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用于利用磁共振裝置確定b0場圖的方法和磁共振裝置制造方法
【專利摘要】一種用于確定描述與磁共振裝置(6)的額定拉莫爾頻率的局部偏差的B0場圖的方法，其中，在對于其差構(gòu)成了去相位時間的兩個不同的回波時間(2，3)執(zhí)行的測量中在激勵之后在至少兩個不同的去相位時間下記錄磁共振數(shù)據(jù)，并且從在不同的回波時間(2，3)下測量的相位的差中確定為確定B0場圖而要使用的相位變化，其中，為了至少部分地降低由于奈奎斯特相位纏繞引起的多義性而評估不同去相位時間的相位變化，其特征在于，至少部分地利用不同激勵場產(chǎn)生的激勵來執(zhí)行對于不同去相位時間的測量。
【專利說明】用于利用磁共振裝置確定BO場圖的方法和磁共振裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種用于確定描述與磁共振裝置的額定拉莫爾頻率的局部偏差的BO場圖的方法，其中，在對于其差構(gòu)成了去相位時間的兩個不同的回波時間執(zhí)行的測量中在激勵之后在至少兩個不同的去相位時間下記錄磁共振數(shù)據(jù)，并且從在不同的回波時間下測量的相位的差中確定為確定BO場圖而要使用的相位變化，其中，為了至少部分地降低由于奈奎斯特相位纏繞(Nyquist-Phasen-ffrapping)引起的多義性而評估不同去相位時間的相位變化。此外，本發(fā)明還涉及一種磁共振裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]磁共振成像和其原理已經(jīng)在現(xiàn)有技術(shù)中廣泛公知。待檢查的對象被置入具有相對高場強的基本磁場、即所謂的BO場中。此時為了能夠例如在一個層中記錄磁共振數(shù)據(jù)，激勵該層的自旋并且例如作為信號考察該激勵的衰減。借助梯度線圈裝置可以產(chǎn)生梯度場，而通過高頻線圈裝置發(fā)射高頻激勵脈沖，其通常被稱為高頻脈沖。通過全部的高頻脈沖(“激勵”)產(chǎn)生高頻場，其通常被稱為BI場，并且共振激勵的核的自旋(通過梯度位置分辨地)翻轉(zhuǎn)了相對于基本磁場的磁力線的所謂的翻轉(zhuǎn)角。于是，激勵的核自旋發(fā)射高頻信號，借助合適的接收天線、特別是高頻線圈裝置本身能夠記錄和繼續(xù)處理該高頻信號，以便能夠重建磁共振圖像數(shù)據(jù)。
[0003]常規(guī)的高頻線圈裝置在所謂的“均勻模式”中運行，例如在“CP模式”(圓極化模式)中運行，其中，向發(fā)送線圈的所有部件(例如鳥籠天線的所有發(fā)送棒)輸出具有特定的固定相位和振幅的唯一的高頻脈沖。為了提高靈活性并且為了實現(xiàn)新的自由度以改善成像，建議也能夠?qū)崿F(xiàn)所謂的并行發(fā)送(PTX)，其中，給高頻線圈裝置的多個發(fā)送通道分別施加單脈沖，這些單脈沖可以互相偏離。于是，在控制序列中總地定義單脈沖的整體，單脈沖例如可以通過參數(shù)相位和振幅來描述，通過相應(yīng)的參數(shù)組來描述該控制序列。這樣的由單脈沖為不同的發(fā)送通道組成的多通道脈沖(激勵)經(jīng)常被稱為“PTX脈沖”(用于“并行發(fā)送”)。在此，除了產(chǎn)生位置選擇的激勵外，也可以補償場不均勻性(例如在“HF勻場(HF-Shimming) ” 范圍內(nèi))。
[0004]為了確定控制序列的控制參數(shù)組，一方面需要知道背景，即BO場，另一方面也需要知道各個發(fā)送通道在成像區(qū)域(特別是均勻體積)中的效果。
[0005]為了測量基本磁場(Β0場)(稱為BO映射，BO-Mapping)，通常優(yōu)選通過梯度回波成像對于兩個不同的回波時間記錄第一磁共振數(shù)據(jù)。對于不同回波時間記錄的磁共振數(shù)據(jù)的相位差(相位變化)，與局部BO場與額定基本磁場強度的偏差以及去相位時間(即兩個回波時間的差)成比例，所述相位差例如可以通過兩個對于不同回波時間記錄的第一磁共振數(shù)據(jù)的磁共振圖像的相位的減法來確定。在此，具體地通過拉莫爾頻率與磁共振裝置的額定拉莫爾頻率的偏差(該偏差描述的參數(shù)以下通常被稱為拉莫爾頻率值)來描述場偏差。
[0006]通過在BO場的均勻性中的偏差產(chǎn)生的相位隨著時間而發(fā)展，然而其中需要考慮奈奎斯特相位纏繞的效果，因為對于不同時間記錄的磁共振數(shù)據(jù)的相位差相對于額定拉莫爾頻率的偏差以及回波時間的差的比例性僅當(dāng)以2π限定的相位差符合實際的相位演變時才有效。然而，根據(jù)BO分布的動態(tài)范圍，相位在局部上會以2 π倍數(shù)的繼續(xù)發(fā)展。這導(dǎo)致在計算BO圖中的多義性和錯誤。在相位演變中的錯誤對應(yīng)由于在相位差圖像中的2 π跳躍而表現(xiàn)出非物理性的空間跳躍。這意味著，如果局部拉莫爾頻率與額定拉莫爾頻率的偏差過高，則也出現(xiàn)BO相位的極其快速的發(fā)展，于是，如果回波時間(這里是兩個回波時間的差)不是足夠短，則相位會超出2 π，從而出現(xiàn)所描述的多義性。
[0007]通常由于所使用的序列而不能選擇極其短的去相位時間，其中，在極其短的回波時間差的情況下，不再能夠以足夠精度測量與額定拉莫爾頻率的更小偏差。
[0008]為了解決在對應(yīng)所測量的相位變化時的多義性問題，在現(xiàn)有技術(shù)中公知了一些方案。這樣可以如此短地選擇去相位時間，即回波時間的差，使得在此期間相位不在任何位置發(fā)展超過2 31。然而，因為在測量之前不知道BO場分布的動態(tài)范圍，必須如此短地選擇去相位時間，使得記錄方法的靈敏度不足，因此不再能使用所描述的方式。
[0009]因此，建議在后處理中探測并校正在BO圖中的相位跳躍，其按照以下假設(shè):Β0場是空間連續(xù)的。實現(xiàn)它的算法被稱為相位解纏繞算法。但是，經(jīng)常會質(zhì)疑這種算法的可靠性。主要的困難在于，全部體積可能由不連通的子區(qū)域構(gòu)成，從而BO圖的各個子區(qū)域通過體素被分隔，其只獲得噪聲并且是非常低信號的。因此，不能或者只能非常不可靠地確定在該體素中的相位。
[0010]也建議以遞增的去相位時間、也就是遞增的回波時間之間的差，來迭代地記錄第一磁共振數(shù)據(jù)。在此，如下地選擇最短的去相位時間，使得不出現(xiàn)空間相位跳躍。從具有最短去相位時間的記錄中估計在更長的去相位時間的情況下是否出現(xiàn)相位跳躍。如果出現(xiàn)，則在評估(重建)具有更長的去相位時間的第一磁共振數(shù)據(jù)時對其進(jìn)行考慮。由此分辨了相位多義性，并且能夠為長的去相位時間實現(xiàn)高的靈敏度。
[0011]另外的替代方式在于，使在BO圖中的相鄰體素之間的相位梯度最小化。在這種解決方案中，不一定需要校正BO圖的相位跳躍。但是，存在以下風(fēng)險:以錯誤的BO偏置在不同的空間區(qū)域中優(yōu)化計算的BO勻場(Shim)。另外，從微分方法中不能計算頻率(零階的勻場)。
[0012]相應(yīng)的映射過程也對于BI場公知，并且被稱為“BI映射”。在此，為每個發(fā)送通道記錄通常所說的BI場圖，這意味著，BI場圖示出了 BI場在特定的激勵下(例如單位激勵和/或在特定的傳輸電壓下)在成像區(qū)域的特定位置處有多強，這意味著，每個體素(圖像點)對應(yīng)一個復(fù)數(shù)BI值，由此對應(yīng)BI振幅和BI相位，其也可以在BI振幅圖和BI相位圖中區(qū)分。在此，為大量的激勵模式進(jìn)行通常的測量，其中，一個激勵模式不必強制與僅一個發(fā)送通道的運行相對應(yīng)，而是也可以考慮組合，于是從中可以推測出單獨的發(fā)送通道。
[0013]為了確定BI場的振幅，例如公知了測量由高頻脈沖引起的翻轉(zhuǎn)角，其中，例如參考DE 10 2005 049 229 B3。附加地測量BI場的相位。在此，激勵模式具有恒定的相移，由此具有恒定的BI相位，然而其中在相位測量時，當(dāng)然也附帶記錄了如所描述那樣的時間上持續(xù)變化的BO相位。因此，對于BI映射公知了，對于不同的激勵模式原則上使用相同的回波時間，從而保持BO場在相位上的效果恒定，從而能夠?qū)募钅Ｊ降拇殴舱駭?shù)據(jù)中獲得的原始相位圖用作校正，從而BO場在相位上產(chǎn)生相同的效果，并且由此為校正而引入的激勵模式的相位被用作參考相位圖。這意味著，相對于作為校正引入的BI相位圖定義所有其它的BI相位圖，這是沒有問題的，因為最終總是僅取決于不同發(fā)送通道的相對相位。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0014]因此，本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是，給出一種用于確定更高質(zhì)量的、更可靠的BO場圖的方法。
[0015]為了解決該技術(shù)問題，在開頭所述類型的方法中，根據(jù)本發(fā)明規(guī)定了，至少部分地以不同激勵場產(chǎn)生的激勵來執(zhí)行對于不同去相位時間的測量。
[0016]本發(fā)明所基于的認(rèn)識在于，確定BO場圖的主要問題之一是基于激勵的靈敏度。如果假定可通過多個發(fā)送通道控制高頻線圈裝置，為這些發(fā)送通道可以獨立地選擇相位和振幅，則大多產(chǎn)生在某些區(qū)域比其它區(qū)域具有更低靈敏度的激勵，從而獲得的BO數(shù)據(jù)(特別是在極其短的去相位時間的情況下)可能具有高錯誤，例如低信噪比。在成像區(qū)域作為輸出點引起不同激勵場、由此也引起不同相位分布的激勵的使用由此整體覆蓋了更寬闊的靈敏度范圍，并且還提供了更獨立的測量的優(yōu)點，其在將對于各個去相位時間的子結(jié)果統(tǒng)計學(xué)組合為總BO圖的情況下為質(zhì)量的改善作出貢獻(xiàn)。
[0017]使用本發(fā)明特別合適的是，總是要以另外的目的而執(zhí)行對由不同激勵場產(chǎn)生的激勵的測量，從而特別優(yōu)選是可以將對用于BO圖的磁共振數(shù)據(jù)的測量與在BI映射范圍內(nèi)的測量同時執(zhí)行(以下還會詳細(xì)描述)，其中應(yīng)當(dāng)利用用于高頻線圈裝置的不同發(fā)送通道的復(fù)數(shù)場來記錄BO場圖。于是由此可以共同測量BI場圖和BO場圖。
[0018]明顯降低了由于奈奎斯特相位纏繞的效果、即由于2 π相位跳躍的多義性，因為避免了錯誤地將相位變化與實際的相位演變相對應(yīng)。短的去相位時間適合于估計在更長的去相位時間情況下是否會出現(xiàn)奈奎斯特相位纏繞。這于是在評估過長的去相位時間的磁共振數(shù)據(jù)時也可以被考慮。
[0019]如已經(jīng)說明的，特別合適的是，激勵的總量基本均勻地覆蓋磁共振裝置的成像區(qū)域和/或?qū)τ诔上駞^(qū)域的每個體素有至少一個激勵超過預(yù)先確定的最低信號強度。這確保發(fā)生對BO場圖實際的質(zhì)量改善，因為對于磁共振裝置的成像區(qū)域中的每個重要位置(每個體素)存在至少一個可靠的測量值。如果將對于不同去相位時間或者對于不同回波時間記錄的不同的磁共振數(shù)據(jù)對的評估結(jié)果統(tǒng)計學(xué)上組合成共同的BO場圖，則可以合適地利用信噪比或者當(dāng)它不存在時利用信號強度進(jìn)行加權(quán)。由此獲得極其高質(zhì)量并可靠的BO場圖。在此，優(yōu)選總是為在相同激勵下測量的回波時間建立待組合的子BO場圖。這些子BO場圖可以被加權(quán)地組合，例如通過體素加權(quán)的平均值構(gòu)成，其中，如所描述的那樣，可以通過信噪比(SNR)或信號強度進(jìn)行加權(quán)。
[0020]在本發(fā)明特別合適的構(gòu)造中，設(shè)計使用具有多個獨立可控的發(fā)送通道的高頻線圈裝置，其中，記錄在用于為發(fā)送通道確定BI圖的測量過程中的磁共振數(shù)據(jù)。在此特別合適的是，為每個在測量過程中使用的激勵模式進(jìn)行至少兩個在不同回波時間下的測量，其中，去相位時間至少對于兩個、特別是所有不同的激勵模式相區(qū)別。
[0021]如已經(jīng)說明的，具有高頻線圈裝置的磁共振裝置除了 BO場圖外還需要對于各個發(fā)送通道的BI場圖，該高頻線圈裝置具有多個發(fā)送通道，即所謂的PTX系統(tǒng)。為了獲得BI場圖，執(zhí)行了多個測量，因為為了 η個發(fā)送通道的BI測繪需要至少η個記錄過程，其分別使用產(chǎn)生不同激勵場的不同的激勵模式。在最簡單的情況下，激勵模式總是僅涉及一個特定的發(fā)送通道，可以設(shè)計(并且在本發(fā)明范圍內(nèi)優(yōu)選)為激勵模式使用各個發(fā)送通道的不同組合。于是，從中可以計算上為所有發(fā)送通道逆計算出BI場圖。
[0022]不同的BI映射方法也總是允許記錄兩個梯度回波，從而可以獲得用于BO場圖的磁共振數(shù)據(jù)。在所描述的根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選方式中，形成同樣的BO分布的η個子BO場圖，其具有特別的優(yōu)點是所有使用不同的去相位時間。
[0023]因此，本發(fā)明為具有多個發(fā)送通道的高頻線圈裝置設(shè)計了，與用于測繪BI發(fā)送場的不同記錄共同地分別記錄至少一個關(guān)于第二回波時間的另外的回波，其中，在回波之間的去相位時間特別地對于每次記錄都改變。這意味著，從每個BI映射記錄中可以獲得具有不同去相位時間的BO場圖(子BO場圖)，方法是以相同的激勵模式但不同的回波時間成對地評估記錄。如已經(jīng)說明的，從不同的去相位時間中可以估計對于更長去相位時間的相位跳躍，并且可以明確地從相位變化中確定相位演變。于是，也可以如所說明的那樣進(jìn)行子BO場圖的統(tǒng)計學(xué)上的組合。
[0024]可以利用每個BI映射方法考慮BI場圖與BO場圖的組合記錄。特別適合的是簡單的、基于梯度回波的方法的共同記錄，例如:
[0025]-記錄相對的BI場圖，其中，為每個激勵模式僅記錄一個梯度回波圖像；
[0026]-AFI (actual flip angle imaging,實際翻轉(zhuǎn)角成像)，其中，為每個激勵模式記錄具有不同重復(fù)時間的兩個梯度回波圖像；
[0027]-雙角度方法(DoubleAngle-Verfahren),其中，為每個激勵模式記錄具有不同翻轉(zhuǎn)角的至少兩個梯度回波圖像；
[0028]-以及其它BO映射方法。
[0029]由此與BI場圖或pTX系統(tǒng)的相對的BI場圖共同地記錄了絕對的BO場圖，后者原則上不會由于受限制的去相位時間而在靈敏度上受限制，并且不具有由于2 π相位跳躍和相位變化與實際相位演變的錯誤對應(yīng)而產(chǎn)生的空間跳躍。
[0030]本發(fā)明特別優(yōu)選的構(gòu)造是，激勵模式使用多于一個的發(fā)送通道，使得相對于使用唯一的發(fā)送通道降低了 BI振幅的動態(tài)范圍。這意味著，這樣的限制了 BI分布的動態(tài)范圍并由此限制了振幅信號變化的BI映射方法特別適合于可靠地確定BO場圖。這如已經(jīng)說明的那樣有效地由此實現(xiàn)，即記錄發(fā)送通道的不同組合的BI場圖，并且從中計算地確定發(fā)送通道的BI場圖。
[0031]此處還要注意的是，通常在根據(jù)本發(fā)明的方法中還提供了使用梯度回波序列來記錄磁共振數(shù)據(jù)。
[0032]除了根據(jù)本發(fā)明的方法外，本發(fā)明還涉及一種磁共振裝置，包括為執(zhí)行根據(jù)本發(fā)明的方法而構(gòu)造的控制裝置。除了具有多個獨立可控的發(fā)送通道的高頻線圈裝置外，還設(shè)置了控制裝置，其可以按照根據(jù)本發(fā)明的方法確定BO場圖。這樣的控制裝置例如可以具有序列控制器，其控制磁共振裝置的其它部件以用于在兩個不同的回波時間下對于不同激勵場產(chǎn)生的激勵記錄磁共振數(shù)據(jù)。另外，可以設(shè)置評估單元，其確定對于不同的去相位時間的相位變化，并且為至少部分地降低由于奈奎斯特相位纏繞引起的多義性進(jìn)行評估。該結(jié)果可以繼續(xù)傳輸給BI場圖確定單元，其將由不同去相位時間導(dǎo)致的子BO場圖統(tǒng)計學(xué)地、優(yōu)選加權(quán)地組合，以便獲得BO場圖。在此主要是，序列控制器對于不同的去相位時間至少部分地使用不同激勵場產(chǎn)生的激勵。
[0033]對于根據(jù)本發(fā)明的方法的全部實施可以類似地轉(zhuǎn)用到根據(jù)本發(fā)明的磁共振裝置，通過其同樣可以獲得本發(fā)明的優(yōu)點。
[0034]在此還要指出，根據(jù)本發(fā)明的方法也可以通過計算機程序?qū)崿F(xiàn)，當(dāng)通過計算裝置執(zhí)行該計算機程序時，其實施根據(jù)本發(fā)明的方法。這樣的計算機程序可以被存儲到非易失性的數(shù)據(jù)存儲介質(zhì)上。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0035]從以下描述的實施例以及結(jié)合附圖得出本發(fā)明的其它優(yōu)點和細(xì)節(jié)。附圖中:
[0036]圖1示出了根據(jù)本發(fā)明的方法的實施例的流程圖，
[0037]圖2示出了用于解釋實施例的示意圖，
[0038]圖3示出了根據(jù)本發(fā)明的磁共振裝置，以及
[0039]圖4示出了圖3的磁共振裝置的控制裝置的結(jié)構(gòu)。

【具體實施方式】
[0040]參照圖1詳細(xì)示出了根據(jù)本發(fā)明的方法的實施例。在此，基本思路是質(zhì)量上改善BO場圖的確定，其中，以不同去相位時間的磁共振數(shù)據(jù)為基礎(chǔ)，并且不同的去相位時間被用于分辨由于奈奎斯特相位纏繞引起的多義性，方法是為不同的去相位時間得到不同的相位分布作為輸出點，由此為不同的去相位時間使用了不同激勵場產(chǎn)生的激勵。這特別是能夠如下地簡單實現(xiàn)，即共同地記錄BO場圖和BI場圖，這在按照圖1的實施例中實現(xiàn)，并且在步驟I中執(zhí)行。
[0041]在此，使用了當(dāng)前的η個激勵模式，從對它們的評估中應(yīng)當(dāng)為磁共振裝置的高頻線圈裝置的不同發(fā)送通道計算BI場圖，這原則上在現(xiàn)有技術(shù)中公知。然而，在步驟I中不只是在唯一的回波時間下測量，而是為每個激勵模式測量兩個回波時間，從而存在磁共振數(shù)據(jù)，其與特定通過第一回波時間與第二回波時間的差定義的去相位時間相對應(yīng)。
[0042]通過圖2詳細(xì)解釋了該測量原理。在那里以符號標(biāo)注了相對于回波時間TE的激勵模式Μ。可見，為從I至m的每個激勵模式M分別在第一回波時間2和第二回波時間3執(zhí)行了測量，以便記錄磁共振數(shù)據(jù)，其中m表示激勵模式的數(shù)量。在此，雖然為所有激勵模式使用了相同的第一回波時間2，但是在其它實施例中也可以是不同的。第二回波時間3(針對該回波時間進(jìn)行了第二測量)總是不同的，從而既使用了小的去相位時間ATE1，也使用了大的去相位時間,例如圖2中的Λ TEm,還使用了它們中間的值。
[0043]在評估步驟4中，首先執(zhí)行對磁共振數(shù)據(jù)的評估，以便識別和分辨由于相位纏繞引起的多義性。在此，以短的去相位時間為前提，例如驗證是否在更高的去相位時間的情況下預(yù)期有奈奎斯特相位纏繞，方法是考慮從測量對的磁共振數(shù)據(jù)中得到的相位變化，其中，也可以通過考慮體素處的相位變化來為盡可能寬的基礎(chǔ)上的不同去相位時間確定奈奎斯特相位纏繞。如果確定了奈奎斯特相位纏繞,則消除了多義性,并且進(jìn)行對從更高的去相位時間(在該去相位時間的情況下出現(xiàn)了奈奎斯特相位纏繞)中導(dǎo)出的相位變化的校正。
[0044]在步驟5中，然后分別對在利用不同去相位時間的激勵模式下確定的相位變化進(jìn)一步評估，以便為每個激勵模式獲得子BO場圖。在步驟5中統(tǒng)計學(xué)地組合子BO場圖，以便獲得BO場圖作為結(jié)果。在此，例如可以構(gòu)成關(guān)于子BO場圖的平均值，其中結(jié)合各自的SNR或各自的信號強度進(jìn)行加權(quán)。
[0045]在圖1中未示出的情況是，以已知的方式當(dāng)然也可以確定BI場圖。在此要指出的是，為了確定BI場圖當(dāng)然也可以引入所有記錄的磁共振數(shù)據(jù)，這意味著，為每個激勵模式可以首先確定對于第一回波時間2和第二回波時間3的子BI場圖，然后同樣可以將其統(tǒng)計學(xué)地組合。
[0046]為了記錄磁共振數(shù)據(jù)可以使用最不同的BI映射方法，如同已經(jīng)詳細(xì)描述的那樣。在任何情況下，優(yōu)選使用梯度回波序列。在此還要指出的是，當(dāng)前這樣選擇不同的激勵模式，使得如下地使用多于一個發(fā)送通道，使得相對于使用唯一的發(fā)送通道降低了 BI振幅的動態(tài)范圍，以便由此盡可能也為各個激勵模式獲得對磁共振的成像區(qū)域的盡可能均勻的覆至JHL ο
[0047]圖3示出了根據(jù)本發(fā)明的磁共振裝置6的原理圖，其中，為了簡單起見僅實際上示出了對于本發(fā)明重要的部件，并且由于清晰性原因免去示出基本磁場單元、梯度線圈裝置等。磁共振裝置6具有以附圖標(biāo)記7表示的高頻線圈裝置，其經(jīng)由多個示意性示出的發(fā)送通道8可以通過發(fā)送裝置9如下地運行，使得可以為每個發(fā)送通道8獨立地選擇振幅和相位。由高頻線圈裝置7和發(fā)送裝置9構(gòu)成的發(fā)送系統(tǒng)如同磁共振裝置6的其它部件(這里未詳細(xì)示出)那樣被控制裝置10控制，該控制裝置被構(gòu)造為用于執(zhí)行根據(jù)本發(fā)明的方法并在圖4中詳細(xì)示出。
[0048]因此，控制裝置10具有序列控制器11，通過它在本發(fā)明的范圍內(nèi)能夠?qū)崿F(xiàn)激勵模式(和必要時的其它激勵)，以便獲得磁共振數(shù)據(jù)。在評估單元12中首先關(guān)于奈奎斯特相位纏繞評估磁共振數(shù)據(jù)，參照步驟4，隨后BO場圖確定單元13按照步驟5確定BO場圖。最后，為控制單元10還示出了用于確定BI場圖的BI場圖確定單元14。
[0049]盡管在細(xì)節(jié)上通過優(yōu)選實施例詳細(xì)圖解和描述了本發(fā)明，但是本發(fā)明不受公開的例子的限制，并且技術(shù)人員可以從中推導(dǎo)出其它變化，而不脫離本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種用于確定描述與磁共振裝置￠)的額定拉莫爾頻率的局部偏差的BO場圖的方法，其中，在對于其差構(gòu)成了去相位時間的兩個不同的回波時間(2，3)執(zhí)行的測量中在激勵之后在至少兩個不同的去相位時間下記錄磁共振數(shù)據(jù)，并且從在不同的回波時間(2，3)下測量的相位的差中確定為確定BO場圖而要使用的相位變化，其中，為了至少部分地降低由于奈奎斯特相位纏繞引起的多義性而評估不同去相位時間的相位變化，其特征在于，至少部分地利用不同激勵場產(chǎn)生的激勵來執(zhí)行對于不同去相位時間的測量。
2.按照權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述激勵的總量基本均勻地覆蓋所述磁共振裝置(6)的成像區(qū)域和/或?qū)τ谒龀上駞^(qū)域的每個體素有至少一個激勵超過預(yù)先確定的最低信號強度。
3.按照權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，使用具有多個獨立可控的發(fā)送通道(8)的高頻線圈裝置(7)，其中，在用于為所述發(fā)送通道(8)確定BI圖的測量過程中記錄磁共振數(shù)據(jù)。
4.按照權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，為每個在測量過程中使用的激勵模式進(jìn)行至少兩個在不同回波時間下的測量，其中，所述去相位時間至少對于兩個不同的激勵模式相區(qū)別。
5.按照權(quán)利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述激勵模式如下地使用多于一個的發(fā)送通道(8)，使得相對于使用唯一的發(fā)送通道(8)降低了 BI振幅的動態(tài)范圍。
6.按照上述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其特征在于，為記錄所述磁共振數(shù)據(jù)使用梯度回波序列。
7.—種磁共振裝置(6)，包括為執(zhí)行按照上述權(quán)利要求中任一項所述的方法而構(gòu)造的控制裝置(10)。
【文檔編號】G01R33/561GK104280707SQ201410330773
【公開日】2015年1月14日 申請日期:2014年7月11日 優(yōu)先權(quán)日:2013年7月11日
【發(fā)明者】H-P.福茲 申請人:西門子公司