【專利說明】—種電氣測試電路
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型屬于電氣自動化【技術(shù)領(lǐng)域】，特別涉及一種電氣測試電路。
【背景技術(shù)】
[0002]傳統(tǒng)的電氣設(shè)備包括接在電源上的負載和電路上的接點，由于在電氣上互相隔離的兩個回路之間是用接點聯(lián)系的，也就是說，接點的兩端總是被同時送至另一個電路，因此，在同一個檢測地點，接點的兩端總是能被找到的。
[0003]現(xiàn)有的測試電路在測試如圖1中所示的接點K的狀態(tài)時，是利用了內(nèi)部的光耦來實現(xiàn)的，即有足夠大的電流流過光耦的發(fā)光二極管時，測試電路便認為被測接點K導通，否則認為不導通。這種方案有如下缺點:
[0004]當兩測試點接于接點的兩側(cè)時，在接點斷開后，兩測試點之間受外部電路的電源電壓影響，會有電流流過測試電路內(nèi)部的光耦，測試電路會誤認為是接點導通。因此，這種情況下為了正確測試接點的狀態(tài)，不得不斷開接點K的至少一端與原電路的連接。當原電路處于一種連鎖反應(yīng)狀態(tài)時，由于K的退出，會導致后續(xù)反應(yīng)與原來應(yīng)有的反應(yīng)不符。也就是說，為了測試接點K的狀態(tài)而影響了后續(xù)測試。為了不影響后續(xù)測試，可以將兩測試點接于負載的兩側(cè)，如圖1中電阻R的兩端，但由于電路上R的某一端可能不在檢測地點K處，因此，為了測試K的狀態(tài)，還必須從它處引一導線，將R的這一端引至檢測地點K處。而“弓丨一導線”的這一工作可能給測試帶來諸多不便。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本實用新型的目的是針對現(xiàn)有的測試電路存在的上述問題，而提出了一種使用簡便，能精確在線判斷接點狀態(tài)的電氣測試電路。
[0006]本實用新型的目的可通過下列技術(shù)方案來實現(xiàn):
[0007]—種電氣測試電路，包括內(nèi)部電源Vcc、檢測模塊和分別連接在待測接點兩側(cè)的兩測試線(L1、L2)，其特征在于，所述的檢測模塊包括檢測電阻R2、保護電阻Rl和穩(wěn)壓電路，穩(wěn)壓電路的陰極與檢測電阻R2串聯(lián)后接在內(nèi)部電源Vcc正極，陽極接地，保護電阻Rl串接于檢測電阻R2與內(nèi)部電源Vcc正極之間，所述穩(wěn)壓電路和檢測電阻R2之間的接點處還設(shè)有引出的檢測端一，上述兩測試線(L1、L2)中的其中一條電性連接在內(nèi)部電源Vcc正極與檢測電阻R2之間，另一條電性連接在穩(wěn)壓電路的陽極端。
[0008]在上述的一種電氣測試電路中，所述的穩(wěn)壓電路為穩(wěn)壓二極管W0。
[0009]在上述的一種電氣測試電路中，所述的穩(wěn)壓電路包括多個二極管串聯(lián)而成的二極管組組和與上述二極管組反向并聯(lián)的反向二極管。
[0010]在上述的一種電氣測試電路中，所述的測試電路還包括有保護二極管D2，保護二極管D2串聯(lián)于檢測電阻R2和內(nèi)部電源Vcc正極之間并與內(nèi)部電源Vcc正向連接。
[0011]在上述的一種電氣測試電路中，所述的測試電路還包括檢測對比模塊，檢測對比模塊包括光電稱合器，光電稱合器的發(fā)光源串接在上述其中一個測試線上且與上述穩(wěn)壓二極管WO順向連接，光電耦合器的受光器一端與內(nèi)部電源Vcc正向連接，另一端經(jīng)電阻R3后接地，受光器的電流輸出端引出有檢測端二。
[0012]在上述的一種電氣測試電路中，所述的發(fā)光源為光敏二極管D0。
[0013]在上述的一種電氣測試電路中，所述的受光器為光敏三極管D0，其集電極與內(nèi)部電源Vcc正極連接，發(fā)射極經(jīng)電阻R3后接地。
[0014]在上述的一種電氣測試電路中，所述發(fā)光源上還反向并聯(lián)有二極管Dl。
[0015]在上述的一種電氣測試電路中，所述的二極管Dl為穩(wěn)壓管。
[0016]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本測試電路檢測接點通斷狀態(tài)準確可靠，且不會對被測電路造成影響。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0017]圖1是待測接點的電路圖。
[0018]圖2是實施例1中本測試電路與待測電路配合的電路圖。
[0019]圖3是實施例2中本測試電路與待測電路配合的電路圖。
[0020]圖4是實施例3中本測試電路與待測電路配合的電路圖。
【具體實施方式】
[0021]以下是本實用新型的具體實施例并結(jié)合附圖，對本實用新型的技術(shù)方案作進一步的描述，但本實用新型并不限于這些實施例。
[0022]實施例1
[0023]如圖2所示，本電氣測試電路包括內(nèi)部電源Vcc、檢測模塊和分別連接在待測接點兩側(cè)的兩測試線(L1、L2)，檢測模塊包括檢測電阻R2和穩(wěn)壓二極管WO，穩(wěn)壓二極管WO的陰極與檢測電阻R2串聯(lián)后接在內(nèi)部電源Vcc正極，陽極接地，所述穩(wěn)壓二極管WO和檢測電阻R2之間的接點處還設(shè)有引出的檢測端一，上述兩測試線(L1、L2)中的其中一條電性連接在內(nèi)部電源Vcc正極與檢測電阻R2之間，另一條電性連接在穩(wěn)壓二極管WO的陽極端。
[0024]測試電路還包括有保護電阻Rl和保護二極管D2，保護電阻Rl串接于內(nèi)部電源Vcc與檢測電阻R2之間，且保護二極管D2與內(nèi)部電源Vcc正向連接。
[0025]利用本測試電路進行測試的方法，其測試點接于接點K的兩側(cè)。
[0026]1、接點K閉合時。無論待測電路是否有外部電源E，檢測端一所檢測到的電壓不是OV就是略高于0V。
[0027]2、接點K斷開，K兩端的電壓為上正下負時。檢測端一所檢測的電壓為高電位(穩(wěn)壓二極管WO的穩(wěn)壓值為高電位)，由于外部電源E電壓比內(nèi)部電源Ncc高，所以，內(nèi)部電源Vcc不能輸出電流，這里的高電位完全是外部電源E所作用的結(jié)果。
[0028]3、接點K斷開，K兩端的電壓為上負下正時，外部電源E流經(jīng)穩(wěn)壓二極管W0、檢測電阻R2，使檢測端一的電位為負值。
[0029]4、接點K斷開，無外部電源時。內(nèi)部電源Vcc通過保護電阻R1、保護二極管D2、檢測電阻R2、穩(wěn)壓二極管W0，使檢測端一所檢測的電壓為高電位(穩(wěn)壓二極管WO的穩(wěn)壓值為高電位)。
[0030]因此，可以根據(jù)檢測端一所得到的電壓高低，反過來判斷接點K的通斷狀態(tài)。檢測端一的電位為高或檢測端一的電壓低于OV時,表不接點K斷開；檢測端一的電壓為OV或略高于OV時，表示接點K閉合。
[0031]檢測端一電壓的獲得:接點K斷開，且K兩端的外部電源E電壓為上正下負時，夕卜部的高電壓經(jīng)檢測電阻R2及穩(wěn)壓二極管W0，在穩(wěn)壓二極管WO上能獲得穩(wěn)定的電壓，此電壓能保證檢測端一為高電壓。設(shè)立保護二極管D2有兩個目的，一是為了保證檢測端一獲得更加穩(wěn)定的高電壓(電源回路不分流)；二是為了防止外部電源E電壓串入電源系統(tǒng)對后續(xù)電路造成影響。接點K斷開，K兩端的電壓為上負下正時，外部電源E流經(jīng)穩(wěn)壓二極管W0、檢測電阻R2，使檢測端一的電位為負值，K的狀態(tài)被認為是斷開。接點K斷開，外部無外部電源E時，內(nèi)部電源Vcc通過保護電阻R1、保護二極管D2、檢測電阻R2、穩(wěn)壓二極管WO，使檢測端一所檢測的電壓為高電位(穩(wěn)壓二極管WO的穩(wěn)壓值為高電位)，K的狀態(tài)被認為是斷開。接點K閉合時，無論是否有外部電源E，檢測端一所檢測到的電壓不是OV就是略高于OV0
[0032]后續(xù)電路對檢測端一電壓的處理:為高電位或為負值時，作為斷開處理；為OV或略高于OV時，作為閉合處理。
[0033]對被測電路的影響:帶電檢測接點K的狀態(tài)時，難免對被測電路造成影響。為了最大程度地降低影響，采取了兩個措施。第一個措施是內(nèi)部電源Vcc電源系統(tǒng)與供電系統(tǒng)在電氣上采取隔離措施，而且各路開入之間也是完全隔離的，說白了，每路開入專配一套與供電電源在電氣上隔離的專用電路，最典型的例子是:各路開入分別由不同的微功率集成模塊供電，這些集成的電源模塊，輸入端與輸出端之間在電氣上是完全隔離的。第二個措施是保護電阻R1、檢測電阻R2的阻值被設(shè)置得相當大，以致于接點K斷開后，流經(jīng)測試線(L1、L2)的電流不會使原電路的功能狀態(tài)發(fā)生明顯的變化，例如，不會使被測電路中的光耦誤導通。
[0034]實施例2
[0035]如圖3所示，本實施例中的測試電路相對比實施例1還包括檢測對比模塊，檢測對比模塊包括光電耦合器，光電耦合器的發(fā)光源串接在圖示上測試線LI上，該測試線LI連接在保護二極管D2和檢測電阻R2之間的接點上，光電耦合器的受光器一端與內(nèi)部電源Vcc正向連接，另一端接地，受光器的電流輸出端引出有檢測端二，其中發(fā)光源為光敏二極管DO，該光敏二極管DO與穩(wěn)壓二極管WO順向連接，受光器為光敏三極管DO，其集電極與內(nèi)部電源Vcc正極連接，發(fā)射極經(jīng)過電阻R3后接地，光敏二極管DO上還反向并聯(lián)有二極管Dl或穩(wěn)壓管。
[0036]利用本測試電路進行測試的方法，其測試點接于接點K的兩側(cè)。
[0037]1、接點K閉合時，無論是否有外部電源E，檢測端一所檢測到的電壓被光耦的發(fā)光二極管DO鉗至低電位(小于IV，穩(wěn)壓二極管WO的穩(wěn)壓值要高于發(fā)光二極管DO的正向壓降)。通過合理設(shè)置保護電阻Rl的阻值，使流過發(fā)光二極管DO的電流被限制在一定值內(nèi)，它使檢測端二也檢測到低電位，由于兩個檢測端都為低電位，因此，認為K閉合。
[0038]2、接點K斷開，K兩端的電壓為上正下負時。外部電源E通過D1，內(nèi)部電源Vcc通過保護二極管D2，內(nèi)外電源共同作用的結(jié)果，使檢測端一所檢測的電壓為高電位(穩(wěn)壓二極管WO的穩(wěn)壓值為高電位)，K的狀態(tài)被認為是斷開。
[0039]3、接點K斷開，K兩端的電壓為上負下正時。外部電源E流經(jīng)發(fā)光二極管DO的足夠大的電流使檢測端二為高電位，K的狀態(tài)被認為是斷開。
[0040]因此，可以根據(jù)檢測端一和檢測端二的電位高低，反過來判斷接點K的通斷狀態(tài)。檢測端一和檢測端二任一端的電位為高時，表示接點K斷開，兩端電位都為低時，表示接點K閉合。
[0041]實施例3
[0042]如圖4所示，本實施例的測試電路與實施例3類似，區(qū)別在于光電耦合器的發(fā)光源串接在圖示下測試線L2上，該測試線L2連接在穩(wěn)壓二極管WO的陽極端接點上，其中發(fā)光源為光敏二極管D0，該光敏二極管DO與穩(wěn)壓二極管WO順向連接，光敏二極管DO上還反向并聯(lián)有二極管Dl或穩(wěn)壓管。
[0043]1、其中光敏二極管DO在接點K斷開后，K兩端的外部電壓為下正上負時才起作用。接點K閉合時，雖然其也流過由內(nèi)部電源Vcc流出來的電流，但是，因為內(nèi)部電源Vcc的電壓低，而外部電源E的電壓高。電路被設(shè)計成在K閉合時，由內(nèi)部電源Vcc產(chǎn)生的、流經(jīng)光敏二極管DO的電流使檢測端二為低電平；而1(斷開后，K兩端的外部電壓為下正上負時，流經(jīng)光敏二極管DO的電流使檢測端二為高電平。二極管Dl反向并聯(lián)在光敏二極管DO兩端的目的是，在K斷開后，K兩端的外部電壓為上正下負時，防止光敏二極管DO被反向擊穿，因此，此處也可以并聯(lián)一個穩(wěn)壓管。
[0044]2、檢測端一電壓的獲得，接點K斷開，且K兩端的外部電壓為上正下負時。外部的高電壓經(jīng)檢測電阻R2及穩(wěn)壓二極管WO，穩(wěn)壓二極管WO上能獲得穩(wěn)定的電壓，此電壓能保證檢測端一為高電壓。設(shè)立保護二極管D2有兩個目的，一是為了保證檢測端一獲得更加穩(wěn)定的高電壓(電源回路不分流 )；二是為了防止外部電壓串入電源系統(tǒng)對后續(xù)電路造成影響。
[0045]3、對被測電路的影響。帶電檢測接點K的狀態(tài)時，難免對被測電路造成影響，為了最大程度地降低影響，采取了兩個措施。第一個措施是內(nèi)部電源Vcc系統(tǒng)與供電系統(tǒng)在電氣上采取隔離措施，而且各路開入之間也是完全隔離的，說白了，每路開入專配一套與供電電源在電氣上隔離的專用電路，最典型的例子是:各路開入分別由不同的微功率集成模塊供電，這些集成的電源模塊，輸入端與輸出端之間在電氣上是完全隔離的。第二個措施是保護電阻R1、檢測電阻R2的阻值被設(shè)置得相當大，以致于接點K斷開后，流經(jīng)測試線的電流不會使原電路的功能狀態(tài)發(fā)生明顯的變化，例如，不會使被測電路中的光耦誤導通。
[0046]應(yīng)該理解，在本實用新型的權(quán)利要求書、說明書中，所有“包括……”均應(yīng)理解為開放式的含義，也就是其含義等同于“至少含有……”，而不應(yīng)理解為封閉式的含義，即其含義不應(yīng)該理解為“僅包含……”。
[0047]本文中所描述的具體實施例僅僅是對本實用新型精神作舉例說明。本實用新型所屬【技術(shù)領(lǐng)域】的技術(shù)人員可以對所描述的具體實施例做各種各樣的修改或補充或采用類似的方式替代，但并不會偏離本實用新型的精神或者超越所附權(quán)利要求書所定義的范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種電氣測試電路，包括內(nèi)部電源(Vcc)、檢測模塊和分別連接在待測接點兩側(cè)的兩測試線(L1、L2)，其特征在于，所述的檢測模塊包括檢測電阻(R2)、保護電阻(Rl)和穩(wěn)壓電路，穩(wěn)壓電路的陰極與檢測電阻(R2)串聯(lián)后接在內(nèi)部電源(Vcc)正極，陽極接地，保護電阻(Rl)串接于檢測電阻(R2)與內(nèi)部電源(Vcc)正極之間，所述穩(wěn)壓電路和檢測電阻(R2)之間的接點處還設(shè)有引出的檢測端一，上述兩測試線(L1、L2)中的其中一條電性連接在內(nèi)部電源(Vcc)正極與檢測電阻(R2)之間，另一條電性連接在穩(wěn)壓電路的陽極端。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電氣測試電路，其特征在于，所述的測試電路還包括有保護二極管(D2)，保護二極管(D2)串聯(lián)于檢測電阻(R2)和內(nèi)部電源(Vcc)正極之間并與內(nèi)部電源(Vcc)正向連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種電氣測試電路，其特征在于，所述的測試電路還包括檢測對比模塊，檢測對比模塊包括光電耦合器，光電耦合器的發(fā)光源串接在上述其中一個測試線(L1、L2)上且與上述穩(wěn)壓二極管(WO)順向連接，光電耦合器的受光器一端與內(nèi)部電源(Vcc)正向連接，另一端經(jīng)電阻(R3)后接地，受光器的電流輸出端引出有檢測端二。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種電氣測試電路，其特征在于，所述的發(fā)光源為光敏二極管(DO)。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種電氣測試電路，其特征在于，所述的受光器為光敏三極管(DO)，其集電極與內(nèi)部電源(Vcc)正極連接，發(fā)射極經(jīng)電阻(R3)后接地。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種電氣測試電路，其特征在于，所述發(fā)光源上還反向并聯(lián)有二極管(Dl)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種電氣測試電路，其特征在于，所述的二極管(Dl)為穩(wěn)壓管。
【文檔編號】G01R31/02GK203630261SQ201320789368
【公開日】2014年6月4日 申請日期:2013年12月4日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月4日
【發(fā)明者】施健貞 申請人:施健貞