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一種適用于多種引腳微小間距的芯片測(cè)試探針的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種適用于多種引腳微小間距的芯片測(cè)試探針,該測(cè)試探針能夠自由變換測(cè)量探針之間的間距，不僅可以對(duì)標(biāo)準(zhǔn)引腳間距的芯片進(jìn)行測(cè)量，而且可以對(duì)非標(biāo)引腳間距的芯片進(jìn)行測(cè)量；該測(cè)試探針還具有引腳定位功能，測(cè)量者只需要根據(jù)芯片引腳間距調(diào)整好金屬探針位置，即可根據(jù)引腳定位孔直接進(jìn)行測(cè)量，節(jié)省了時(shí)間，提高了效率，且結(jié)構(gòu)簡單，適于工業(yè)化實(shí)施。
【專利說明】-種適用于多種引腳微小間距的芯片測(cè)試探針

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明屬于硬件設(shè)計(jì)測(cè)試【技術(shù)領(lǐng)域】，具體是一種適用于多種引腳微小間距的芯片 測(cè)試探針。該探針能夠?qū)Χ喾N不同封裝、不同引腳間距的芯片進(jìn)行測(cè)試，并且具備了獨(dú)特的 可調(diào)節(jié)探針間距功能，可以有效地解決由于傳統(tǒng)示波器探針過粗無法測(cè)量引腳間距過小的 芯片問題。

【背景技術(shù)】
[0002] 隨著集成電路產(chǎn)業(yè)的迅速發(fā)展，芯片的尺寸越來越小，集成規(guī)模越來越大，實(shí)現(xiàn)的 功能也越來越復(fù)雜，廣泛的應(yīng)用于各個(gè)行業(yè)，成為人類生活中不可或缺的一部分。但是與芯 片產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展不同的是，芯片的測(cè)試手段和測(cè)量工具的發(fā)展并沒有隨著芯片的復(fù)雜度 的提升而得到應(yīng)有的進(jìn)步。面對(duì)功能不斷增加、引腳數(shù)目日益增多的芯片，如何針對(duì)芯片所 具有的功能進(jìn)行全面的、準(zhǔn)確的測(cè)試已經(jīng)成為業(yè)界日益關(guān)注的問題。
[0003] 在硬件電路的調(diào)試過程中，如果芯片出現(xiàn)異常，需要對(duì)芯片的某些信號(hào)進(jìn)行監(jiān)測(cè) 和故障定位，傳統(tǒng)的也是最常用的方法是采用示波器對(duì)芯片的引腳上的信號(hào)進(jìn)行采集，觀 察芯片引腳上的信號(hào)的波形，進(jìn)而對(duì)故障進(jìn)行定位排除。然而，隨著芯片的功能和復(fù)雜程度 的增加，芯片在面積不變的趨勢(shì)下引腳數(shù)目越來越多，導(dǎo)致了芯片引腳間的間距越來越小。 傳統(tǒng)的示波器的探針由于探針過粗而無法對(duì)芯片引腳進(jìn)行有效的測(cè)量，而且過密的引腳數(shù) 目使得測(cè)試人員在對(duì)故障區(qū)域引腳進(jìn)行定位也變得十分困難。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明擬解決的技術(shù)問題是：提供一種適用于多種引腳微 小間距的芯片測(cè)試探針。該測(cè)試探針能夠自由變換測(cè)量探針之間的間距，不僅可以對(duì)標(biāo)準(zhǔn) 引腳間距的芯片進(jìn)行測(cè)量，而且可以對(duì)非標(biāo)引腳間距的芯片進(jìn)行測(cè)量；該測(cè)試探針還具有 引腳定位功能，測(cè)量者只需要根據(jù)芯片引腳間距調(diào)整好金屬探針位置，即可根據(jù)引腳定位 孔直接進(jìn)行測(cè)量，節(jié)省了時(shí)間，提高了效率，且結(jié)構(gòu)簡單，適于工業(yè)化實(shí)施。
[0005] 本發(fā)明解決所述技術(shù)問題的技術(shù)方案是：設(shè)計(jì)一種適用于多種引腳微小間距的芯 片測(cè)試探針。其特征在于該測(cè)試探針由測(cè)量電路板、金屬探針、連接器、支架和測(cè)試端點(diǎn)組 成；所述測(cè)量電路板上一端有用于連接連接器的PAD點(diǎn)，另一端有用于測(cè)量信號(hào)的測(cè)試端 點(diǎn)，PAD點(diǎn)與測(cè)試端點(diǎn)以印制線的形式直接相連；所述金屬探針的根數(shù)根據(jù)應(yīng)用場合定制， 安裝在連接器上，間距固定，且呈一直線排列；金屬探針可以在連接器上伸縮，與連接器靠 二者之間的摩擦阻力連接，伸縮時(shí)，用手將金屬探針推至合適位置即可；所述連接器其金屬 探針連接端為一排孔槽，用于安裝金屬探針，孔槽的個(gè)數(shù)與金屬探針的根數(shù)相同；所述連接 器上的孔槽采用標(biāo)準(zhǔn)圓形孔槽結(jié)構(gòu)，金屬探針的根部與孔槽以可插拔的方式連接，在對(duì)非 標(biāo)準(zhǔn)間距的芯片引腳進(jìn)行測(cè)量時(shí)，可將多余的金屬探針拔出，不會(huì)影響測(cè)量效果；所述連接 器的電路連接端與測(cè)量電路板上的PAD點(diǎn)相連接，測(cè)量電路板上的測(cè)試端點(diǎn)的個(gè)數(shù)與連接 器上孔槽的個(gè)數(shù)相同，所述孔槽與測(cè)試端點(diǎn)經(jīng)過PAD點(diǎn)直線電連通，并與測(cè)試端點(diǎn)以相同 數(shù)字編號(hào)的形式一一對(duì)應(yīng)；所述測(cè)量電路板四角安裝有支架，用于對(duì)測(cè)試探針進(jìn)行支撐。
[0006] 與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是：
[0007] 1.本發(fā)明有效解決了芯片間距過小時(shí)，示波器探頭無法有效對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)量的問 題，使得測(cè)量人員在不用更換示波器探頭的情況下，能夠?qū)π￠g距芯片進(jìn)行測(cè)量。
[0008] 2.本發(fā)明通過采用可插拔探針設(shè)計(jì)，使其在不用更換其他測(cè)量工具的情況下，就 可以測(cè)量不同引腳間距的芯片，具有極高的靈活性和通用性。
[0009] 3.本發(fā)明采用了 L型探針和測(cè)量板四周配有塑料支架設(shè)計(jì)，使得探針與芯片引腳 之間的接觸更加可靠，提高了測(cè)量的準(zhǔn)確性。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0010] 圖1為本發(fā)明適用于多種引腳微小間距的芯片測(cè)試探針一種實(shí)施例的俯視示意 圖。
[0011] 圖2為本發(fā)明適用于多種引腳微小間距的芯片測(cè)試探針一種實(shí)施例的仰視示意 圖。
[0012] 圖3為本發(fā)明適用于多種引腳微小間距的芯片測(cè)試探針一種實(shí)施例的側(cè)視示意 圖。

【具體實(shí)施方式】
[0013] 下面結(jié)合具體實(shí)施例及附圖詳細(xì)敘述本發(fā)明。
[0014] 本發(fā)明設(shè)計(jì)的適用于多種引腳微小間距的芯片測(cè)試探針（簡稱測(cè)試探針，參見圖 1-3)，其特征在于：該測(cè)試探針由測(cè)量電路板1、金屬探針2、連接器3、支架4和測(cè)試端點(diǎn)5 組成；所述測(cè)量電路板1上一端有用于安裝連接器3的PAD點(diǎn)11，另一端有用于測(cè)量信號(hào) 的測(cè)試端點(diǎn)5, PAD點(diǎn)11與測(cè)試端點(diǎn)5以印制線的形式直接相連；
[0015] 所述金屬探針2的根數(shù)根據(jù)應(yīng)用場合定制，安裝在連接器3上，間距固定，且呈一 直線排列；金屬探針2可以在連接器3上伸縮，與連接器3靠二者之間的摩擦阻力連接，伸 縮時(shí)，用手將金屬探針2推直合適位置即可；
[0016] 所述連接器3其金屬探針連接端為一排孔槽，用于安裝金屬探針2,孔槽的個(gè)數(shù)與 金屬探針2的根數(shù)相同；所述連接器3上的孔槽采用標(biāo)準(zhǔn)圓形孔槽結(jié)構(gòu)，金屬探針2的根部 與孔槽以可插拔的方式連接，在對(duì)非標(biāo)準(zhǔn)間距的芯片引腳進(jìn)行測(cè)量時(shí)，可將多余的金屬探 針2拔出，不會(huì)影響測(cè)量效果；
[0017] 所述連接器3的電路連接端與測(cè)量電路板1上的PAD點(diǎn)11相連接，測(cè)量電路板1 上的測(cè)試端點(diǎn)5的個(gè)數(shù)與連接器3上孔槽的個(gè)數(shù)相同，所述孔槽與測(cè)試端點(diǎn)5經(jīng)過PAD點(diǎn) 11直線電連通，并與測(cè)試端點(diǎn)5以相同數(shù)字編號(hào)的形式一一對(duì)應(yīng)；所述測(cè)量電路板1四角 安裝有支架4,用來對(duì)測(cè)試探針進(jìn)行支撐。
[0018] 本發(fā)明測(cè)試探針的使用方法是：在對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)量時(shí)，首先確定芯片引腳的數(shù)量 η和間距s (mm)，根據(jù)間距s來推算出兩個(gè)引腳之間要拔出的金屬探針數(shù)目m，具體計(jì)算公式 為⑴式：
[0019] m = (s/0. 1) -1 (1)
[0020] 然后從第一個(gè)金屬探針開始，兩個(gè)金屬探針之間拔出m個(gè)金屬探針，保證金屬探 針2間距與芯片引腳間距一致。將裝有金屬探針2的一側(cè)與需要測(cè)量的芯片引腳對(duì)齊，且 保證可靠連接；測(cè)量時(shí)，根據(jù)芯片電路圖找出待測(cè)引腳的編號(hào)，根據(jù)編號(hào)在測(cè)量電路板1上 找出相應(yīng)的測(cè)試點(diǎn)，用示波器探頭進(jìn)行測(cè)量。
[0021] 下面給出具體的實(shí)施例。
[0022] 實(shí)施例1
[0023] 定制的測(cè)量電路板1整體呈長方形，尺寸為50mmX100mmXl· 6mm ;測(cè)量電路板1 中間具有76個(gè)測(cè)試端點(diǎn)5,配套的連接器3上有76個(gè)孔槽，兩孔之間間距0. 1mm，可安裝76 根金屬探針2 ;所述連接器3是根據(jù)貴州航天電器股份有限公司3412廠的J56-32ZK2進(jìn)行 定制的，整體大致呈倒U型，倒U的兩支腳一長一短，長支腳與測(cè)量電路板1相連，短支腳上 安裝有向外延伸的連接板，孔槽位于連接板的下端；選用的金屬探針2為L型金屬探針，直 徑為0. 1mm，共計(jì)76個(gè)，可以測(cè)量最大距離為15. 2cm，滿足一般芯片的要求；所述支架4為 可伸縮的塑料支架，采用螺旋機(jī)構(gòu)實(shí)現(xiàn)自身高度的調(diào)節(jié)，進(jìn)而調(diào)節(jié)測(cè)試探針的高度，以適應(yīng) 不同厚度的待測(cè)芯片。本實(shí)施例中支架4的高度可在20-60_范圍內(nèi)調(diào)節(jié)。
[0024] 工作原理與過程：根據(jù)待測(cè)芯片的引腳規(guī)格來確定測(cè)試探針的金屬探針2的根數(shù) 與間距，調(diào)整好測(cè)試探針后將其金屬探針2與待測(cè)芯片的引腳接觸。將外接示波器的探頭 與測(cè)量電路板1上的測(cè)試端點(diǎn)5相連，金屬探針2將測(cè)試到的信息信號(hào)通過電路傳送到測(cè) 試端點(diǎn)5后，示波器探頭讀取信號(hào)，最后根據(jù)示波器上的輸出信號(hào)來分析該芯片的故障狀 況。
[0025] 本發(fā)明未述及之處適用于現(xiàn)有技術(shù)。
【權(quán)利要求】
1. 一種適用于多種引腳微小間距的芯片測(cè)試探針，其特征在于該測(cè)試探針由測(cè)量電路 板、金屬探針、連接器、支架和測(cè)試端點(diǎn)組成；所述測(cè)量電路板上一端有用于連接連接器的 PAD點(diǎn)，另一端有用于測(cè)量信號(hào)的測(cè)試端點(diǎn)，PAD點(diǎn)與測(cè)試端點(diǎn)以印制線的形式直接相連； 所述金屬探針的根數(shù)根據(jù)應(yīng)用場合定制，安裝在連接器上，間距固定，且呈一直線排列；金 屬探針可以在連接器上伸縮，與連接器靠二者之間的摩擦阻力連接；所述連接器其金屬探 針連接端為一排孔槽，用于安裝金屬探針，孔槽的個(gè)數(shù)與金屬探針的根數(shù)相同；所述連接器 上的孔槽采用標(biāo)準(zhǔn)圓形孔槽結(jié)構(gòu)，金屬探針的根部與孔槽以可插拔的方式連接；所述連接 器的電路連接端與測(cè)量電路板上的PAD點(diǎn)相連接；測(cè)量電路板上的測(cè)試端點(diǎn)的個(gè)數(shù)與連接 器上孔槽的個(gè)數(shù)相同，所述孔槽與測(cè)試端點(diǎn)經(jīng)過PAD點(diǎn)直線電連通，并與測(cè)試端點(diǎn)以相同 數(shù)字編號(hào)的形式一一對(duì)應(yīng)；所述測(cè)量電路板四角安裝有支架。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的適用于多種引腳微小間距的芯片測(cè)試探針，其特征在于： 所述支架為可伸縮的塑料支架，采用螺旋機(jī)構(gòu)實(shí)現(xiàn)自身高度的調(diào)節(jié)，高度調(diào)節(jié)范圍在 20-60mm〇
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的適用于多種引腳微小間距的芯片測(cè)試探針，其特征在于：所 述測(cè)量電路板整體呈長方形，尺寸為50mmX lOOmmX 1. 6mm ;測(cè)量電路板中間具有76個(gè)測(cè)試 端點(diǎn)，配套的連接器上有76個(gè)孔槽，兩孔之間間距0. 1mm ;所述連接器是根據(jù)貴州航天電 器股份有限公司3412廠的J56-32ZK2進(jìn)行定制的，整體大致呈倒U型，倒U的兩支腳一長 一短，長支腳與測(cè)量電路板相連，短支腳上安裝有向外延伸的連接板，孔槽位于連接板的下 端；選用的金屬探針為L型金屬探針，直徑為0. 1_，共計(jì)76個(gè)，測(cè)量最大距離為15.2cm。
【文檔編號(hào)】G01R1/073GK104090135SQ201410294352
【公開日】2014年10月8日 申請(qǐng)日期:2014年6月26日 優(yōu)先權(quán)日:2014年6月26日
【發(fā)明者】李鑫, 朱天成, 楊陽 申請(qǐng)人:中國航天科工集團(tuán)第三研究院第八三五七研究所