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一種線圈設(shè)備測試方法及裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明實(shí)施例提供一種線圈設(shè)備測試方法及裝置，所述方法包括：選定待測試的線圈設(shè)備，預(yù)置測試策略；將測試設(shè)備組初始化，根據(jù)所述測試策略從所述測試設(shè)備組中選定測試儀器，利用選定的測試儀器對待測試線圈進(jìn)行測試；所述裝置包括：測試設(shè)備組，所述測試設(shè)備組中包括多個(gè)測試儀器；上位機(jī)，用于選定待測試的線圈設(shè)備，預(yù)置測試策略，將測試設(shè)備組初始化；利用選定的測試儀器對待測試線圈進(jìn)行測試控制電路模塊，用于根據(jù)所述測試策略從所述測試設(shè)備組中選定測試儀器。
【專利說明】一種線圈設(shè)備測試方法及裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本發(fā)明涉及電子電路備【技術(shù)領(lǐng)域】，特別涉及一種線圈設(shè)備測試方法及裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]線圈設(shè)備是目前電子電路系統(tǒng)中常見的元件，例如電感或者變壓器等利用線圈繞制而成的元件，均屬于線圈設(shè)備的范疇之內(nèi)。對于線圈設(shè)備的電氣性能測試，常規(guī)的包括如下若干種測試項(xiàng)目:電感量、電容值、直流電阻、品質(zhì)因數(shù)、空載電壓、空載電流、阻抗、變比、絕緣電阻及絕緣耐壓等。
[0003]通常情況下，現(xiàn)有技術(shù)中對于線圈設(shè)備的測試，往往選擇如下的方式:
[0004]可對于不同的測試項(xiàng)目，利用相應(yīng)測試儀器進(jìn)行測試，測試過程中需人工記錄測試結(jié)果；并且在切換測試項(xiàng)目或者測試對象時(shí)，也需要手動(dòng)的變換測試儀器。
[0005]也可通過設(shè)計(jì)不同的測試電路，將對于測試項(xiàng)目的測試功能統(tǒng)統(tǒng)集成到所述測試電路中，最終利用所述測試電路完成測試。
[0006]現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷是，人工記錄測試結(jié)果，并手動(dòng)切換測試儀器的方案效率低下，對于測試人員要求較高，并且大量的人為操作極易出現(xiàn)錯(cuò)誤，穩(wěn)定性差；利用測試電路進(jìn)行測試的方案中，所述測試電路的精確度不及專業(yè)測試儀器，所以準(zhǔn)確性相對較差。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提供一種線圈設(shè)備測試方法及裝置，利用控制電路將諸多專用的測試儀器接入到上位機(jī)中，并在測試中針對測試項(xiàng)目自動(dòng)實(shí)現(xiàn)測試儀的切換。
[0008]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明有如下技術(shù)方案:
[0009]一種線圈設(shè)備測試方法，所述方法包括:
[0010]選定待測試的線圈設(shè)備，預(yù)置測試策略；
[0011]將測試設(shè)備組初始化，根據(jù)所述測試策略從所述測試設(shè)備組中選定測試儀器，利用選定的測試儀器對待測試線圈進(jìn)行測試。
[0012]所述測試策略中包括多個(gè)測試項(xiàng)目，則所述根據(jù)所述測試策略從所述測試設(shè)備組中選定測試儀器，利用選定的測試儀器對待測試線圈進(jìn)行測試具體為:
[0013]從所述測試策略中選取一個(gè)測試項(xiàng)目，并根據(jù)該測試項(xiàng)目從所述測試設(shè)備組中選定相應(yīng)的測試儀器，利用選定的測試儀器對待測試線圈進(jìn)行該測試項(xiàng)目的測試；
[0014]當(dāng)一個(gè)測試項(xiàng)目測試完成，則從所述測試策略中重新選定一個(gè)未進(jìn)行測試的測試項(xiàng)目，并重復(fù)上述步驟，直到所述測試策略中所有的測試項(xiàng)目均完成測試。
[0015]所述測試項(xiàng)目包括:
[0016]電感值測試、電容值測試、直流電阻測試、品質(zhì)因數(shù)測試、空載電壓測試、空載電流測試、阻抗測試、變比測試、絕緣耐壓測試和絕緣電阻測試。
[0017]所述測試設(shè)備組中的測試儀器具體包括，LCR測試儀、信號(hào)發(fā)生器、功率放大器、臺(tái)式萬用表及安規(guī)測試器；具體為:
[0018]所述LCR測試儀用于進(jìn)行電感值測試、電容值測試、直流電阻測試、品質(zhì)因數(shù)測試合阻抗測試；
[0019]所述信號(hào)發(fā)生器、功率放大器和臺(tái)式萬用表用于進(jìn)行變比測試、空載電壓測試、空載電流測試；
[0020]所述安規(guī)測試器用于進(jìn)行絕緣耐壓測試和絕緣電阻測試。
[0021]一種線圈設(shè)備測試裝置，所述裝置包括:
[0022]測試設(shè)備組，所述測試設(shè)備組中包括多個(gè)測試儀器；
[0023]上位機(jī)，用于選定待測試的線圈設(shè)備，預(yù)置測試策略，將測試設(shè)備組初始化；利用選定的測試儀器對待測試線圈進(jìn)行測試
[0024]控制電路模塊，用于根據(jù)所述測試策略從所述測試設(shè)備組中選定測試儀器。
[0025]所述測試策略包括多個(gè)測試項(xiàng)目，所述測試項(xiàng)目包括:
[0026]電感值測試、電容值測試、直流電阻測試、品質(zhì)因數(shù)測試、空載電壓測試、空載電流測試、阻抗測試、變比測試、絕緣耐壓測試和絕緣電阻測試。
[0027]所述測試設(shè)備組中的測試儀器具體包括，LCR測試儀、信號(hào)發(fā)生器、功率放大器、臺(tái)式萬用表及安規(guī)測試器；具體為:
[0028]所述LCR測試儀用于進(jìn)行電感值測試、電容值測試、直流電阻測試、品質(zhì)因數(shù)測試合阻抗測試；
[0029]所述信號(hào)發(fā)生器、功率放大器和臺(tái)式萬用表用于進(jìn)行變比測試、空載電壓測試、空載電流測試；
[0030]所述安規(guī)測試器用于進(jìn)行絕緣耐壓測試和絕緣電阻測試。
[0031]所述控制電路模塊包括:
[0032]高頻儀器選擇單元，用于選取LCR測試儀、信號(hào)發(fā)生器、功率放大器及臺(tái)式萬用表，以完成測試項(xiàng)目；
[0033]高壓儀器選擇單元，用于選取安規(guī)測試器，以完成測試項(xiàng)目。通過以上技術(shù)方案可知，本發(fā)明存在的有益效果是:通過控制電路模塊，實(shí)現(xiàn)針對測試項(xiàng)目在測試設(shè)備組中選定相應(yīng)的測試儀器進(jìn)行測試，針對測試項(xiàng)目自動(dòng)實(shí)現(xiàn)測試儀的選擇，避免了人工切換測試儀器的過程，提高了測試效率，同時(shí)也保證了測試的準(zhǔn)確性。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0034]為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0035]圖1為本發(fā)明實(shí)施例中所述方法流程圖；
[0036]圖2為本發(fā)明實(shí)施例所述裝置結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0037]為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0038]本發(fā)明中將利用控制電路將諸多專用的測試儀器接入到上位機(jī)中，并在測試中針對測試項(xiàng)目自動(dòng)實(shí)現(xiàn)測試儀的切換。參見圖1所示，為本發(fā)明所述線圈測試方法的一個(gè)具體實(shí)施例。本實(shí)施例中所述方法包括以下步驟:
[0039]步驟101、選定待測試的線圈設(shè)備，預(yù)置測試策略。
[0040]本步驟中，首先確定測試的目標(biāo)，也就是待測的線圈設(shè)備，然后針對待測線圈設(shè)備，制定測試策略。所述測試策略中包括多個(gè)測試項(xiàng)目，并且還可以將多個(gè)測試項(xiàng)目排列測試的先后順序。所述測試項(xiàng)目往往包括電感值測試、電容值測試、直流電阻測試、品質(zhì)因數(shù)測試、空載電壓測試、空載電流測試、阻抗測試、變比測試、絕緣耐壓測試和絕緣電阻測試坐寸ο
[0041]步驟102、將測試設(shè)備組初始化，根據(jù)所述測試策略從所述測試設(shè)備組中選定測試儀器，利用選定的測試儀器對待測試線圈進(jìn)行測試。
[0042]測試設(shè)備組可以說是諸多測試儀器的集合。針對不同的測試項(xiàng)目，后續(xù)需要選擇相應(yīng)的測試儀器執(zhí)行測試。測試設(shè)備組中的測試儀器具體包括，LCR測試儀、信號(hào)發(fā)生器、功率放大器、臺(tái)式萬用表及安規(guī)測試器。所述LCR測試儀用于進(jìn)行電感值測試、電容值測試、直流電阻測試、品質(zhì)因數(shù)測試合阻抗測試；所述信號(hào)發(fā)生器、功率放大器和臺(tái)式萬用表用于進(jìn)行變比測試、空載電壓測試、空載電流測試；所述安規(guī)測試器用于進(jìn)行絕緣耐壓測試和絕緣電阻測試。
[0043]測試開始之后，即從所述測試策略中選取一個(gè)測試項(xiàng)目。若測試策略中規(guī)定了測試項(xiàng)目測試的先后順序，則按照順序從第一個(gè)測試項(xiàng)目開始測試，否則可隨機(jī)選擇一個(gè)測試項(xiàng)目開始測試。根據(jù)上述的對應(yīng)關(guān)系，針對被選的測試項(xiàng)目，從所述測試設(shè)備組中選定相應(yīng)的測試儀器。利用選定的測試儀器對待測試線圈進(jìn)行該測試項(xiàng)目的測試。
[0044]在所述測試策略中包括多個(gè)測試項(xiàng)目的情況下，當(dāng)一個(gè)測試項(xiàng)目完成之后，則開始下一個(gè)測試項(xiàng)目的測試，也就是重復(fù)執(zhí)行上述針對測試項(xiàng)目的測試流程，直到測試策略中每個(gè)測試項(xiàng)目均完成，就意味著整個(gè)測試流程結(jié)束。
[0045]參見圖2所示，為本發(fā)明所述線圈設(shè)備測試裝置的具體實(shí)施例。所述裝置即是用來實(shí)現(xiàn)上述方法的硬件裝置。所述裝置具體包括:
[0046]測試設(shè)備組，所述測試設(shè)備組中包括多個(gè)測試儀器。
[0047]上位機(jī)，用于選定待測試的線圈設(shè)備，預(yù)置測試策略，將測試設(shè)備組初始化，利用選定的測試儀器對待測試線圈進(jìn)行測試。
[0048]本實(shí)施例中，所述上位機(jī)的主要作用就是利用程序?qū)φ麄€(gè)測試流程進(jìn)行控制，并且提供人機(jī)交互的平臺(tái)，并且指令選定的測試儀器執(zhí)行測試，在測試中觀測和記錄相關(guān)的數(shù)據(jù)。
[0049]控制電路模塊，用于根據(jù)所述測試策略從所述測試設(shè)備組中選定測試儀器。
[0050]所述控制電路模塊，實(shí)質(zhì)上起到連接測試設(shè)備組和上位機(jī)的作用，實(shí)現(xiàn)測試儀器的選擇和切換等功能。還需要說明的是，針對測試項(xiàng)目中測試原理的不同，上述的測試項(xiàng)目可分為高頻測試和高壓測試兩個(gè)類別，所述控制電路的模塊也由此分為兩個(gè)部分:
[0051]高頻儀器選擇單元，用于選取LCR測試儀、信號(hào)發(fā)生器、功率放大器及臺(tái)式萬用表，以完成測試項(xiàng)目。
[0052]以上測試儀器及對應(yīng)的測試項(xiàng)目，屬于高頻測試的范疇之內(nèi)，所以利用高頻儀器選擇單元對其進(jìn)行控制。所述高頻儀器選擇單元，從硬件角度來說，可以利用PX1-2541板卡，實(shí)現(xiàn)連接、控制、選取或切換相關(guān)的測試儀器。
[0053]高壓儀器選擇單元，用于選取安規(guī)測試器，以完成測試項(xiàng)目。
[0054]安規(guī)測試器，及其對應(yīng)的絕緣耐壓、絕緣電阻兩個(gè)測試項(xiàng)目屬于高壓測試的范疇之內(nèi)。所以利用高壓儀器選擇單元對其進(jìn)行控制。所述高壓儀器選擇單元，從硬件角度來說，可以利用現(xiàn)有的964i式集成高壓轉(zhuǎn)換模塊實(shí)現(xiàn)連接、控制、選取或切換相關(guān)的測試儀器。
[0055]通過以上技術(shù)方案可知，圖1?2所示實(shí)施例存在的有益效果是:通過控制電路模塊，實(shí)現(xiàn)針對測試項(xiàng)目在測試設(shè)備組中選定相應(yīng)的測試儀器進(jìn)行測試，針對測試項(xiàng)目自動(dòng)實(shí)現(xiàn)測試儀的選擇，避免了人工切換測試儀器的過程，提高了測試效率，同時(shí)也保證了測試的準(zhǔn)確性。
[0056]以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對于本【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤飾，這些改進(jìn)和潤飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種線圈設(shè)備測試方法，其特征在于，所述方法包括: 選定待測試的線圈設(shè)備，預(yù)置測試策略； 將測試設(shè)備組初始化，根據(jù)所述測試策略從所述測試設(shè)備組中選定測試儀器，利用選定的測試儀器對待測試線圈進(jìn)行測試。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述方法，其特征在于，所述測試策略中包括多個(gè)測試項(xiàng)目，則所述根據(jù)所述測試策略從所述測試設(shè)備組中選定測試儀器，利用選定的測試儀器對待測試線圈進(jìn)行測試具體為: 從所述測試策略中選取一個(gè)測試項(xiàng)目，并根據(jù)該測試項(xiàng)目從所述測試設(shè)備組中選定相應(yīng)的測試儀器，利用選定的測試儀器對待測試線圈進(jìn)行該測試項(xiàng)目的測試； 當(dāng)一個(gè)測試項(xiàng)目測試完成，則從所述測試策略中重新選定一個(gè)未進(jìn)行測試的測試項(xiàng)目，并重復(fù)上述步驟，直到所述測試策略中所有的測試項(xiàng)目均完成測試。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述方法，其特征在于，所述測試項(xiàng)目包括: 電感值測試、電容值測試、直流電阻測試、品質(zhì)因數(shù)測試、空載電壓測試、空載電流測試、阻抗測試、變比測試、絕緣耐壓測試和絕緣電阻測試。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述方法，其特征在于，所述測試設(shè)備組中的測試儀器具體包括，LCR測試儀、信號(hào)發(fā)生器、功率放大器、臺(tái)式萬用表及安規(guī)測試器；具體為: 所述LCR測試儀用于進(jìn)行電感值測試、電容值測試、直流電阻測試、品質(zhì)因數(shù)測試合阻抗測試； 所述信號(hào)發(fā)生器、功率放大器和臺(tái)式萬用表用于進(jìn)行變比測試、空載電壓測試、空載電流測試； 所述安規(guī)測試器用于進(jìn)行絕緣耐壓測試和絕緣電阻測試。
5.一種線圈設(shè)備測試裝置，其特征在于，所述裝置包括: 測試設(shè)備組，所述測試設(shè)備組中包括多個(gè)測試儀器； 上位機(jī)，用于選定待測試的線圈設(shè)備，預(yù)置測試策略，將測試設(shè)備組初始化；利用選定的測試儀器對待測試線圈進(jìn)行測試 控制電路模塊，用于根據(jù)所述測試策略從所述測試設(shè)備組中選定測試儀器。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述裝置，其特征在于，所述測試策略包括多個(gè)測試項(xiàng)目，所述測試項(xiàng)目包括: 電感值測試、電容值測試、直流電阻測試、品質(zhì)因數(shù)測試、空載電壓測試、空載電流測試、阻抗測試、變比測試、絕緣耐壓測試和絕緣電阻測試。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述裝置，其特征在于，所述測試設(shè)備組中的測試儀器具體包括，LCR測試儀、信號(hào)發(fā)生器、功率放大器、臺(tái)式萬用表及安規(guī)測試器；具體為: 所述LCR測試儀用于進(jìn)行電感值測試、電容值測試、直流電阻測試、品質(zhì)因數(shù)測試合阻抗測試； 所述信號(hào)發(fā)生器、功率放大器和臺(tái)式萬用表用于進(jìn)行變比測試、空載電壓測試、空載電流測試； 所述安規(guī)測試器用于進(jìn)行絕緣耐壓測試和絕緣電阻測試。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述裝置，其特征在于，所述控制電路模塊包括: 高頻儀器選擇單元，用于選取LCR測試儀、信號(hào)發(fā)生器、功率放大器及臺(tái)式萬用表，以完成測試項(xiàng)目；高壓儀器選擇單元，用于選取安規(guī)測試器，以完成測試項(xiàng)目。
【文檔編號(hào)】G01R31/12GK104133096SQ201410370011
【公開日】2014年11月5日 申請日期:2014年7月30日 優(yōu)先權(quán)日:2014年7月30日
【發(fā)明者】孟馳宇, 張磊, 賈永杰, 閆志紅 申請人:北京鐵路信號(hào)有限公司