時(shí)域反射儀去嵌入探頭的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及時(shí)域反射儀去嵌入探頭。去嵌入探頭包括被配置為連接到測(cè)試下裝置的輸入、存儲(chǔ)器、連接到該輸入的信號(hào)發(fā)生器，該信號(hào)發(fā)生器被配置為生成測(cè)試信號(hào)，以及控制器，其被連接到信號(hào)發(fā)生器并被配置為控制該信號(hào)發(fā)生器。去嵌入探頭可以被用在測(cè)試和測(cè)量系統(tǒng)中。該測(cè)試和測(cè)量系統(tǒng)還包括測(cè)試和測(cè)量?jī)x器，其包括連接到去嵌入探頭的控制器的處理器和測(cè)試和測(cè)量輸入，該處理器被配置為提供指令給控制器，以及該測(cè)試和測(cè)量輸入接收來(lái)自去嵌入探頭的輸出。
【專利說(shuō)明】時(shí)域反射儀去嵌入探頭
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]所公開的技術(shù)一般涉及信號(hào)采集系統(tǒng)，并且更特別地，涉及一種具有內(nèi)部信號(hào)發(fā)生器的去嵌入(de-embed)探頭，用于減少由于測(cè)試下裝置的探頭尖端加載而引起的測(cè)量誤差。
【背景技術(shù)】
[0002]如編號(hào)7460983的題為“信號(hào)分析系統(tǒng)和校準(zhǔn)方法”的美國(guó)專利、編號(hào)7414411的題為“用于多信號(hào)探頭的信號(hào)分析系統(tǒng)及校準(zhǔn)方法”的美國(guó)專利、編號(hào)7408363的題為“用于利用任意負(fù)載處理采集信號(hào)采樣的信號(hào)分析系統(tǒng)及校準(zhǔn)方法”的美國(guó)專利以及編號(hào)7405575的題為“用于測(cè)量測(cè)試下裝置的阻抗的信號(hào)分析系統(tǒng)及校準(zhǔn)方法”的美國(guó)專利中所述的去嵌入探頭，將其中的每一個(gè)通過(guò)引用全部并入本文中，這些去嵌入探頭使用探頭內(nèi)部的跨越探頭尖端的切換負(fù)載來(lái)進(jìn)行測(cè)量。在制造時(shí)間測(cè)量去嵌入探頭的S參數(shù)，并且將其存儲(chǔ)在探頭內(nèi)部的S參數(shù)存儲(chǔ)器中。然后用戶將探頭連接到測(cè)試下裝置，并按下校準(zhǔn)按鈕。該范圍取得兩個(gè)或三個(gè)被平均的采集，每一個(gè)具有跨越探頭尖端切換的不同去嵌入負(fù)載。
[0003]在采集之后，示波器可以將測(cè)試下裝置的阻抗作為頻率的函數(shù)進(jìn)行計(jì)算，并且還在測(cè)試下裝置處提供波形的完全去嵌入視圖，如同探頭和示波器從未被連接一樣。這也可以通過(guò)將以上所討論的方法結(jié)合到矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀中來(lái)完成，該矢量網(wǎng)絡(luò)分析器將兩個(gè)去嵌入探頭固定設(shè)備與信號(hào)源和裝置一起使用以操作為使用兩個(gè)去嵌入探頭的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，如編號(hào)14/267,697的、標(biāo)題為“使用去嵌入探頭的雙端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀”的美國(guó)專利申請(qǐng)中所討論的那樣，其通過(guò)引用全部并入本文中。
[0004]源阻抗，作為被探測(cè)時(shí)域信號(hào)的頻率的函數(shù)，可以由具有各種負(fù)載部件的去嵌入探頭來(lái)確定，例如編號(hào)為14/261,834的、題為切換負(fù)載時(shí)域反射儀去嵌入探頭的美國(guó)專利申請(qǐng)中所描述的去嵌入探頭，其通過(guò)引用全部并入本文中。通過(guò)在去嵌入探頭內(nèi)的已知的負(fù)載條件下觀察測(cè)試下裝置的信號(hào)來(lái)確定源阻抗。
[0005]編號(hào)14/267,697的、標(biāo)題為使用去嵌入探頭的雙端口系統(tǒng)網(wǎng)絡(luò)分析的美國(guó)專利申請(qǐng)，討論了如何從具有外部信號(hào)發(fā)生器和兩個(gè)去嵌入探頭的測(cè)試下裝置確定S參數(shù)。
[0006]然而，所有這些切換負(fù)載去嵌入方法需要來(lái)自測(cè)試下裝置(DUT)或外部信號(hào)發(fā)生器的測(cè)試信號(hào)來(lái)以可重復(fù)的方式激勵(lì)系統(tǒng)跨越所有感興趣的頻率。在某些情況下，DUT信號(hào)可能沒(méi)有合適的頻率內(nèi)容或者是可重復(fù)的，或者用戶可能希望測(cè)量處于靜止?fàn)顟B(tài)下的DUT阻抗。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0007]所需要的是具有內(nèi)部信號(hào)發(fā)生器的去嵌入探頭，而沒(méi)有所需要的任何切換負(fù)載部件。所公開的技術(shù)的某些實(shí)施例包括一種去嵌入探頭，其包括被配置為連接到測(cè)試下裝置的兩個(gè)輸入、存儲(chǔ)器、連接到該兩個(gè)輸入的信號(hào)發(fā)生器，該信號(hào)發(fā)生器被配置為生成測(cè)試信號(hào)，以及控制器，其被連接到該信號(hào)發(fā)生器并被配置為控制該信號(hào)發(fā)生器。
[0008]所公開技術(shù)的某些實(shí)施例還包括在測(cè)試和測(cè)量系統(tǒng)內(nèi)使用以上描述的去嵌入探頭。該測(cè)試和測(cè)量系統(tǒng)還包括測(cè)試和測(cè)量?jī)x器，該測(cè)試和測(cè)量?jī)x器包括連接到去嵌入探頭的控制器的處理器以及測(cè)試和測(cè)量輸入，該處理器被配置為提供指令給控制器，以及該測(cè)試和測(cè)量輸入用以接收來(lái)自去嵌入探頭的輸出。
[0009]所公開技術(shù)的某些其他特定實(shí)施例包括一種用于在活動(dòng)的測(cè)試下裝置內(nèi)執(zhí)行測(cè)試信號(hào)的電壓測(cè)量的方法。該方法包括將測(cè)試信號(hào)注入到測(cè)試下裝置的節(jié)點(diǎn)中，以及將與測(cè)試下裝置的信號(hào)有關(guān)的第一電壓測(cè)量從與測(cè)試信號(hào)有關(guān)的第二電壓測(cè)量分離。
【專利附圖】
【附圖說(shuō)明】
[0010]圖1圖示了所公開技術(shù)的去嵌入探頭的框圖。
[0011]圖2圖示了使用圖1的去嵌入探頭的測(cè)試和測(cè)量系統(tǒng)。
[0012]圖3-5圖示了根據(jù)所公開技術(shù)的其他實(shí)施例的去嵌入探頭的框圖。
【具體實(shí)施方式】
[0013]在不一定按比例繪制的附圖中，所公開的系統(tǒng)和方法的相同或相應(yīng)的元素由相同的附圖標(biāo)記來(lái)表示。
[0014]所公開的技術(shù)包括具有位于探頭內(nèi)的信號(hào)發(fā)生器102的去嵌入探頭100。不同于編號(hào)14/261，834，標(biāo)題為切換負(fù)載時(shí)域反射儀去嵌入探頭的美國(guó)申請(qǐng)，該去嵌入探頭只包含信號(hào)發(fā)生器，并且不包含任何切換負(fù)載。去嵌入探頭100可以是具有標(biāo)準(zhǔn)探頭尖端的標(biāo)準(zhǔn)探頭。去嵌入探頭100也可以被實(shí)現(xiàn)為插入式(plug-1n)模塊。去嵌入探頭可以與任何數(shù)目的輸入連接一起使用，例如但不限于焊入式(solder-1n)探頭尖端。
[0015]去嵌入探頭100包括連接到輸出118的放大器104，以及在去嵌入探頭中發(fā)現(xiàn)的典型電路，并如上述專利申請(qǐng)中所討論的那樣。典型電路未在圖1中被示出。
[0016]去嵌入探頭100還包括存儲(chǔ)器部件108。存儲(chǔ)器部件108存儲(chǔ)將與測(cè)試和測(cè)量?jī)x器共享的探頭100的所測(cè)量的S參數(shù)，使得可以提供波形的去嵌入視圖。存儲(chǔ)器部件108還可以存儲(chǔ)探頭已經(jīng)結(jié)合的典型功能。此外，存儲(chǔ)器部件108不限于單一部件。存儲(chǔ)器部件108可以由多個(gè)存儲(chǔ)器部件組成。
[0017]如上所提及的，去嵌入探頭100還包括信號(hào)發(fā)生器102。信號(hào)發(fā)生器102由控制器110所控制，該控制器110與如圖2中所示的測(cè)試和測(cè)量?jī)x器200的處理器204進(jìn)行通信。信號(hào)發(fā)生器102可以是如傳統(tǒng)上用于TDR的階梯信號(hào)發(fā)生器、脈沖發(fā)生器、掃頻正弦波發(fā)生器或?qū)挷ǘ晤l率內(nèi)容的另一個(gè)源。信號(hào)發(fā)生器102優(yōu)選地與放大器104相集成，以便維持去嵌入探頭的小尺寸。
[0018]去嵌入探頭100可以被用于探測(cè)測(cè)試下裝置202的活動(dòng)節(jié)點(diǎn)和靜態(tài)節(jié)點(diǎn)兩者以提供必要的測(cè)量。期望的是能夠在節(jié)點(diǎn)活動(dòng)時(shí)測(cè)量測(cè)試下裝置202的源阻抗，因?yàn)楫?dāng)從阻抗測(cè)量切換到去嵌入電壓測(cè)量模式時(shí)，將測(cè)試下裝置202從靜態(tài)切換到活動(dòng)操作往往是不方便的，乃至是不可能的。此外，源阻抗可能在靜態(tài)和活動(dòng)操作之間改變。
[0019]為了能夠在測(cè)試下裝置202的活動(dòng)節(jié)點(diǎn)上實(shí)現(xiàn)測(cè)量，由于來(lái)自測(cè)試下裝置202的信號(hào)的注入電流，如圖2中所示的測(cè)試和測(cè)量?jī)x器200的處理器204能夠分離去嵌入探頭100的輸入114和116或尖端處的電壓信號(hào)。
[0020]如圖2中所看出的，測(cè)試和測(cè)量?jī)x器200還包括數(shù)字化器208。來(lái)自探頭100的輸出一般為模擬信號(hào)。該模擬信號(hào)由數(shù)字化器208所數(shù)字化，使得處理器204可以作用于該信號(hào)。
[0021]所公開技術(shù)的一些實(shí)施例中，用于將來(lái)自信號(hào)發(fā)生器102的注入測(cè)試信號(hào)針對(duì)來(lái)自測(cè)試下裝置202的信號(hào)進(jìn)行區(qū)分的一種技術(shù)是相比于來(lái)自測(cè)試下裝置202的信號(hào)在隨機(jī)的時(shí)間注入測(cè)試信號(hào)。測(cè)試和測(cè)量?jī)x器200可以對(duì)來(lái)自信號(hào)發(fā)生器102的注入信號(hào)進(jìn)行觸發(fā)。這些采集然后可以被平均。平均該采集將使得來(lái)自測(cè)試下裝置202的信號(hào)的平均朝向零進(jìn)行平均。由此，僅來(lái)自出自該信號(hào)發(fā)生器102的注入測(cè)試信號(hào)的電壓測(cè)量可以通過(guò)對(duì)來(lái)自測(cè)試下裝置202的信號(hào)的電壓測(cè)量達(dá)成平均數(shù)來(lái)確定。
[0022]在所公開的技術(shù)的其他實(shí)施例中，通過(guò)在相對(duì)于來(lái)自測(cè)試下裝置202的重復(fù)信號(hào)的觸發(fā)點(diǎn)所固定的時(shí)間注入來(lái)自信號(hào)發(fā)生器102的測(cè)試信號(hào)，來(lái)自信號(hào)發(fā)生器102的注入測(cè)試信號(hào)可以與來(lái)自測(cè)試下裝置202的信號(hào)分離。然后，可以在測(cè)試信號(hào)存在和測(cè)試信號(hào)不存在的情況下進(jìn)行采集。該信號(hào)發(fā)生器102由控制器110控制。控制器110通過(guò)通信鏈路120從測(cè)試和測(cè)量?jī)x器200中的處理器204接收指令。然后采集可以彼此相減以將由于來(lái)自信號(hào)發(fā)生器102的注入信號(hào)而引起的探頭尖端處的電壓測(cè)量和來(lái)自測(cè)試下裝置202的信號(hào)的電壓測(cè)量分離。然而，仍可能需要某些平均來(lái)降低位于采集內(nèi)的隨機(jī)噪聲。
[0023]控制器110還可以控制來(lái)自信號(hào)發(fā)生器102的測(cè)試信號(hào)是被輸入到輸入114還是輸入116。取決于必要的期望采集，信號(hào)發(fā)生器可以被輸入到二者。來(lái)自信號(hào)發(fā)生器102的不同測(cè)試信號(hào)可以被發(fā)送到輸入114和輸入116。例如，輸入116可以接收測(cè)試信號(hào)，該測(cè)試信號(hào)是發(fā)送給輸入114的測(cè)試信號(hào)的逆。在一些實(shí)施例中，多個(gè)信號(hào)發(fā)生器(未示出)可以被用來(lái)生成用于輸入114和116的不同測(cè)試信號(hào)。例如，當(dāng)使用多個(gè)信號(hào)發(fā)生器時(shí)，一個(gè)信號(hào)發(fā)生器被連接到輸入114，而一個(gè)信號(hào)發(fā)生器被連接到輸入116。每個(gè)信號(hào)發(fā)生器發(fā)送測(cè)試信號(hào)給每個(gè)輸入。
[0024]此外，為了避免與測(cè)試下裝置202的正常操作相干擾，當(dāng)測(cè)量測(cè)試下裝置202的活動(dòng)節(jié)點(diǎn)時(shí)，來(lái)自信號(hào)發(fā)生器102的測(cè)試信號(hào)的注入電流相比于測(cè)試下裝置202的節(jié)點(diǎn)中的信號(hào)的電流必須是小的。然而，所注入的電流也不能過(guò)小。如果測(cè)試信號(hào)的注入電流相比于測(cè)試下裝置202的信號(hào)電流過(guò)小，則阻抗測(cè)量的精度被降低和/或可能增加測(cè)量時(shí)間。
[0025]來(lái)自信號(hào)發(fā)生器的注入信號(hào)的幅度是可編程的，使得其可以被修整為來(lái)自測(cè)試下裝置202的信號(hào)的大小。即，注入信號(hào)幅度是來(lái)自測(cè)試下裝置的信號(hào)的百分比。然而，如果在沒(méi)有DUT信號(hào)的情況下探測(cè)靜態(tài)節(jié)點(diǎn)，則不能使用DUT信號(hào)的百分比。在該情況下，可以使用如果節(jié)點(diǎn)是活動(dòng)的情況下將會(huì)存在的DUT信號(hào)的百分比。此外，測(cè)試和測(cè)量?jī)x器200可以基于測(cè)試下裝置202的測(cè)量信號(hào)的幅度來(lái)自動(dòng)確定來(lái)自信號(hào)發(fā)生器102的測(cè)試信號(hào)的幅度。
[0026]也就是說(shuō)，測(cè)試和測(cè)量?jī)x器的用戶可以將注入信號(hào)的期望幅度輸入到測(cè)試和測(cè)量?jī)x器200的用戶接口 206中，或者測(cè)試和測(cè)量?jī)x器200可以自動(dòng)選擇注入信號(hào)的期望幅度。用戶接口 206與處理器204進(jìn)行通信，并且將所期望的幅度通過(guò)通信鏈路120從處理器204發(fā)送到去嵌入探頭100的控制器110。
[0027]去嵌入探頭100的校準(zhǔn)仍然需要去嵌入探頭100的負(fù)載阻抗的測(cè)量，并將測(cè)量存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器部件108中。此外，如果當(dāng)注入被關(guān)閉時(shí)負(fù)載阻抗發(fā)生變化，則其也可以被測(cè)量并被存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器部件108中。去嵌入探頭100的通過(guò)響應(yīng)(through-response)也需要被測(cè)量并被存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器部件108中。
[0028]此外，被注入到測(cè)試下裝置202的節(jié)點(diǎn)中的測(cè)試信號(hào)也將需要被測(cè)量并被存儲(chǔ)。這可以經(jīng)由具有已知負(fù)載(例如開放式探頭尖端浮置)的去嵌入探頭100通過(guò)采集來(lái)自信號(hào)發(fā)生器102的注入測(cè)試信號(hào)來(lái)實(shí)現(xiàn)。頻域中的采集信號(hào)將是注入測(cè)試信號(hào)電流、探頭負(fù)載阻抗和探頭通過(guò)響應(yīng)的乘積。
[0029]然而，去嵌入探頭100并不限于如圖1中所示的三端口去嵌入探頭。去嵌入探頭還可以是如圖3中所示的四端口去嵌入探頭300。四端口去嵌入探頭300類似于三端口去嵌入探頭100，除了兩個(gè)輸出302和304具備放大器306和308。此外，去嵌入探頭也可以是單端的去嵌入探頭400，其具有單個(gè)輸入402和單個(gè)輸出404，如圖4中所示。
[0030]此外，來(lái)自信號(hào)發(fā)生器102的測(cè)試信號(hào)并不需要被直接提供給探頭輸入114和116。例如，測(cè)試信號(hào)可以在被發(fā)送給去嵌入探頭500的輸入114之前，被輸入到如圖5中所見(jiàn)的衰減器502。
[0031]去嵌入探頭100、300、400和500可以被用來(lái)采集各種測(cè)量，這些測(cè)量可以通過(guò)輸出118傳送給測(cè)試和測(cè)量?jī)x器的處理器202。例如，通過(guò)使用所公開的技術(shù)，可以確定節(jié)點(diǎn)源阻抗、如果未加載的情況下的來(lái)自測(cè)試下裝置202的信號(hào)電壓、如果在一些特定負(fù)載的情況下的來(lái)自測(cè)試下裝置202的信號(hào)電壓、以及從當(dāng)前節(jié)點(diǎn)上的信號(hào)到另一被探測(cè)節(jié)點(diǎn)的傳輸增益。在探測(cè)該測(cè)試下裝置202時(shí)，在頻域中的所采集的測(cè)試信號(hào)是注入測(cè)試信號(hào)電流、測(cè)試下裝置202與探頭負(fù)載阻抗的并聯(lián)組合、以及探頭通過(guò)響應(yīng)的乘積。對(duì)測(cè)試下裝置202的阻抗進(jìn)行求解慮及了驅(qū)動(dòng)探頭負(fù)載阻抗的測(cè)試下裝置202阻抗的分壓器效應(yīng)的確定。將該分壓器比率劃分成所采集的測(cè)試下裝置202信號(hào)提供了測(cè)試下裝置202信號(hào)的未加載視圖。測(cè)試下裝置202從一個(gè)節(jié)點(diǎn)到另一個(gè)節(jié)點(diǎn)的傳輸增益是第二節(jié)點(diǎn)的所計(jì)算的未加載測(cè)試信號(hào)響應(yīng)與第一節(jié)點(diǎn)上的加載(實(shí)際)注入電壓的比率。
[0032]優(yōu)選地，如上所述，去嵌入探頭100、300、400和500是高阻抗去嵌入探頭而不是傳統(tǒng)的50 Ω探頭。S卩，去嵌入探頭100、300、400和500的輸入阻抗充分高于測(cè)試下裝置202的特性阻抗。例如，探頭輸入阻抗在低頻下可以是50ΚΩ，在高頻下降到225 Ω，而在典型的雙端50 Ω系統(tǒng)中測(cè)試下裝置阻抗可以標(biāo)稱上是25 Ω。
[0033]測(cè)試和測(cè)量?jī)x器200中處理器204和存儲(chǔ)器(未示出)存儲(chǔ)可執(zhí)行指令，以用于實(shí)現(xiàn)上面討論的特征。體現(xiàn)在計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)上的計(jì)算機(jī)可讀代碼，在被執(zhí)行時(shí)，使計(jì)算機(jī)執(zhí)行上述操作中的任意。如本文所使用的，計(jì)算機(jī)是可以執(zhí)行代碼的任何裝置。微處理器、可編程邏輯器件、多處理器系統(tǒng)、數(shù)字信號(hào)處理器、個(gè)人計(jì)算機(jī)等等都是這種計(jì)算機(jī)的示例。在一些實(shí)施例中，計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)可以是被配置為以非暫時(shí)性方式存儲(chǔ)計(jì)算機(jī)可讀代碼的有形計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)。
[0034]已經(jīng)在其優(yōu)選實(shí)施例中描述和說(shuō)明了所公開技術(shù)的原理，應(yīng)當(dāng)清楚的是，在不背離這些原理的情況下，所公開技術(shù)可以在布置和細(xì)節(jié)上被修改。我們要求保護(hù)來(lái)自以下權(quán)利要求的精神和范圍內(nèi)的所有修改和變化。
【權(quán)利要求】
1.一種去嵌入探頭，包括: 輸入，其被配置為連接到測(cè)試下裝置； 存儲(chǔ)器； 信號(hào)發(fā)生器，其被連接到所述輸入，所述信號(hào)發(fā)生器被配置為生成測(cè)試信號(hào)；以及 控制器，其被連接到所述信號(hào)發(fā)生器并被配置為控制所述信號(hào)發(fā)生器。
2.如權(quán)利要求1所述的去嵌入探頭，其中所述去嵌入探頭的輸入阻抗高于所述測(cè)試下裝置的特性阻抗。
3.如權(quán)利要求2所述的去嵌入探頭，其中所述去嵌入探頭不包括任何可切換負(fù)載部件。
4.如權(quán)利要求2所述的去嵌入探頭，所述控制器進(jìn)一步被配置為將所述信號(hào)發(fā)生器接通和關(guān)斷。
5.如權(quán)利要求2所述的去嵌入探頭，所述控制器進(jìn)一步被配置為調(diào)整所述測(cè)試信號(hào)的幅度。
6.如權(quán)利要求2所述的去嵌入探頭，其中所述去嵌入探頭包括被配置為連接到測(cè)試下裝置的兩個(gè)輸入。
7.一種測(cè)試和測(cè)量系統(tǒng)，包括: 權(quán)利要求2的去嵌入探頭；以及 測(cè)試和測(cè)量系統(tǒng)，其包括: 處理器，其被連接到所述去嵌入探頭的所述控制器，所述處理器被配置為提供指令給所述控制器，以及 測(cè)試和測(cè)量輸入，其用以接收來(lái)自所述去嵌入探頭的輸出。
8.如權(quán)利要求7所述的測(cè)試和測(cè)量系統(tǒng)，其中所述測(cè)試和測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)一步包括用戶接口，其被配置為接受所述測(cè)試信號(hào)的期望幅度的指示。
9.如權(quán)利要求7所述的測(cè)試和測(cè)量系統(tǒng)，其中在所述測(cè)試和測(cè)量輸入處基于來(lái)自測(cè)試下裝置的接收信號(hào)的幅度，所述處理器自動(dòng)選擇所述測(cè)試信號(hào)的幅度，并且其中所述控制器進(jìn)一步被配置為基于所述選擇調(diào)整所述測(cè)試信號(hào)的幅度。
10.如權(quán)利要求7所述的測(cè)試和測(cè)量系統(tǒng)，其中所述測(cè)試和測(cè)量?jī)x器的處理器從所述測(cè)試和測(cè)量?jī)x器接收來(lái)自所述測(cè)試下裝置的輸出，并且計(jì)算所述測(cè)試下裝置的源阻抗。
11.如權(quán)利要求7所述的測(cè)試和測(cè)量系統(tǒng)，其中所述測(cè)試和測(cè)量?jī)x器的處理器接收來(lái)自所述測(cè)試下裝置的輸出，并在所述去嵌入探頭連接到所述測(cè)試下裝置之前計(jì)算所述測(cè)試下裝置上出現(xiàn)的未加載信號(hào)。
12.一種用于在活動(dòng)的測(cè)試下裝置內(nèi)執(zhí)行測(cè)試信號(hào)的電壓測(cè)量的方法，包括: 將測(cè)試信號(hào)注入到所述測(cè)試下裝置的節(jié)點(diǎn)中；以及 將與所述測(cè)試下裝置的信號(hào)有關(guān)的第一電壓測(cè)量從與所述測(cè)試信號(hào)有關(guān)的第二電壓測(cè)量分尚。
13.如權(quán)利要求12所述的方法，其中相比于來(lái)自所述測(cè)試下裝置的信號(hào)，隨機(jī)注入所述測(cè)試信號(hào)，以及 其中，將與所述測(cè)試下裝置的信號(hào)有關(guān)的第一電壓測(cè)量從與所述測(cè)試信號(hào)有關(guān)的第二電壓測(cè)量分離包括: 每次注入所述測(cè)試信號(hào)時(shí)觸發(fā)采集，以及 對(duì)所述采集求平均以確定與所述測(cè)試信號(hào)有關(guān)的第二電壓測(cè)量。
14.如權(quán)利要求12所述的方法，其中在對(duì)于來(lái)自所述測(cè)試下裝置的信號(hào)固定的時(shí)間注入所述測(cè)試信號(hào)，以及 其中，將與所述測(cè)試下裝置的信號(hào)有關(guān)的第一電壓測(cè)量從與所述測(cè)試信號(hào)有關(guān)的第二電壓測(cè)量分離包括: 當(dāng)所述測(cè)試信號(hào)接通時(shí)獲取采集， 當(dāng)所述測(cè)試信號(hào)斷開時(shí)獲取采集，以及 從當(dāng)所述測(cè)試信號(hào)接通時(shí)的采集減去當(dāng)所述測(cè)試信號(hào)斷開時(shí)的采集，以確定與所述測(cè)試信號(hào)有關(guān)的第二電壓測(cè)量。
【文檔編號(hào)】G01R1/067GK104459228SQ201410497603
【公開日】2015年3月25日 申請(qǐng)日期:2014年9月25日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月25日
【發(fā)明者】D.G.克尼林, B.T.?？寺? 申請(qǐng)人:特克特朗尼克公司
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