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一種火工品電阻時(shí)序的測(cè)試電路的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一種火工品電阻時(shí)序的測(cè)試電路，包括切換電路、驅(qū)動(dòng)電路、電阻測(cè)試電路和光電隔離檢測(cè)電路；切換電路的輸入端用于連接被測(cè)電路，所述切換電路的控制端連接所述驅(qū)動(dòng)電路，所述切換電路的第一輸出端連接所述光電隔離檢測(cè)電路，所述切換電路的第二輸出端連接至所述電阻測(cè)試電路的第一輸入端，所述切換電路的第三輸出端連接至所述電阻測(cè)試電路的第二輸入端。本實(shí)用新型采用繼電器切換的方式，在電阻輸出和時(shí)序輸出共用測(cè)試節(jié)點(diǎn)的情況下，通過(guò)電橋電阻測(cè)試和時(shí)序檢測(cè)電路共同完成了火工品電阻及時(shí)序電路的檢測(cè)，該測(cè)試電路接口簡(jiǎn)單，工作可靠。
【專利說(shuō)明】—種火工品電阻時(shí)序的測(cè)試電路【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型屬于測(cè)試技術(shù)應(yīng)用領(lǐng)域，具體涉及一種火工品電阻時(shí)序的測(cè)試電路?！颈尘凹夹g(shù)】
[0002]火工品電阻和時(shí)序電路測(cè)試電路一直廣泛應(yīng)用于測(cè)試設(shè)備，通?；鸸て冯娮韬蜁r(shí)序進(jìn)行分開(kāi)測(cè)試，各自引出測(cè)試節(jié)點(diǎn)，針對(duì)電阻測(cè)試一般采用精度較高的電橋法測(cè)試，時(shí)序檢測(cè)使用光耦隔離后進(jìn)行信號(hào)上升/下降沿的測(cè)試方式進(jìn)行檢測(cè)，針對(duì)電阻和時(shí)序的測(cè)試需求，以上兩種電路能夠較好地滿足測(cè)試需求，但是在電阻測(cè)試與時(shí)序測(cè)試共用測(cè)試節(jié)點(diǎn)的情況下，就不能夠采用以上電路直接實(shí)現(xiàn)電阻和時(shí)序的測(cè)試需求了。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0003]針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的以上缺陷或改進(jìn)需求，本實(shí)用新型提供了一種火工品電阻時(shí)序的測(cè)試電路，其目的在于提高測(cè)試精度、使得電路接口簡(jiǎn)單和工作可靠，由此解決當(dāng)火工品電阻電路和時(shí)序電路共用測(cè)試節(jié)點(diǎn)時(shí)，現(xiàn)有技術(shù)不能滿足測(cè)試需求的技術(shù)問(wèn)題。
[0004]本實(shí)用新型提供了一種火工品電阻時(shí)序的測(cè)試電路，包括切換電路、驅(qū)動(dòng)電路、電阻測(cè)試電路和光電隔離檢測(cè)電路；所述切換電路的輸入端用于連接被測(cè)電路，所述切換電路的控制端連接所述驅(qū)動(dòng)電路，所述切換電路的第一輸出端連接所述光電隔離檢測(cè)電路，所述切換電路的第二輸出端連接至所述電阻測(cè)試電路的第一輸入端，所述切換電路的第三輸出端連接至所述電阻測(cè)試電路的第二輸入端。
[0005]更進(jìn)一步地，所述切換電路包括繼電器第一觸點(diǎn)Kl和繼電器第二觸點(diǎn)K2 ;所述繼電器第一觸點(diǎn)Kl的公共端 和所述繼電器第二觸點(diǎn)K2的公共端作為所述切換電路的輸入端分別用于連接被測(cè)電路的第一測(cè)試節(jié)點(diǎn)和第二測(cè)試節(jié)點(diǎn)；所述繼電器第一觸點(diǎn)Kl的常閉端作為所述切換電路的第一輸出端連接至所述光電隔離檢測(cè)電路；所述繼電器第一觸點(diǎn)Kl的常開(kāi)端作為所述切換電路的第二輸出端與所述電阻測(cè)試電路的第一輸入端連接，所述繼電器第二觸點(diǎn)K2的常開(kāi)端作為所述切換電路的第三輸出端與所述電阻測(cè)試電路的第二輸入端連接，所述繼電器第二觸點(diǎn)K2的常閉端懸空不接。
[0006]更進(jìn)一步地，所述電阻測(cè)試電路包括AD芯片及其外圍電路；AD芯片的反相輸入端通過(guò)依次串聯(lián)連接的電容C3和電阻R3連接至所述切換電路的第二輸出端；AD芯片的正相輸入端連接至所述電容C3和電阻Rl的串聯(lián)連接端；AD芯片的輸出端作為所述電阻測(cè)試電路的輸出端；電阻Rl連接在1.25V電壓與所述AD芯片的正相輸入端之間；電阻R2和電阻R4依次串聯(lián)連接在1.25V電壓和地之間，所述電阻R2和所述電阻R4的串聯(lián)連接端與所述AD芯片的反相輸入端連接。
[0007]更進(jìn)一步地，所述光電隔離檢測(cè)電路包括:光電耦合器、電阻R6、電阻R7和電阻R8;所述光電耦合器中二極管的陽(yáng)極通過(guò)電阻R6連接至所述切換電路的第一輸出端，所述光電耦合器中二極管的陰極接地；所述電阻R7連接在二極管的陽(yáng)極與陰極之間；所述光電耦合器中三極管的集電極連接+5V電壓，所述光電耦合器中三極管的發(fā)射極通過(guò)電阻R8接地，所述光電耦合器中三極管的發(fā)射極還作為所述光電隔離檢測(cè)電路的輸出端。
[0008]本實(shí)用新型采用繼電器切換的方式，在電阻輸出和時(shí)序輸出共用測(cè)試節(jié)點(diǎn)的情況下，通過(guò)電橋電阻測(cè)試和時(shí)序檢測(cè)電路共同完成了火工品電阻及時(shí)序電路的檢測(cè)，該測(cè)試電路接口簡(jiǎn)單，工作可靠。
【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0009]圖1是本實(shí)用新型提供的火工品電阻及時(shí)序的測(cè)試電路的原理框圖；
[0010]圖2是本實(shí)用新型提供的火工品電阻及時(shí)序的測(cè)試電路的具體電路圖。
【具體實(shí)施方式】
[0011]為了使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本實(shí)用新型，并不用于限定本實(shí)用新型。此外，下面所描述的本實(shí)用新型各個(gè)實(shí)施方式中所涉及到的技術(shù)特征只要彼此之間未構(gòu)成沖突就可以相互組合。
[0012]火工品電阻和時(shí)序電路作為控制系統(tǒng)的重要信號(hào)，一直以來(lái)對(duì)電路測(cè)試都有著較高的精度要求和可靠性要求，在本實(shí)用新型采用繼電器切換的方式，在電阻輸出和時(shí)序輸出共用測(cè)試節(jié)點(diǎn)的情況下，通過(guò)電橋電阻測(cè)試和時(shí)序檢測(cè)電路共同完成了火工品電阻及時(shí)序電路的檢測(cè)，該測(cè)試電路接口簡(jiǎn)單，工作可靠。
[0013]本實(shí)用新型可以直接應(yīng)用于火工品電阻及時(shí)序電路測(cè)試的設(shè)計(jì)中，使用方便，應(yīng)用范圍廣，測(cè)試精度高。測(cè)試原理框圖如圖1所示，一種火工品電阻時(shí)序的測(cè)試電路，包括切換電路、驅(qū)動(dòng)電路、電阻測(cè)試電路和光電隔離檢測(cè)電路；切換電路的輸入端用于連接被測(cè)電路，切換電路的控制端連接驅(qū)動(dòng)電路，切換電路的第一輸出端連接所述光電隔離檢測(cè)電路，切換電路的第二輸出端連接至電阻測(cè)試電路的第一輸入端，切換電路的第三輸出端連接至所述電阻測(cè)試電路的第二輸入端。
[0014]本實(shí)用新型中，當(dāng)時(shí)序開(kāi)關(guān)閉合時(shí)，火工品電阻及時(shí)序電路輸出+28V時(shí)序信號(hào)，時(shí)序信號(hào)流經(jīng)切換電路的第一輸出端進(jìn)入光電隔離檢測(cè)電路，檢測(cè)電路進(jìn)行時(shí)序信號(hào)測(cè)試；當(dāng)時(shí)序開(kāi)關(guān)斷開(kāi)時(shí)，火工品電阻及時(shí)序電路變成了電阻Rl和R2的串聯(lián)電阻回路，此時(shí)給測(cè)試電路中Kl繼電器線包加驅(qū)動(dòng)電流，繼電器Kl觸點(diǎn)閉合，電阻回路的兩個(gè)端口分別經(jīng)過(guò)切換電路的第二輸出端和第三輸出端接入電阻測(cè)試電路的第一輸入端和第二輸入端，電阻測(cè)試電路完成對(duì)電阻回路的阻值測(cè)試。
[0015]本實(shí)用新型可以直接應(yīng)用于各種火工品電阻及時(shí)序測(cè)試電路中，能夠完成電阻和時(shí)序的集成測(cè)試或單項(xiàng)測(cè)試，通過(guò)應(yīng)用該技術(shù)，可以簡(jiǎn)化火工品電阻及時(shí)序測(cè)試電路接口，在電阻和時(shí)序共用測(cè)試節(jié)點(diǎn)的情況下，能夠同時(shí)完成電阻和時(shí)序電路的指標(biāo)測(cè)試。
[0016]在本實(shí)用新型中，切換電路包括繼電器第一觸點(diǎn)Kl和繼電器第二觸點(diǎn)K2 ;繼電器第一觸點(diǎn)Kl的公共端和繼電器第二觸點(diǎn)K2的公共端作為切換電路的輸入端分別用于連接被測(cè)電路的第一測(cè)試節(jié)點(diǎn)和第二測(cè)試節(jié)點(diǎn)；繼電器第一觸點(diǎn)Kl的常閉端作為切換電路的第一輸出端連接至所述光電隔離檢測(cè)電路；繼電器第一觸點(diǎn)Kl的常開(kāi)端作為切換電路的第二輸出端與電阻測(cè)試電路的第一輸入端連接，繼電器第二觸點(diǎn)K2的常開(kāi)端作為切換電路的第三輸出端與電阻測(cè)試電路的第二輸入端連接，繼電器第二觸點(diǎn)K2的常閉端懸空不接。
[0017]本實(shí)用新型采用繼電器切換的方式，在電阻輸出和時(shí)序輸出共用測(cè)試節(jié)點(diǎn)的情況下，通過(guò)電橋法電阻測(cè)試電路和時(shí)序檢測(cè)電路共同完成了火工品電阻及時(shí)序電路的檢測(cè)，該電路接口簡(jiǎn)單，工作可靠。
[0018]圖2示出了本實(shí)用新型提供的火工品電阻及時(shí)序的測(cè)試電路的具體電路，其中，電阻測(cè)試電路包括AD芯片及其外圍電路；AD芯片的反相輸入端通過(guò)依次串聯(lián)連接的電容C3和電阻R3連接至切換電路的第二輸出端；AD芯片的正相輸入端連接至所述電容C3和電阻Rl的串聯(lián)連接端；AD芯片的輸出端作為電阻測(cè)試電路的輸出端；電阻Rl連接在1.25V電壓與所述AD芯片的正相輸入端之間；電阻R2和電阻R4依次串聯(lián)連接在1.25V電壓和地之間，電阻R2和電阻R4的串聯(lián)連接端與AD芯片的反相輸入端連接。
[0019]光電隔離檢測(cè)電路包括:光電耦合器、電阻R6、電阻R7和電阻R8 ;所述光電耦合器中二極管的陽(yáng)極通過(guò)電阻R6連接至所述切換電路的第一輸出端，所述光電耦合器中二極管的陰極接地；所述電阻R7連接在二極管的陽(yáng)極與陰極之間；所述光電耦合器中三極管的集電極連接+5V電壓，所述光電耦合器中三極管的發(fā)射極通過(guò)電阻R8接地，所述光電耦合器中三極管的發(fā)射極還作為所述光電隔離檢測(cè)電路的輸出端。
[0020]當(dāng)時(shí)序開(kāi)關(guān)斷開(kāi)、繼電器第一觸點(diǎn)Kl和繼電器第二觸點(diǎn)K2閉合時(shí)，電路Rl和R2回路與電阻測(cè)試電路中的R3串聯(lián)，與其它三只電阻(Rl、R2和R4)組成了橋電路，如果串聯(lián)后橋電路電阻阻值不對(duì)稱，則經(jīng)過(guò)電阻分壓后電容C3的兩端會(huì)產(chǎn)生電壓差，該電壓差直接接入AD芯片的輸入端，經(jīng)過(guò)電壓采集后可以得出電壓差值，電阻測(cè)試電路中的R1、R2、R3和R4阻值已知，就可以根據(jù)電壓差算出火工品電阻回路的電阻值，該電路設(shè)計(jì)時(shí)需要選取高精度電阻和數(shù)據(jù)采集精度高的AD芯片，以提高測(cè)試精度。當(dāng)時(shí)序開(kāi)關(guān)閉合，繼電器第一觸點(diǎn)Kl和繼電器第二觸點(diǎn)K2斷開(kāi)時(shí)，+28V時(shí)序信號(hào)進(jìn)入光電隔離檢測(cè)電路，時(shí)序信號(hào)流經(jīng)限流電阻R6，進(jìn)入光電耦合器，驅(qū)動(dòng)發(fā)光二極管工作(此時(shí)電阻R7起到分流作用)，光電耦合器的輸出端三極管檢測(cè)到光電流后使三極管處于飽和導(dǎo)通狀態(tài)，電平輸出端輸出高電平，證明時(shí)序信號(hào)輸出有效，同理，當(dāng)時(shí)序開(kāi)關(guān)閉合時(shí)，+28V時(shí)序信號(hào)無(wú)效，此時(shí)發(fā)光二極管不工作，光電I禹合器的輸出端三極管處于截止斷開(kāi)狀態(tài)，電平輸出端被電阻R8下拉輸出低電平，證明時(shí)序信號(hào)輸出無(wú)效，完成時(shí)序信號(hào)采集。
[0021]本實(shí)用新型在于火工品電阻測(cè)試通路和時(shí)序測(cè)試通路共用測(cè)試節(jié)點(diǎn)的情況下能夠通過(guò)繼電器常開(kāi)和常閉觸點(diǎn)完成對(duì)電阻測(cè)試和時(shí)序測(cè)試通路的切換，利用電橋法和光電隔離檢測(cè)的方法完成對(duì)火工品電阻及時(shí)序的測(cè)試，測(cè)試電路工作可靠，在共用測(cè)試節(jié)點(diǎn)的情況下實(shí)現(xiàn)了高精度電阻檢測(cè)和200ms時(shí)序測(cè)試。
[0022]為了更進(jìn)一步的說(shuō)明本實(shí)用新型提供的火工品電阻時(shí)序的測(cè)試電路，現(xiàn)結(jié)合具體實(shí)例并參照附圖詳述如下:
[0023]本實(shí)用新型所使用的測(cè)試電路包括繼電器驅(qū)動(dòng)電路、電阻測(cè)試電路和光電隔離檢測(cè)電路；被測(cè)電路為火工品電阻、時(shí)序電路，該電路的電阻通路和+28V點(diǎn)火時(shí)序輸出信號(hào)共用了測(cè)試節(jié)點(diǎn)，所以不能采用以往電阻和時(shí)序單獨(dú)測(cè)試的電路完成測(cè)試。
[0024]被測(cè)電路包括28V點(diǎn)火時(shí)序和火工品電阻Rl、R2串聯(lián)的電阻阻值，電阻通路和時(shí)序通路共用測(cè)試節(jié)點(diǎn)SXDZl和SXDZ2，被測(cè)電路節(jié)點(diǎn)通過(guò)測(cè)試電纜引入測(cè)試電路，連接到繼電器Kl的輸入觸點(diǎn)一端，該測(cè)試節(jié)點(diǎn)通過(guò)常閉觸點(diǎn)連接至電阻測(cè)試電路，常開(kāi)觸點(diǎn)連接至光電隔離檢測(cè)電路。
[0025]測(cè)試火工品電阻Rl、R2串聯(lián)的電阻阻值時(shí)，被測(cè)電路的時(shí)序開(kāi)關(guān)斷開(kāi)，測(cè)試電路繼電器Kl斷開(kāi)，此時(shí)被測(cè)電路的節(jié)點(diǎn)SXDZl和SXDZ2輸出等同于電阻Rl、R2串聯(lián)阻值的引出端，通過(guò)電橋電阻測(cè)試法完成火工品電阻測(cè)試；當(dāng)被測(cè)電路的時(shí)序開(kāi)關(guān)吸合，測(cè)試電路繼電器Kl吸合，此時(shí)被測(cè)電路的節(jié)點(diǎn)輸出等同于+28V時(shí)序信號(hào)輸出端，通過(guò)繼電器Kl后進(jìn)入光電隔離檢測(cè)電路，完成對(duì)+28V時(shí)序信號(hào)的測(cè)試，測(cè)試完畢后斷開(kāi)時(shí)序開(kāi)關(guān)和繼電器K1，恢復(fù)初始狀態(tài)。通過(guò)以上方式可以完成在火工品電阻和時(shí)序共用測(cè)試節(jié)點(diǎn)情況下的電阻和時(shí)序測(cè)試功能，操作簡(jiǎn)便，工作可靠。
[0026]本領(lǐng)域的技術(shù)人員容易理解，以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本實(shí)用新型，凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種火工品電阻時(shí)序的測(cè)試電路，其特征在于，包括切換電路、驅(qū)動(dòng)電路、電阻測(cè)試電路和光電隔離檢測(cè)電路； 所述切換電路的輸入端用于連接被測(cè)電路，所述切換電路的控制端連接所述驅(qū)動(dòng)電路，所述切換電路的第一輸出端連接所述光電隔離檢測(cè)電路，所述切換電路的第二輸出端連接至所述電阻測(cè)試電路的第一輸入端，所述切換電路的第三輸出端連接至所述電阻測(cè)試電路的第二輸入端。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試電路，其特征在于，所述切換電路包括繼電器第一觸點(diǎn)Kl和繼電器第二觸點(diǎn)K2 ； 所述繼電器第一觸點(diǎn)Kl的公共端和所述繼電器第二觸點(diǎn)K2的公共端作為所述切換電路的輸入端分別用于連接被測(cè)電路的第一測(cè)試節(jié)點(diǎn)和第二測(cè)試節(jié)點(diǎn)；所述繼電器第一觸點(diǎn)Kl的常閉端作為所述切換電路的第一輸出端連接至所述光電隔離檢測(cè)電路；所述繼電器第一觸點(diǎn)Kl的常開(kāi)端作為所述切換電路的第二輸出端與所述電阻測(cè)試電路的第一輸入端連接，所述繼電器第二觸點(diǎn)K2的常開(kāi)端作為所述切換電路的第三輸出端與所述電阻測(cè)試電路的第二輸入端連接，所述繼電器第二觸點(diǎn)K2的常閉端懸空不接。
3.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試電路，其特征在于，所述電阻測(cè)試電路包括AD芯片及其外圍電路； AD芯片的反相輸入端通過(guò)依次串聯(lián)連接的電容C3和電阻R3連接至所述切換電路的第二輸出端；AD芯片的正相輸入端連接至所述電容C3和電阻Rl的串聯(lián)連接端；AD芯片的輸出端作為所述電阻測(cè)試電路的輸出端； 電阻Rl連接在1.25V電壓與所述AD芯片的正相輸入端之間；電阻R2和電阻R4依次串聯(lián)連接在1.25V電壓和地之間，所述電阻R2和所述電阻R4的串聯(lián)連接端與所述AD芯片的反相輸入端連接。
4.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試電路，其特征在于，所述光電隔離檢測(cè)電路包括:光電耦合器、電阻R6、電阻R7和電阻R8 ； 所述光電耦合器中二極管的陽(yáng)極通過(guò)電阻R6連接至所述切換電路的第一輸出端，所述光電耦合器中二極管的陰極接地； 所述電阻R7連接在二極管的陽(yáng)極與陰極之間； 所述光電耦合器中三極管的集電極連接+5V電壓，所述光電耦合器中三極管的發(fā)射極通過(guò)電阻R8接地，所述光電耦合器中三極管的發(fā)射極還作為所述光電隔離檢測(cè)電路的輸出端。
【文檔編號(hào)】G01R31/28GK203587694SQ201320723328
【公開(kāi)日】2014年5月7日 申請(qǐng)日期:2013年11月15日 優(yōu)先權(quán)日:2013年11月15日
【發(fā)明者】劉成強(qiáng), 屈汝祥, 胡喬朋, 張豪兵 申請(qǐng)人:湖北三江航天紅峰控制有限公司