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一種盆式絕緣子面狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種盆式絕緣子面狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊，所述的盆式絕緣子面狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊為由環(huán)氧樹脂和氧化鋁粉材料混合制成的三階梯塊狀結(jié)構(gòu)，從下至上三個階梯的上表面高度分別在25mm-35mm、55mm-65mm、85mm-95mm之間，每個階梯上表面均縱向平行設(shè)置有多個深度不同的線槽。本實用新型利用設(shè)置在階梯表面不同深度的線槽對射線吸收劑量的差異，通過觀察不同厚度的盆式絕緣子面狀缺陷在檢測部位距離成像板不同距離時的最小可檢出深度，確定不同深度裂紋的可檢出最大偏移角度，從而方便直觀地評判數(shù)字射線檢測系統(tǒng)面狀缺陷檢測靈敏度。
【專利說明】 一種盆式絕緣子面狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及一種盆式絕緣子面狀缺陷數(shù)字射線檢測設(shè)備，尤其涉及一種GIS盆式絕緣子面狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊。
【背景技術(shù)】
[0002]GIS中文全稱為金屬絕緣金屬封閉開關(guān)，是現(xiàn)代電網(wǎng)的核心部件。GIS部件由中心導(dǎo)體、操作件、殼體和盆式絕緣子組成，內(nèi)部空間填充六氟化硫絕緣氣體。盆式絕緣子采用復(fù)合材料，由環(huán)氧樹脂和氧化鋁粉機(jī)械混合攪拌后，在金屬模具內(nèi)真空澆鑄成型。盆式絕緣子為盆式結(jié)構(gòu)，上部中心鑲嵌圓柱狀中心導(dǎo)體，下盆沿突出部位為盆式絕緣子和GIS筒體連接部位。1000KV線路盆式絕緣子厚度一般60mm-90mm之間，盆高在300mm-400mm之間；500KV盆式絕緣子厚度一般在40mm-70mm之間，盆高在250mm-350mm之間；500KV以下盆式絕緣子厚度一般在25mm-40mm之間，盆高在200mm-300mm之間。盆式絕緣子由環(huán)氧樹脂和氧化鋁粉混合后真空澆鑄而成，主要缺陷為裂紋、氣孔、夾雜物、絕緣盆密度不均勻造成的應(yīng)力破壞以及中心柱狀導(dǎo)體和絕緣盆之間粘結(jié)不良，其中，裂紋、未熔合、夾層、粘結(jié)不良等缺陷屬于面狀缺陷。由于盆式絕緣子在運(yùn)行中需要承受氣體壓力、溫度變化產(chǎn)生的應(yīng)力以及機(jī)械操作產(chǎn)生的沖擊力，以上幾種缺陷都可能造成盆式絕緣子在運(yùn)行中放電擊穿，導(dǎo)致整條線路停運(yùn)。由于面狀缺陷具有較大的應(yīng)力集中系數(shù)，危害性大于點(diǎn)狀缺點(diǎn)和條狀夾雜物缺陷，面狀缺陷所形成的氣體間隙將會造成高壓放電，而放電產(chǎn)生的熱能將會引起盆式絕緣子碳化，導(dǎo)致設(shè)備整體絕緣失效，造成嚴(yán)重的生產(chǎn)事故。
[0003]為了避免由盆式絕緣子面狀缺陷引起的生產(chǎn)事故，在盆式絕緣子生產(chǎn)過程中，需要對盆式絕緣子的質(zhì)量進(jìn)行檢測。常用的盆式絕緣子質(zhì)量檢測方法為數(shù)字射線檢測法。在數(shù)字射線檢測法中，數(shù)字射線成像靈敏度評判參數(shù)有3個，分別為空間分辨力、像素和密度分辨力?？臻g分辨力是數(shù)字圖像中能夠辨認(rèn)的臨近區(qū)域幾何尺寸(微小細(xì)節(jié))的最小極限，也就是對影像細(xì)節(jié)的分辨能力。像素是平板探測器數(shù)字化成像中的最小單元。密度分辨力是圖像中可以辨認(rèn)出來圖像視場中相鄰區(qū)域密度(或灰度)差別的最小極限，即細(xì)微密度(灰度)差別的分辨能力。密度分辨力和空間分辨力是分辨力指標(biāo)的兩個方面，分辨力也叫解像力，是成像介質(zhì)成像時區(qū)分兩個相鄰區(qū)域影像或圖像的能力。這三方面共同影響了盆式絕緣子面狀缺陷數(shù)字射線檢測靈敏度。實際生產(chǎn)中，需要對盆式絕緣子面狀缺陷數(shù)字射線檢測靈敏度進(jìn)行測試，來驗證數(shù)字射線檢測系統(tǒng)面狀缺陷檢測的可靠性。
實用新型內(nèi)容
[0004]本實用新型的目的是提供一種盆式絕緣子面狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊，能夠測試盆式絕緣子不同厚度的面狀缺陷在檢測部位距離成像板不同距離時的最小可檢出孔徑，可以方便直觀地評判數(shù)字射線檢測系統(tǒng)面狀缺陷檢測靈敏度。
[0005]本實用新型采用下述技術(shù)方案:
[0006]一種盆式絕緣子面狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊，所述的盆式絕緣子面狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊為由氧化鋁一環(huán)氧樹脂材料制成的三階梯塊狀結(jié)構(gòu)，從下至上三個階梯的上表面高度分別在25mm-35mm、55mm-65mm、85mm-95mm之間，每個階梯上表面均縱向平行設(shè)置有多個深度不同的線槽。
[0007]所述的線槽長度為20mm，相鄰兩個線槽的間距為10mm。
[0008]所述每個階梯上表面均設(shè)置有6個線槽，每個線槽開口寬度為0.3mm, 6個線槽的深度分別為 0.2mm、0.5mm、0.7mm、1mm、2mm、3mm。
[0009]所述的從下至上三個階梯的上表面高度分別為30mm、60mm和90mm。
[0010]所述的三個階梯的寬度均為40mm，長度均為100mm。
[0011]所述的每個線槽邊沿2mm處，粘貼鉛字標(biāo)識數(shù)字。
[0012]本實用新型利用設(shè)置在階梯表面不同深度的線槽對射線吸收劑量的差異，通過觀察不同厚度的盆式絕緣子面狀缺陷在檢測部位距離成像板不同距離時的最小可檢出深度，確定不同深度裂紋的可檢出最大偏移角度，從而方便直觀地評判數(shù)字射線檢測系統(tǒng)面狀缺陷檢測靈敏度。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0013]圖1為本實用新型所述盆式絕緣子面狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊的結(jié)構(gòu)示意圖?！揪唧w實施方式】
[0014]如圖1所示，本實用新型所述盆式絕緣子面狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊為由氧化鋁一環(huán)氧樹脂材料制成的三階梯塊狀結(jié)構(gòu)，氧化鋁一環(huán)氧樹脂材料由環(huán)氧樹脂和氧化鋁粉材料混合制成，屬于本領(lǐng)域的已知材料。三個階梯的寬度均為40mm,長度均為100mm,從下至上三個階梯的上表面高度分別在25mm-35mm、55mm-65mm、85mm-95mm之間，每個階梯上表面均均縱向平行設(shè)置有多個深度不同的長度為20_的線槽I ;每個線槽邊沿2_處粘貼有鉛字標(biāo)識數(shù)字，相鄰兩個線槽I的間距為10mm。本實施例中，均設(shè)置有6個線槽1，每個線槽I開口寬度為0.3謹(jǐn),6個線槽I的深度分別為0.2謹(jǐn)、0.5謹(jǐn)、0.7謹(jǐn)、I謹(jǐn)、2謹(jǐn)、3謹(jǐn),從下至上三個階梯的上表面高度分別為30mm、60mm和90mm。
[0015]在進(jìn)行數(shù)字射線檢測中，數(shù)字射線成像靈敏度評判參數(shù)有3個，分別是空間分辨力、像素、密度分辨力。面狀缺陷靠近成像板時，其密度分辨率越好，但空間分辨率越差；反之，當(dāng)面狀缺陷遠(yuǎn)離成像板時，其空間分辨率越好，但密度分辨率越差。所以，存在一個恰當(dāng)?shù)木嚯x，在這個距離上空間分辨率和密度分辨率都可以接受，并使數(shù)字射線靈敏度達(dá)到最佳，這個距離就是數(shù)字射線透照中的最佳距離。通過盆式絕緣子面狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊，加裝不同距離的支撐，可以測試面狀缺陷距離成像板不同距離時的成像靈敏度，從而確定最佳距離。
[0016]當(dāng)數(shù)字射線透照方向與面狀缺陷平行時，缺陷的檢出概率最大。當(dāng)數(shù)字射線與面狀缺陷成一定角度時，隨著角度增大，面狀缺陷的檢出率下降，這個角度也稱為裂紋檢出角。一般認(rèn)為，裂紋檢出角不應(yīng)大于11°，而根據(jù)檢測系統(tǒng)的不同，這個角度也在改變。在使用本實用新型所述盆式絕緣子面狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊進(jìn)行盆式絕緣子面狀缺陷數(shù)字射線靈敏度檢測時，將射線束垂直穿過試塊，然后通過成像裝置接收射線形成圖像，不同深度的線槽I對射線吸收劑量的差異，通過觀察不同厚度的盆式絕緣子面狀缺陷在檢測部位距離成像板不同距離時的最小可檢出線槽I深度，確定檢測系統(tǒng)可檢出的最小面狀缺陷，從而方便直觀地評判數(shù)字射線檢測系統(tǒng)面狀缺陷檢測靈敏度。
【權(quán)利要求】
1.一種盆式絕緣子面狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊，其特征在于:所述的盆式絕緣子面狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊為由氧化鋁一環(huán)氧樹脂材料制成的三階梯塊狀結(jié)構(gòu)，從下至上三個階梯的上表面高度分別在25mm-35mm、55mm-65mm、85mm-95mm之間，每個階梯上表面均縱向平行設(shè)置有多個深度不同的線槽。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的盆式絕緣子面狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊，其特征在于:所述的線槽長度為20mm，相鄰兩個線槽的間距為10mm。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的盆式絕緣子面狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊，其特征在于:所述每個階梯上表面均設(shè)置有6個線槽，每個線槽開口寬度為0.3mm, 6個線槽的深度分別為0.2mm>0.5mm>0.7mm、lmm、2mm、3mm0
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的盆式絕緣子面狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊，其特征在于:所述的從下至上三個階梯的上表面高度分別為30mm、60mm和90mm。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的盆式絕緣子面狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊，其特征在于:所述的三個階梯的寬度均為40mm，長度均為100mm。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的盆式絕緣子面狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊，其特征在于:所述的每個線槽邊沿2mm處，粘貼鉛字標(biāo)識數(shù)字。
【文檔編號】G01N23/06GK203572784SQ201320499147
【公開日】2014年4月30日 申請日期:2013年8月15日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月15日
【發(fā)明者】王朝華, 楊旭, 蔡紅生, 汪毅, 李世濤, 耿進(jìn)鋒, 胡峰濤, 劉文生 申請人:國家電網(wǎng)公司, 河南省電力公司電力科學(xué)研究院