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太陽(yáng)模擬器輻照不均勻度輔助測(cè)試裝置制造方法
【專利摘要】太陽(yáng)模擬器輻照不均勻度輔助測(cè)試裝置，它包括由橫支架和豎支架垂直相連構(gòu)成的L形支架和光源，橫支架和豎支架上分別設(shè)有9個(gè)以上的沿橫支架軸向延伸的或沿豎支架軸向延伸的長(zhǎng)條形槽，每個(gè)長(zhǎng)條形槽內(nèi)均設(shè)有一個(gè)光纖頭，所述光纖頭通過(guò)光纜與光源相連，所述光纖頭的前端設(shè)有外螺紋、后端設(shè)有限位板，所述光纖頭的前端經(jīng)相應(yīng)的長(zhǎng)條形槽伸入由橫支架和豎支架圍合成的半封閉區(qū)域內(nèi)，所述光纖頭可沿相應(yīng)的長(zhǎng)條形槽移動(dòng)并通過(guò)與其外螺紋相配合的螺母緊定。使用時(shí)，光纖頭發(fā)射出具有較好可視性的彩色激光束，這些激光束相互垂直相交形成無(wú)接觸式的二維正交單元格，因此本裝置具有操作方便、適用于多種規(guī)格尺寸的太陽(yáng)模擬器的優(yōu)點(diǎn)。
【專利說(shuō)明】太陽(yáng)模擬器輻照不均勻度輔助測(cè)試裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種太陽(yáng)模擬器輻照不均勻度輔助測(cè)試裝置，用以輔助檢測(cè)太陽(yáng)模擬器的輻照不均勻度。

【背景技術(shù)】
[0002]輻照不均勻度是太陽(yáng)模擬器的一項(xiàng)重要技術(shù)指標(biāo)，它反映了太陽(yáng)模擬器輻照面上各點(diǎn)的輻照度相對(duì)于整個(gè)輻照面上輻照度平均值的偏差，表征了輻照面均勻輻照的程度。輻照不均勻度對(duì)被測(cè)太陽(yáng)能電池組件性能的測(cè)試準(zhǔn)確度影響很大。太陽(yáng)能電池組件是由若干片單體電池經(jīng)過(guò)串聯(lián)、并聯(lián)組成的，每一個(gè)串聯(lián)電路輸出的電流大小取決于輻照最弱的那一片單體電池，這意味著可能存在的小區(qū)域弱光將間接影響一串電路的功率輸出，不均勻的輻照將會(huì)導(dǎo)致太陽(yáng)能電池組件上的各個(gè)電池片接收到的光輻射不同，從而使太陽(yáng)能電池效率和功率評(píng)定廣生偏差。
[0003]根據(jù)IEC60904.9:2007對(duì)太陽(yáng)模擬器性能的要求，測(cè)試太陽(yáng)模擬器輻照不均勻度的方法為:將太陽(yáng)模擬器的有效輻照面均等劃分為若干個(gè)區(qū)域，每個(gè)區(qū)域的有效受光面積不得大于400cm2，區(qū)域的個(gè)數(shù)由模擬器有效輻照面積所決定且總數(shù)不能少于64。
[0004]申請(qǐng)?zhí)枮?00920255238.3的中國(guó)專利公開(kāi)了一種太陽(yáng)模擬器的測(cè)試架，它包括支架、直角連接器和連接線，所述支架和直角連接器均為4個(gè)，支架與直角連接器配合圍成與太陽(yáng)模擬器配合的矩形；所述各支架上都均勻設(shè)有復(fù)數(shù)個(gè)穿孔，且對(duì)邊支架上的穿孔對(duì)稱布置，所述連接線連接于對(duì)邊支架的對(duì)稱的穿孔內(nèi)，形成兩組相互垂直的平行線，將支架與直角連接器配合圍成的矩形分隔成復(fù)數(shù)個(gè)網(wǎng)格。這種太陽(yáng)模擬器的測(cè)試架雖避免了以往劃線操作帶來(lái)的費(fèi)時(shí)費(fèi)力、危險(xiǎn)等一系列問(wèn)題，但卻只能適用于單一規(guī)格尺寸的太陽(yáng)模擬器；另外測(cè)試架中間布有魚(yú)線網(wǎng)格，帶有測(cè)試光纜的檢測(cè)輻照度的檢測(cè)器需要依次從一個(gè)網(wǎng)狀單元格拿出后再放置到下一單元格，故存在操作不方便及易損壞檢測(cè)器的問(wèn)題。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種操作方便、能同時(shí)適用于多種規(guī)格尺寸的太陽(yáng)模擬器的太陽(yáng)模擬器輻照不均勻度輔助測(cè)試裝置。
[0006]為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:太陽(yáng)模擬器輻照不均勻度輔助測(cè)試裝置，它包括由橫支架和豎支架垂直相連構(gòu)成的L形支架，它還包括光源，橫支架和豎支架上分別設(shè)有9個(gè)以上的沿橫支架軸向延伸的或沿豎支架軸向延伸的長(zhǎng)條形槽，每個(gè)長(zhǎng)條形槽內(nèi)均設(shè)有一個(gè)光纖頭，所述光纖頭通過(guò)光纜與光源相連，所述光纖頭的前端設(shè)有外螺紋、后端設(shè)有限位板，所述光纖頭的前端經(jīng)相應(yīng)的長(zhǎng)條形槽伸入由橫支架和豎支架圍合成的半封閉區(qū)域內(nèi)，限位板位于橫支架或豎支架的外側(cè)，橫支架上的光纖頭的軸線平行于豎支架的軸線，豎支架上的光纖頭的軸線平行于橫支架的軸線，所述光纖頭可沿相應(yīng)的長(zhǎng)條形槽移動(dòng)并通過(guò)與其外螺紋相配合的螺母緊定。
[0007]為簡(jiǎn)潔說(shuō)明起見(jiàn)，以下本發(fā)明所述的太陽(yáng)模擬器輻照不均勻度輔助測(cè)試裝置簡(jiǎn)稱為本裝置。
[0008]本裝置在使用時(shí)，先通過(guò)光源控制橫支架和豎支架上的光纖頭發(fā)射出激光束，這些激光束相互垂直相交形成無(wú)接觸式的二維正交單元格，這些二維正交單元格將太陽(yáng)模擬器的檢測(cè)臺(tái)面均分為相應(yīng)要求的單元格，然后將檢測(cè)輻照度的檢測(cè)器直接放置在單元格內(nèi)進(jìn)行測(cè)試即可。當(dāng)需要改變單元格的尺寸時(shí)，先松退螺母，將光纖頭在相應(yīng)的長(zhǎng)條形槽內(nèi)調(diào)整到合適的位置，再旋緊螺母，因此本裝置能夠基本滿足所有規(guī)格尺寸的太陽(yáng)模擬器的輻照不均勻度測(cè)試；由于激光束不會(huì)阻擋檢測(cè)器，在當(dāng)前單元格測(cè)試完畢后可很方便地將檢測(cè)器平移推至下一個(gè)單元格，而不需要拿出檢測(cè)器再放置到下一個(gè)單元格，降低了操作者的工作強(qiáng)度并且消除了檢測(cè)器被損傷的隱患。綜上，本裝置具有操作方便、能同時(shí)適用于多種規(guī)格尺寸的優(yōu)點(diǎn)。
[0009]作為本發(fā)明的改進(jìn)，所述光源發(fā)出的光為彩色光。所述彩色光為紅色、綠色、紫色或藍(lán)色等具有較好的可視性的彩色光，這樣更容易觀測(cè)。
[0010]作為本發(fā)明的改進(jìn)，所述光纖頭發(fā)射出的激光束的功率小于0.4mW。在此功率范圍內(nèi)的激光束不會(huì)對(duì)人類造成傷害。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0011]圖1是本發(fā)明一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0012]圖2是圖1的A向視圖。
[0013]圖3是圖1的B向視圖。
[0014]圖4是圖2的C一C向剖視圖。
[0015]圖5是圖3的D— D向剖視圖。

【具體實(shí)施方式】
[0016]下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步描述:
參見(jiàn)圖1、圖2、圖3、圖4和圖5。
[0017]本發(fā)明一實(shí)施例提供的太陽(yáng)模擬器輻照不均勻度輔助測(cè)試裝置，它包括由橫支架11和豎支架12垂直相連構(gòu)成的L形支架I和光源2，橫支架11和豎支架12上分別設(shè)有9個(gè)沿橫支架11軸向延伸的或沿豎支架12軸向延伸的長(zhǎng)條形槽13，每個(gè)長(zhǎng)條形槽13內(nèi)均設(shè)有一個(gè)光纖頭3，所述光纖頭3通過(guò)光纜4與光源2相連，所述光纖頭3的前端設(shè)有外螺紋、后端設(shè)有限位板31，所述光纖頭3的前端經(jīng)相應(yīng)的長(zhǎng)條形槽13伸入由橫支架11和豎支架12圍合成的半封閉區(qū)域內(nèi)，限位板31位于橫支架11或豎支架12的外側(cè)，橫支架11上的光纖頭3的軸線平行于豎支架12的軸線，豎支架12上的光纖頭3的軸線平行于橫支架11的軸線，所述光纖頭3可沿相應(yīng)的長(zhǎng)條形槽13移動(dòng)并通過(guò)與其外螺紋相配合的螺母5緊定。
[0018]在本實(shí)施例中，橫支架11的長(zhǎng)度為2m，豎支架12的長(zhǎng)度為lm，能滿足目前所有規(guī)格尺寸的太陽(yáng)模擬器檢測(cè)要求，L形支架I可采用長(zhǎng)X寬X厚為3000mmX20 mmXl mm的狹長(zhǎng)鋼板折彎制作，橫支架11上每隔50mm銑出10mmX 3mm的狹縫，豎支架12上每隔50mm統(tǒng)出50mm X 3mm的狹縫。
[0019]光源2發(fā)出的光為彩色光，所述彩色光為紅色、綠色、紫色或藍(lán)色等具有較好的可視性的彩色光。
[0020]光纖頭3發(fā)射出的激光束的功率優(yōu)選為小于0.4mff,光纖頭3為金屬鎧裝接頭，圖1中虛線部分表不的是光纖頭3發(fā)射出的激光束。
[0021]以上只是本發(fā)明的一種較佳實(shí)施方式。應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.太陽(yáng)模擬器輻照不均勻度輔助測(cè)試裝置，它包括由橫支架和豎支架垂直相連構(gòu)成的L形支架，其特征在于:它還包括光源，橫支架和豎支架上分別設(shè)有9個(gè)以上的沿橫支架軸向延伸的或沿豎支架軸向延伸的長(zhǎng)條形槽，每個(gè)長(zhǎng)條形槽內(nèi)均設(shè)有一個(gè)光纖頭，所述光纖頭通過(guò)光纜與光源相連，所述光纖頭的前端設(shè)有外螺紋、后端設(shè)有限位板，所述光纖頭的前端經(jīng)相應(yīng)的長(zhǎng)條形槽伸入由橫支架和豎支架圍合成的半封閉區(qū)域內(nèi)，限位板位于橫支架或豎支架的外側(cè)，橫支架上的光纖頭的軸線平行于豎支架的軸線，豎支架上的光纖頭的軸線平行于橫支架的軸線，所述光纖頭可沿相應(yīng)的長(zhǎng)條形槽移動(dòng)并通過(guò)與其外螺紋相配合的螺母緊定。
2.如權(quán)利要求1所述的太陽(yáng)模擬器輻照不均勻度輔助測(cè)試裝置，其特征在于:所述光源發(fā)出的光為彩色光。
3.如權(quán)利要求1或2所述的太陽(yáng)模擬器輻照不均勻度輔助測(cè)試裝置，其特征在于:所述光纖頭發(fā)射出的激光束的功率小于0.4mW。
【文檔編號(hào)】G01M11/02GK104198161SQ201410466268
【公開(kāi)日】2014年12月10日 申請(qǐng)日期:2014年9月13日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月13日
【發(fā)明者】韓國(guó)華, 朱文星, 朱炬, 毛翌春, 王傳才, 任曉楠, 王偉 申請(qǐng)人:中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第四十一研究所