一種tdi紅外掃描成像調試裝置制造方法
【專利摘要】本實用新型涉及一種成像調試裝置，具體涉及一種用于TDI長波紅外焦平面陣列掃描成像的調試裝置。一種TDI紅外掃描成像調試裝置，包含掃描機構、鏡頭和探測器裝置，其中掃描機構位于TDI紅外掃描成像調試裝置的最前端，用于掃描信號，在掃描機構后面設置鏡頭，鏡頭的后面設置探測器裝置。本新型的有益效果是：本申請的調試裝置完成了基于對TDI長波紅外探測器的成像調試，裝置簡易、方便調試，并經過試驗驗證，可將探測器裝置部分的技術移值于到產品的設計當中，加快了設計的進度，保證了產品設計的可靠性。同時該裝置的設計可用于幾種TDI長波紅外焦平面探測及其成像電路，拓寬了其使用范圍。
【專利說明】一種TDI紅外掃描成像調試裝置
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種成像調試裝置，具體涉及一種用于TDI長波紅外焦平面陣列掃描成像的調試裝置。
【背景技術】
[0002]TDI長波紅外焦平面陣列一般用于高分辨率紅外成像，該類型探測器鑒于其特點多數(shù)在系統(tǒng)集成裝配后才能開展深入的調試工作，而且若想成清晰的圖像需要距離景物幾百米或者更遠，系統(tǒng)體積重量大調試工作比較麻煩，不方便電路及探測器的調試工作，不利于早期發(fā)現(xiàn)電路或者是探測器的使用問題，也不利于深入掌握紅外TDI線陣探測器的特點，以便更好的發(fā)揮探測器的優(yōu)勢得到更為理想的圖像。為滿足初期對成像電路各功能的調試及對探測器各指標的深刻理解，研制一適合多款TDI紅外焦平面陣列的調試裝置，在室內即可完成對電路及探測器的功能及性能的調測試。
【發(fā)明內容】
[0003]本實用新型的目的在于提供一種TDI長波紅外焦平面探測器成像調試裝置
[0004]本新型是這樣實現(xiàn)的:一種TDI紅外掃描成像調試裝置，包含掃描機構、鏡頭和探測器裝置，其中掃描機構位于TDI紅外掃描成像調試裝置的最前端，用于掃描信號，在掃描機構后面設置鏡頭，鏡頭的后面設置探測器裝置。
[0005]如上所述的一種TDI紅外掃描成像調試裝置，其中，掃描機構主要包含電機和擺鏡，其中擺鏡用于與電機連接，并受電機控制擺動。
[0006]如上所述的一種TDI紅外掃描成像調試裝置，其中，探測器裝置的電路部分含前端探測器、和成像電路，成像電路設置在前端探測器后部，成像電路用于控制前端探測器的探測，并接收前端探測器的探測信號。
[0007]如上所述的一種TDI紅外掃描成像調試裝置，其中，所述的成像電路包括兩路驅動電路和預處理電路，其中兩路驅動電路分別對應奇信號和偶信號，驅動電路用于驅動前端探測器。
[0008]如上所述的一種TDI紅外掃描成像調試裝置，其中，所述的預處理電路包括用于接收外部信號的信號調理，信號調理處理過的信號被發(fā)送給AD轉換，AD轉換的輸出信號被發(fā)送給外部的掃描控制電路，AD轉換的輸出信號還被發(fā)送給信號預處理模塊，信號預處理模塊將處理后的信號通過接口芯片發(fā)送給外部的紅外測試設備。
[0009]如上所述的一種TDI紅外掃描成像調試裝置，其中，所述的接口芯片包括LVDS接口芯片和RS422接口芯片。
[0010]本新型的有益效果是:本申請的調試裝置完成了基于對TDI長波紅外探測器的成像調試，裝置簡易、方便調試，并經過試驗驗證，可將探測器裝置部分的技術移值于到產品的設計當中，加快了設計的進度，保證了產品設計的可靠性。同時該裝置的設計可用于幾種TDI長波紅外焦平面探測及其成像電路，拓寬了其使用范圍?！緦＠綀D】
【附圖說明】
[0011]圖1為紅外掃描成像調試裝置示意圖；
[0012]圖2為紅外掃描成像系統(tǒng)調試裝置詳細組成框圖；
[0013]圖3為紅外掃描成像調試裝置UG圖(需修改為黑白線條圖)。
[0014]圖中:1.掃描機構、2.鏡頭、3.探測器裝置。
【具體實施方式】
[0015]如圖1所示，一種TDI紅外掃描成像調試裝置，包含掃描機構1、鏡頭2和探測器裝置3,其中掃描機構I位于TDI紅外掃描成像調試裝置的最前端,用于掃描信號,在掃描機構I后面設置鏡頭2，鏡頭2的后面設置探測器裝置3。
[0016]如附圖2所示，掃描機構I主要包含電機和擺鏡，其中擺鏡用于與電機連接，并受電機控制擺動。通過擺鏡的擺動完成對一定視場內目標的掃描，可通過測試設備對其速度進行控制已滿足匹配成像的要求，該裝置中掃描擺角可達到±15° ;鏡頭采用二次成像的方式將景物成像在探測器焦平面上，鏡頭的設計可滿足物距Im到Ikm左右的成像要求。如附圖2所示，探測器3裝置的電路部分含前端探測器、和成像電路，成像電路設置在前端探測器后部，成像電路用于控制前端探測器的探測，并接收前端探測器的探測信號。
[0017]所述的成像電路包括兩路驅動電路和預處理電路，其中兩路驅動電路分別對應奇信號和偶信號，驅動電路用于驅動前端探測器。
[0018]所述的預處理電路包括用于接收外部信號的信號調理，信號調理處理過的信號被發(fā)送給AD轉換，AD轉換的輸出信號被發(fā)送給外部的掃描控制電路，AD轉換的輸出信號還被發(fā)送給信號預處理模塊，信號預處理模塊將處理后的信號通過接口芯片發(fā)送給外部的紅外測試設備。
[0019]所述的接口芯片包括LVDS接口芯片和RS422接口芯片。
[0020]成像電路完成提供給探測器相應的偏壓和時序，對探測器輸出信號進行阻抗匹配及放大，對探測器多通道信號的采集及預處理，預處理包含奇偶合成排序、非均勻性校正及增益控制等，
[0021]探測器3還包括與外部安裝環(huán)境相適應的安裝支架，安裝支完成了該類型探測器(分立式斯特林制冷機)的支撐并且具備調焦功能，同時考慮到電路的復雜性，將幾種電路集成在支架上，方便了調試。
[0022]圖3是該裝置的UG圖。該實用新型紅外掃描成像調試裝置經過了試驗的驗證，滿足在成像電路及探測器初期的成像調試問題，取得了很好的效果，為產品的設計提供了基礎，并能將其中探測器及其電路部分直接應用到產品設計中。
[0023]本新型裝置的使用過程大致如下:采用擺鏡掃描的方式，將鏡頭的圖像依次掃描到探測器的焦平面上，通過對掃描機構的同步控制，保證TDI紅外探測器的駐留積分時間、信號讀出速率與系統(tǒng)掃描速率匹配，通過掃描覆蓋橫向視場，圖像信號經過探測器裝置成像電路預處理后傳輸給測試設備。
【權利要求】
1.一種TDI紅外掃描成像調試裝置，其特征在于:包含掃描機構(I)、鏡頭(2)和探測器裝置(3)，其中掃描機構(I)位于TDI紅外掃描成像調試裝置的最前端，用于掃描信號，在掃描機構(I)后面設置鏡頭(2)，鏡頭(2)的后面設置探測器裝置(3)。
2.如權利要求1所述的一種TDI紅外掃描成像調試裝置，其特征在于:掃描機構(I)主要包含電機和擺鏡，其中擺鏡用于與電機連接，并受電機控制擺動。
3.如權利要求2所述的一種TDI紅外掃描成像調試裝置，其特征在于:探測器裝置(3)的電路部分含前端探測器、和成像電路，成像電路設置在前端探測器后部，成像電路用于控制前端探測器的探測，并接收前端探測器的探測信號。
4.如權利要求3所述的一種TDI紅外掃描成像調試裝置，其特征在于:所述的成像電路包括兩路驅動電路和預處理電路，其中兩路驅動電路分別對應奇信號和偶信號，驅動電路用于驅動前端探測器。
5.如權利要求4所述的一種TDI紅外掃描成像調試裝置，其特征在于:所述的預處理電路包括用于接收外部信號的信號調理，信號調理處理過的信號被發(fā)送給AD轉換，AD轉換的輸出信號被發(fā)送給外部的掃描控制電路，AD轉換的輸出信號還被發(fā)送給信號預處理模塊，信號預處理模塊將處理后的信號通過接口芯片發(fā)送給外部的紅外測試設備。
6.如權利要求5所述的一種TDI紅外掃描成像調試裝置，其特征在于:所述的接口芯片包括LVDS接口芯片和RS422接口芯片。
【文檔編號】G01J5/02GK203587223SQ201320347760
【公開日】2014年5月7日 申請日期:2013年6月17日 優(yōu)先權日:2013年6月17日
【發(fā)明者】沈玉秀, 殷國平, 牟健, 范海清, 陶玉, 梁爽 申請人:中國航天科工集團第三研究院第八三五八研究所
專業(yè)數(shù)控銑床產品供應商
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