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一種提高同測數(shù)的新型測試開發(fā)方法
【專利摘要】一種提高同測數(shù)的新型測試開發(fā)方法，包括：第一步驟，用于接收測試需求；第二步驟，用于評估測試需求以便針對芯片的管腳對測試需求進行分組歸類；第三步驟，用于評估分組歸類后的管腳能否共享測試通道；其中，在第三步驟中判斷分組歸類后的管腳不能共享測試通道的情況下，返回第二步驟；在第三步驟中判斷分組歸類后的管腳能共享測試通道的情況下執(zhí)行第四步驟；第四步驟，用于確認同測數(shù)。第五步驟，用于探針卡設計和制作；第六步驟，用于測試程序開發(fā)；第七步驟，用于測試程序調(diào)試；第八步驟，用于晶圓測試。在測試機資源不變的情況下，采用本發(fā)明的測試開發(fā)方法，可以在保證測試質(zhì)量下，大幅度提升同測數(shù)，減小總測試時間，提升測試效率。
【專利說明】一種提高同測數(shù)的新型測試開發(fā)方法

【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及微電子領域芯片功能性測試領域，更具體地說，本發(fā)明涉及一種提高同測數(shù)的新型測試開發(fā)方法。

【背景技術】
[0002]芯片的管腳基本可以分為輸入管腳、輸出管腳、電源、地管腳等等。采用自動測試機臺如T2000測試芯片的過程中，每個芯片的管腳都需要占用專門的測試機通道資源，這些測試機通道資源會根據(jù)測試要求產(chǎn)生芯片的輸入波形(輸入向量)以及比對芯片的輸出波形是否正確等工作，如圖1所示。傳統(tǒng)的同測設計中，每個芯片的管腳占用一個測試機通道資源，因此可以實現(xiàn)的同測數(shù)可以這樣預估:測試同測數(shù)=測試機總通道數(shù)/芯片管腳數(shù)。因此，每個芯片占用的測試通道資源不同，在測試通道資源一定的情況下，可以實現(xiàn)的同測數(shù)也不同。舉例來說:如果測試機有1024個測試通道，而一個SRAM芯片的輸入輸出管腳數(shù)為32，那么硬件理論上可以實現(xiàn)1024/32 = 32同測。傳統(tǒng)的同測設計因為硬件限制，同測數(shù)都難以提高。如果采用不斷增加測試機配置實現(xiàn)同樣的同測數(shù)，那么測試成本將難以承受。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明所要解決的技術問題是針對現(xiàn)有技術中存在上述缺陷，提供一種能夠在測試機資源一定的情況下以較少的測試通道數(shù)實現(xiàn)較高的同測能力的新型測試開發(fā)方法。
[0004]為了實現(xiàn)上述技術目的，根據(jù)本發(fā)明，提供了一種提高同測數(shù)的新型測試開發(fā)方法，其包括:第一步驟，用于接收測試需求；第二步驟，用于評估測試需求以便針對芯片的管腳對測試需求進行分組歸類；第三步驟，用于評估分組歸類后的管腳能否共享測試通道；其中，在第三步驟中判斷分組歸類后的管腳不能共享測試通道的情況下，返回第二步驟；在第三步驟中判斷分組歸類后的管腳能共享測試通道的情況下執(zhí)行第四步驟；第四步驟，用于確認同測數(shù)。
[0005]優(yōu)選地，所述提高同測數(shù)的新型測試開發(fā)方法還包括:第五步驟，用于探針卡設計和制作；第六步驟，用于測試程序開發(fā)；第七步驟，用于測試程序調(diào)試；第八步驟，用于晶圓測試。
[0006]優(yōu)選地，在第四步驟中，確認同測數(shù)預估=(測試機通道數(shù)-芯片共享管腳數(shù))/芯片非共享管腳數(shù)。
[0007]優(yōu)選地，第三步驟包括將具有相同輸入結構且無上下拉電阻的管腳歸為一個驅(qū)動類別。
[0008]優(yōu)選地，歸為一個驅(qū)動類別的管腳共享測試通道資源。
[0009]本發(fā)明提供了一種新型的測試開發(fā)方法，在測試機資源一定的情況下，針對同測芯片的輸入都是相同的，而輸出不同的特點，將同測芯片的具有相似結構以及輸入特性的輸入端子歸類，共享同一個驅(qū)動，用原來單測的一組輸入測試通道來驅(qū)動多個同測芯片的輸入端，保持同測芯片的輸出端測試資源獨占，從而可以較低的測試資源實現(xiàn)較高的同測數(shù)，并且不影響測試質(zhì)量。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0010]結合附圖，并通過參考下面的詳細描述，將會更容易地對本發(fā)明有更完整的理解并且更容易地理解其伴隨的優(yōu)點和特征，其中:
[0011]圖1示意性地示出了根據(jù)現(xiàn)有技術的芯片測試工作示意圖。
[0012]圖2示意性地示出了根據(jù)現(xiàn)有技術的測試開發(fā)方法的流程圖。
[0013]圖3示意性地示出了根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的提高同測數(shù)的新型測試開發(fā)方法的流程圖。
[0014]圖4示出了傳統(tǒng)同測測試通道分配示例。
[0015]圖5示出了本發(fā)明的同測測試通道分配示例。
[0016]需要說明的是，附圖用于說明本發(fā)明，而非限制本發(fā)明。注意，表示結構的附圖可能并非按比例繪制。并且，附圖中，相同或者類似的元件標有相同或者類似的標號。

【具體實施方式】
[0017]為了使本發(fā)明的內(nèi)容更加清楚和易懂，下面結合具體實施例和附圖對本發(fā)明的內(nèi)容進行詳細描述。
[0018]為了清楚地解釋本發(fā)明的新型測試開發(fā)方法，先簡要介紹現(xiàn)有技術的測試開發(fā)方法的流程。圖2示意性地示出了根據(jù)現(xiàn)有技術的測試開發(fā)方法的流程圖。如圖2所示，在現(xiàn)有技術中，測試開發(fā)方法一般包括:接收測試需求；評估單個芯片需要的資源數(shù)；評估測試機資源；確認同測數(shù)；探針卡設計和制作；測試程序開發(fā)；測試程序調(diào)試；以及最后的晶圓測試。
[0019]響應地，圖3示意性地示出了根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的提高同測數(shù)的新型測試開發(fā)方法的流程圖。
[0020]如圖3所示，根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的提高同測數(shù)的新型測試開發(fā)方法包括:
[0021]第一步驟SI，用于接收測試需求；
[0022]第二步驟S2，用于評估測試需求以便針對芯片的管腳對測試需求進行分組歸類；例如，可以對芯片的輸入管腳、輸出管腳、電源數(shù)目、狀態(tài)及其他測試需求進行分組歸類；
[0023]第三步驟S3，用于評估芯片的管腳的分組歸類是否合理，即，評估分組歸類后的管腳能否共享測試通道；優(yōu)選地，該步驟包括對于具有相同輸入結構且無上下拉電阻的管腳(例如該管腳對驅(qū)動能力要求不高)，使得它們可以歸為一個驅(qū)動類別；進一步優(yōu)選地，對于歸為一個驅(qū)動類別的管腳，可以共享測試通道資源，例如可以共享一個測試通道；
[0024]其中，在第三步驟S3中判斷芯片的管腳分類不合理從而不能共享測試通道的情況下(即，沒有任意管腳被分組歸類為一個驅(qū)動類別的情況下)，返回第二步驟S2 ;在第三步驟S3中判斷芯片的管腳分類合理且能共享測試通道的情況下(即，存在兩個或更多管腳被分組歸類為一個驅(qū)動類別的情況下)執(zhí)行第四步驟S4 ；
[0025]第四步驟S4，用于確認同測數(shù)；具體地，同測數(shù)預估=(測試機通道數(shù)C-芯片共享管腳數(shù)η) /芯片非共享管腳數(shù)m ；
[0026]第五步驟S5，用于探針卡設計和制作；
[0027]第六步驟S6，用于測試程序開發(fā)；
[0028]第七步驟S7，用于測試程序調(diào)試；
[0029]第八步驟S8，用于晶圓測試。
[0030]第五步驟S5至第八步驟S8可以采用任意現(xiàn)有技術的方式執(zhí)行。
[0031]在測試機資源基本不變的情況下，通過采用本發(fā)明的測試開發(fā)方法，可以在保證測試質(zhì)量下，大幅度提升同測數(shù)量，減小總測試時間，提升測試效率。
[0032]對于同一情況，圖4示出了傳統(tǒng)同測測試通道分配示例，圖5示出了本發(fā)明的同測測試通道分配示例。其中，圖4的現(xiàn)有技術中同測數(shù)預估=C/(n+m)，圖5的本發(fā)明示例中同測數(shù)預估=(C-n)/m。
[0033]因此，本發(fā)明提供了一種新型的大規(guī)模同測測試開發(fā)方法，在測試機資源一定的情況下，對具有同樣驅(qū)動要求的不同待測芯片的同一輸入管腳進行歸類，采用同一個測試通道資源驅(qū)動這個共享組別中的所有輸入管腳，因此減少了測試資源的使用，有效的提升了同測數(shù)。本發(fā)明能夠在不增加測試機的硬件資源的情況下提升同測數(shù)。
[0034]如下表1示出了傳統(tǒng)同測開發(fā)方法與本發(fā)明提供的新型大規(guī)模同測開發(fā)方法的效率比較。
[0035]表1
[0036]

【權利要求】
1.一種提高同測數(shù)的新型測試開發(fā)方法，其特征在于包括: 第一步驟，用于接收測試需求； 第二步驟，用于評估測試需求以便針對芯片的管腳對測試需求進行分組歸類； 第三步驟，用于評估分組歸類后的管腳能否共享測試通道； 其中，在第三步驟中判斷分組歸類后的管腳不能共享測試通道的情況下，返回第二步驟；在第三步驟中判斷分組歸類后的管腳能共享測試通道的情況下執(zhí)行第四步驟； 第四步驟，用于確認同測數(shù)。
2.根據(jù)權利要求1所述的提高同測數(shù)的新型測試開發(fā)方法，其特征在于還包括: 第五步驟，用于探針卡設計和制作； 第六步驟，用于測試程序開發(fā)； 第七步驟，用于測試程序調(diào)試； 第八步驟，用于晶圓測試。
3.根據(jù)權利要求1或2所述的提高同測數(shù)的新型測試開發(fā)方法，其特征在于，在第四步驟中，確認同測數(shù)預估=(測試機通道數(shù)-芯片共享管腳數(shù))/芯片非共享管腳數(shù)。
4.根據(jù)權利要求1或2所述的提高同測數(shù)的新型測試開發(fā)方法，其特征在于，第三步驟包括將具有相同輸入結構且無上下拉電阻的管腳歸為一個驅(qū)動類別。
5.根據(jù)權利要求4所述的提高同測數(shù)的新型測試開發(fā)方法，其特征在于，歸為一個驅(qū)動類別的管腳共享測試通道資源。
【文檔編號】G01R31/28GK104133172SQ201410390798
【公開日】2014年11月5日 申請日期:2014年8月8日 優(yōu)先權日:2014年8月8日
【發(fā)明者】李強, 蔡恩靜, 王繼華, 高金德 申請人:上海華力微電子有限公司