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采用電性異常體提取技術(shù)在火山巖體分布區(qū)中勘測地質(zhì)體形態(tài)的方法
【專利摘要】一種采用電性異常體提取技術(shù)在火山巖體分布區(qū)中勘測地質(zhì)體形態(tài)的方法，它包括以下步驟在待勘測的火山巖體分布區(qū)中，采用大地電磁儀獲取若干實測點視電阻率曲線，構(gòu)成實測點分布特征剖面圖；確定測區(qū)內(nèi)的基底層和上覆層分布情況；計算各實測點的背景視電阻率曲線，將沿同一測線上各實測點的背景視電阻率曲線構(gòu)成背景視電阻率的數(shù)據(jù)體；從實測點視電阻率曲線中消除背景視電阻率的數(shù)據(jù)體，獲得剩余視電阻率分布特征剖面圖，從而得到待勘測的火山巖體分布區(qū)地質(zhì)體形態(tài)圖。本發(fā)明的方法已在準噶爾盆地東部的基底結(jié)構(gòu)研究中進行了應(yīng)用，首次采用電性異常體提取技術(shù)，在高阻石炭系地層中進行了中下石炭統(tǒng)的劃分，能夠有效克服區(qū)內(nèi)火山巖的干擾。
【專利說明】采用電性異常體提取技術(shù)在火山巖體分布區(qū)中勘測地質(zhì)體形態(tài)的方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及到大地電磁數(shù)據(jù)的一維半定量反演、定量反演、二維連續(xù)介質(zhì)反演、二維層狀介質(zhì)反演等常規(guī)技術(shù)，尤其是對反演結(jié)果中高電阻率異常體的信息提取的特殊技術(shù)，具體地說是一種采用電性異常體提取技術(shù)在火山巖體分布區(qū)中勘測地質(zhì)體形態(tài)的方法。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，在用大地電磁方法對準噶爾盆地東部基底結(jié)構(gòu)進行研究的過程中，遇到了區(qū)內(nèi)中上石炭統(tǒng)地層中火山巖體廣泛分布的難題，無論是地震資料，還是以往大地電磁層狀解釋模型都不能較好地刻劃地下實際的地質(zhì)體形態(tài)。而根據(jù)石油地質(zhì)研究，石炭系地層可分為以火山巖充填為主的中石炭統(tǒng)地層和以沉積巖為主的下石炭統(tǒng)烴源巖，中下石炭統(tǒng)地層本身就是較好的生儲配置。因此，為較好地揭示實際地質(zhì)體形態(tài)，就需要在傳統(tǒng)解釋思路基礎(chǔ)上，應(yīng)用特殊的解釋技術(shù)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的是針對某些地區(qū)石炭系地層上部有較大規(guī)模的火山巖體分布，例如:準噶爾盆地青格里底山區(qū)塊，那些火山巖體基本呈不規(guī)則形態(tài)分布，用普通的層狀介質(zhì)反演方法難以較好地提取火山巖體的問題，提出一種采用電性異常體提取技術(shù)在火山巖體分布區(qū)中勘測地質(zhì)體形態(tài)的方法。
[0004]本發(fā)明的技術(shù)方案是:
[0005]一種采用電性異常體提取技術(shù)在火山巖體分布區(qū)中勘測地質(zhì)體形態(tài)的方法，它包括以下步驟:
[0006](I)、在待勘測的火山巖體分布區(qū)中，采用大地電磁儀獲取若干實測點視電阻率曲線，將沿同一測線上各實測點的視電阻率曲線構(gòu)成實測點分布特征剖面圖；
[0007](2)、對各實測點的視電阻率曲線進行半定量計算，確定測區(qū)內(nèi)的基底層和上覆層分布情況；
[0008](3)、計算各實測點的背景視電阻率曲線，將沿同一測線上各實測點的背景視電阻率曲線構(gòu)成背景視電阻率的數(shù)據(jù)體；
[0009](4)、從實測點視電阻率曲線中消除背景視電阻率的數(shù)據(jù)體，獲得剩余視電阻率分布特征剖面圖，從而得到待勘測的火山巖體分布區(qū)地質(zhì)體形態(tài)圖。
[0010]本發(fā)明中，步驟(I)中實測點的區(qū)域范圍全面覆蓋并大于火山巖體的分布區(qū)，實測點的布設(shè)密度點距不大于1km，線距不大于3km。
[0011]本發(fā)明中，步驟(2)具體為:
[0012](a)、對各實測點的實測視電阻率曲線P 3進行積分求面積，計算前述面積的均值作為基底層電阻率Pb，單位Q -rn；[0013](b)、計算各實測點的表層電阻率作為相應(yīng)實測點的上覆層電阻率P。，所述實測點表層電阻率是對該實測點視電阻率曲線的前3-5個點求均值獲??；
[0014](C)、采用下述公式計算各實測點的總縱向電導(dǎo)S，
[0015]S = 520/^pmin-Znmi
[0016]其中:Pmin為該測點視電阻率曲線的極小值，fmin是該測點上視電阻率極小值對應(yīng)的觀測頻率f ;
[0017](d)、將沿同一測線上各實測點視電阻率曲線的首頻點連成一條曲線，進行平滑處理，得到區(qū)域靜校正曲線，對各實測視電阻率曲線進行靜校正處理；
[0018]采用BOSTICK反演方法對靜校正后的各實測點視電阻率曲線進行反演處理，得到與各視電阻率曲線對應(yīng)的電阻率隨地層深度分布的Pbtjs-D曲線，Pbtjs為反演得到的地層電阻率值，單位為Q ? m, D為對應(yīng)的深度,單位為m ；
[0019]對電阻率隨地層深度變化的各條分布曲線Pbtjs-D進行積分求面積，計算前述面積的均值作為基底以上巖層即上覆層的平均縱向電阻率Pt，單位Q ?!!!;
[0020](e)、計算基底埋深H即上覆層厚度:H=S P t，得到測區(qū)內(nèi)的基底層和上覆層分布情況:即上覆層厚度H，其余為基底層。
[0021]本發(fā)明中，步驟(a)和(b)之間還包括:將沿同一測線上各實測點的視電組率曲線的首頻點連成一條曲線，進行平滑處理，得到區(qū)域靜校正曲線，用平滑處理后的區(qū)域靜校正曲線上的數(shù)據(jù)對各實測點的視電阻率曲線進行靜校正處理，得到靜校正處理過的各視電阻率曲線。
[0022]本發(fā)明的步驟(C)中:`對于實測點的實測電阻率曲線表現(xiàn)為多層曲線時，當其右側(cè)即長周期一端上升時，用緊鄰上升段左側(cè)極小點處的fmin和P fflin代入公式來計算S值。
[0023]本發(fā)明的有益效果:
[0024]本發(fā)明的方法已在準噶爾盆地東部的基底結(jié)構(gòu)研究中進行了應(yīng)用，區(qū)內(nèi)石炭統(tǒng)地層中火山巖廣泛分布，以往地震資料刻劃能力有限，大地電磁層狀解釋模型也存在不足，無法克服區(qū)內(nèi)火山巖的干擾。應(yīng)用本發(fā)明，較好地刻劃了與火山巖有關(guān)的異常體的展布特征。在探測區(qū)內(nèi)首次成功解釋了不同尺度的火山巖體23個，為區(qū)內(nèi)的構(gòu)造勘探提供了可靠參考資料。
【具體實施方式】
[0025]下面結(jié)合實施例對本發(fā)明作進一步的說明。
[0026]為了提取同一剖面上不同構(gòu)造部位的相對電阻率差異，從而突出實際存在的電性異常體，首先拾取剖面的背景響應(yīng)，通過消除背景響應(yīng)，突出電性異常體的存在與否，進而再對可能存在的異常體的分布位置、大小、埋深及相關(guān)特性進行分析。
[0027]背景響應(yīng)根據(jù)每個實測點的數(shù)據(jù)來計算。計算出表層電阻率、宏觀電阻率和基底埋深后，即可構(gòu)制背景視電阻率響應(yīng)，從MT實測場中消除背景視電阻率響應(yīng)，獲得剩余視電阻率分布特征剖面，根據(jù)這一剖面判斷異常電性體的存在性。為了獲得與深度相關(guān)的異常體的分布特征，還必須向深度域進行轉(zhuǎn)化。對得到的結(jié)果進行微分求導(dǎo)，使得異常特征更具體清晰，突出電阻率的變化率。再結(jié)合層狀介質(zhì)的反演結(jié)果，構(gòu)制相應(yīng)的正演模型，計算異常特征體在深度域的校正量，用于校正因微分求導(dǎo)引起的異常體在深度方向上的偏移一即微分求導(dǎo)獲得的異常特征進行深度校正，從而得到能基本反映實際異常體深度分布的結(jié)果，再進行電性異常體解釋。
[0028]具體實施時:
[0029]一種采用電性異常體提取技術(shù)在火山巖體分布區(qū)中勘測地質(zhì)體形態(tài)的方法，它包括以下步驟:
[0030](I)、在待勘測的火山巖體分布區(qū)中，采用大地電磁儀獲取若干實測點視電阻率曲線，將沿同一測線上各實測點的視電阻率曲線構(gòu)成實測點分布特征剖面圖；實測點的區(qū)域范圍全面覆蓋并大于火山巖體的分布區(qū)，實測點的布設(shè)密度點距不大于1km，線距不大于3 km ；
[0031]將沿同一測線上各實測點的視電組率曲線的首頻點連成一條曲線，進行平滑處理，得到區(qū)域靜校正曲線，用平滑處理后的區(qū)域靜校正曲線上的數(shù)據(jù)對各實測點的視電阻率曲線進行靜校正處理，得到靜校正處理過的各視電阻率曲線；
[0032](2)、對各實測點的視電阻率曲線進行半定量計算，確定測區(qū)內(nèi)的基底層和上覆層分布情況；
[0033]具體包括:
[0034]a、對各實測點的實測視電阻率曲線P 3進行積分求面積，計算前述面積的均值作為基底層電阻率Pb，單位Ω.m；
[0035]b、計算各實測點的表層電阻率作為相應(yīng)實測點的上覆層電阻率P。，所述實測點表層電阻率是對該實測點視電阻率曲線的前3-5個點求均值獲?。?br> [0036]C、采用下述公式計算各實測點的總縱向電導(dǎo)S，
【權(quán)利要求】
1.一種采用電性異常體提取技術(shù)在火山巖體分布區(qū)中勘測地質(zhì)體形態(tài)的方法，其特征是它包括以下步驟: (1)、在待勘測的火山巖體分布區(qū)中，采用大地電磁儀獲取若干實測點視電阻率曲線，將沿同一測線上各實測點的視電阻率曲線構(gòu)成實測點分布特征剖面圖； (2)、對各實測點的視電阻率曲線進行半定量計算，確定測區(qū)內(nèi)的基底層和上覆層分布情況； (3)、計算各實測點的背景視電阻率曲線，將沿同一測線上各實測點的背景視電阻率曲線構(gòu)成背景視電阻率的數(shù)據(jù)體； (4)、從實測點視電阻率曲線中消除背景視電阻率的數(shù)據(jù)體，獲得剩余視電阻率分布特征剖面圖，從而得到待勘測的火山巖體分布區(qū)地質(zhì)體形態(tài)圖。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的采用電性異常體提取技術(shù)在火山巖體分布區(qū)中勘測地質(zhì)體形態(tài)的方法，其特征是步驟(1)中實測點的區(qū)域范圍全面覆蓋并大于火山巖體的分布區(qū)，實測點的布設(shè)密度點距不大于1km，線距不大于3km。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的采用電性異常體提取技術(shù)在火山巖體分布區(qū)中勘測地質(zhì)體形態(tài)的方法，其特征是步驟(2)具體為: (a)、對各實測點的實測視電阻率曲線P3進行積分求面積，計算前述面積的均值作為基底層電阻率Pb，單位Q -rn； (b)、計算各實 測點的表層電阻率作為相應(yīng)實測點的上覆層電阻率P。，所述實測點表層電阻率是對該實測點視電阻率曲線的前3-5個點求均值獲??； (C)、采用下述公式計算各實測點的總縱向電導(dǎo)S，
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的采用電性異常體提取技術(shù)在火山巖體分布區(qū)中勘測地質(zhì)體形態(tài)的方法，其特征是步驟(a)和(b)之間還包括:將沿同一測線上各實測點的視電組率曲線的首頻點連成一條曲線，進行平滑處理，得到區(qū)域靜校正曲線，用平滑處理后的區(qū)域靜校正曲線上的數(shù)據(jù)對各實測點的視電阻率曲線進行靜校正處理，得到靜校正處理過的各視電阻率曲線。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的采用電性異常體提取技術(shù)在火山巖體分布區(qū)中勘測地質(zhì)體形態(tài)的方法，其特征是步驟(C)中:對于實測點的實測電阻率曲線表現(xiàn)為多層曲線時，當其右側(cè)即長周期一端上升 時，用緊鄰上升段左側(cè)極小點處的f-和P _代入公式來計算S值。
【文檔編號】G01V3/38GK103760613SQ201410032071
【公開日】2014年4月30日 申請日期:2014年1月23日 優(yōu)先權(quán)日:2014年1月23日
【發(fā)明者】黃革, 顧錦才, 魏眾, 叢遠志, 尚兆林, 葉琪 申請人:中國石油化工集團公司, 中國石化集團華東石油局, 華東石油局第六物探大隊