測距電路模塊的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種測距電路模塊，旨在提供一種電路簡單，時序要求低，測距無跳整周期數(shù)，可靠性高的測距電路模塊。本發(fā)明通過下述技術方案予以解決：兩個計數(shù)器分別對應連接四個數(shù)據(jù)鎖存電路，每個計數(shù)器的輸入端和輸出端對應并聯(lián)于兩個數(shù)據(jù)鎖存電路的輸入端，輸入端向測距電路模塊輸入發(fā)測量全“1”的信號脈寬為鐘寬度，且發(fā)測量全“1”上升沿與發(fā)測量相位過零點對齊；或者發(fā)測量全“1”脈寬為均勻橫跨發(fā)測量相位過零點，且持續(xù)周期小于或等于一個發(fā)測量相位周期；輸入端向測距電路模塊輸入收測量全“1”的信號脈寬為一個系統(tǒng)鐘寬度，數(shù)據(jù)鎖存電路提取相位整周期數(shù)和相位，數(shù)據(jù)鎖存后統(tǒng)一進行測距計算，通過采樣后計算完成相位周期測粗距離和相位測細距離。
【專利說明】測距電路模塊
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種主要用于航天測控領域各種相位周期測粗距離和相位測細距離的測距電路。
【背景技術】
[0002]目前，現(xiàn)有技術采用圖2所示測距電路，是通過減法器計算收發(fā)測量相位差值，計算出測量細距離；再通過采樣時刻I計數(shù)發(fā)相位鐘個數(shù)，然后通過延時半個發(fā)相位周期采樣時刻2計數(shù)發(fā)相位鐘個數(shù)，并通過收發(fā)測量相位差值判斷提取真實粗距離，粗距離為發(fā)相位鐘個數(shù)。如果收發(fā)測量相位差值在0° -90°粗距離用采樣時刻2的值，收發(fā)測量相位差值在90° -270°粗距離用采樣時刻I的值，收發(fā)測量相位差值在270° -360°粗距離用采樣時刻2的值減I。這種方法存在下述缺點:時序復雜，測距跳整周期判定復雜，測距計算復雜、環(huán)路抖動引起距離跳大數(shù)，在采樣時刻，必須注意采樣信號與發(fā)相位周期信號之間的相對位置關系，若在發(fā)相位過零點附近采樣，由于環(huán)路必然存在的抖動會導致得到的N值變化I個整相位周數(shù)，這同樣會引起距離跳大數(shù)，為了解決距離跳大數(shù)設計復雜，計算判斷環(huán)節(jié)多。另外發(fā)測量相位周期鐘頻率必須和收測量相位周期鐘頻率相同，測距范圍受一定的限制。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0003]為了克服現(xiàn)有測距技術測距提取電路、時序復雜，測距跳整周期判定復雜，測距計算復雜、環(huán)路抖動引起距離跳大數(shù)等問題，本發(fā)明的目的提供一種電路簡單，時序要求低，測距無跳整周期數(shù)，可靠性高的測距電路模塊。
[0004]本發(fā)明解決其技術問題所采用的技術方案是:一種測距電路模塊，包括，計數(shù)器和數(shù)據(jù)鎖存電路，計數(shù)器的輸入測量接口為發(fā)測量相位和收測量相位，其特征在于:兩個計數(shù)器分別對應連接四個數(shù)據(jù)鎖存電路，每個計數(shù)器的輸入端和輸出端對應并聯(lián)于兩個數(shù)據(jù)鎖存電路的輸入端，輸入端向測距電路模塊輸入的發(fā)測量全“I”的信號脈寬為一個系統(tǒng)鐘寬度，且發(fā)測量全“I”上升沿與發(fā)測量相位過零點對齊；或者發(fā)測量全“I”脈寬為均勻橫跨發(fā)測量相位過零點，且持續(xù)周期小于或等于一個發(fā)測量相位周期；輸入端向測距電路模塊輸入收測量全“ I ”的信號脈寬為一個系統(tǒng)鐘寬度，且收測量全“ I ”上升沿與收測量相位過零點對齊；或者收測量全“ I ”脈寬為均勻橫跨收測量相位過零點且持續(xù)周期小于或等于一個收測量相位周期；數(shù)據(jù)鎖存電路提取相位整周期數(shù)和相位，數(shù)據(jù)鎖存后統(tǒng)一進行測距計算，通過采樣后計算完成相位周期測粗距離和相位測細距離。
[0005]兩路計數(shù)器分別計數(shù)發(fā)測量相位過零點的個數(shù)和收測量相位過零點的個數(shù)，同時通過數(shù)據(jù)鎖存電路鎖存發(fā)相位和收相位，統(tǒng)一采樣后進行測距計算測量整周期數(shù)為測量相位過零點個數(shù)，計算測量粗距離，發(fā)相位和收相位共同計算測量細距離。
[0006]本發(fā)明相比于現(xiàn)有技術具有如下有益效果:
本發(fā)明采用兩個計數(shù)器分別對應于四個數(shù)據(jù)鎖存電路，每個計數(shù)器的輸入端和輸出端對應并聯(lián)于兩個數(shù)據(jù)鎖存電路的輸入端，對相位周期測粗距離和相位測細距離電路簡化，通過輸入測量全“ 1 ”和測量相位的關系，測量整周期數(shù)為測量相位過零點個數(shù)，計算測量粗距離。解決了環(huán)路抖動引起的距離跳大數(shù)，設計復雜，計算判斷環(huán)節(jié)多等問題。
[0007]本發(fā)明只需要2個計數(shù)器和4個數(shù)據(jù)鎖存電路，2個計數(shù)器分別計數(shù)發(fā)測量相位過零點的個數(shù)和收測量相位過零點的個數(shù)，通過兩個計數(shù)器和四個數(shù)據(jù)鎖存電路簡單的計數(shù)和鎖存完成相位整周期數(shù)和相位的提取，通過采樣后計算完成相位周期測粗距離和相位測細距離功能，從而解決了現(xiàn)有技術測距提取時序復雜，測距電路復雜，測距跳整周期判定復雜，測距計算復雜等問題。
[0008]本發(fā)明采用輸入測量接口為發(fā)測量相位和收測量相位，通過相位過零點計數(shù)測量相位整周期數(shù)，無測量相位整周期數(shù)跳變問題。
[0009]本發(fā)明輸入測量接口只需要發(fā)測量相位和收測量相位，不需要測量整周相位鐘信號；可以通過簡單的計數(shù)和鎖存完成相位整周期數(shù)和相位的提取，通過鎖存采樣后計算完成相位周期測粗距離和相位測細距離功能，測距靈活可變，不需要發(fā)測量相位周期鐘頻率必須和收測量相位周期鐘頻率相同，測距適應范圍更廣。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0010]下面結(jié)合附圖和實施例對本專利進一步說明。
[0011]圖1是本發(fā)明測距電路采樣提取示意圖。
[0012]圖2是現(xiàn)有的測距電路的采樣提取示意圖。
【具體實施方式】
[0013]圖1描述的測距電路，包括，計數(shù)器和數(shù)據(jù)鎖存電路，計數(shù)器的輸入測量接口為發(fā)測量相位和收測量相位.兩個計數(shù)器分別對應于四個數(shù)據(jù)鎖存電路，每個計數(shù)器的輸入端和輸出端對應并聯(lián)于兩個數(shù)據(jù)鎖存電路的輸入端，輸入發(fā)測量全“ 1”的脈寬為一個系統(tǒng)鐘寬度，且發(fā)測量全“1”上升沿與發(fā)測量相位過零點對齊；或者發(fā)測量全“1”脈寬為均勻橫跨發(fā)測量相位過零點且持續(xù)周期小于或等于一個發(fā)測量相位周期；輸入收測量全“1”的脈寬為一個系統(tǒng)鐘寬度，且輸入收測量全“1”上升沿與收測量相位過零點對齊；或者收測量全“1”脈寬為均勻橫跨收測量相位過零點且持續(xù)周期小于或等于一個收測量相位周期；兩路計數(shù)器分別計數(shù)發(fā)測量相位過零點的個數(shù)和收測量相位過零點的個數(shù)，同時通過數(shù)據(jù)鎖存電路鎖存發(fā)相位和收相位，測量整周期數(shù)為測量相位過零點個數(shù)，計算測量粗距離，發(fā)相位和收相位共同計算測量細距離。兩路計數(shù)器經(jīng)過計算得到測距距離:
【權利要求】
1.一種測距電路模塊，包括計數(shù)器和數(shù)據(jù)鎖存電路，計數(shù)器的輸入測量接口為發(fā)測量相位和收測量相位，其特征在于:兩個計數(shù)器分別對應連接四個數(shù)據(jù)鎖存電路，每個計數(shù)器的輸入端和輸出端對應并聯(lián)于兩個數(shù)據(jù)鎖存電路的輸入端，輸入端向測距電路模塊輸入的發(fā)測量全“ 1 ”的信號脈寬為一個系統(tǒng)鐘寬度，且發(fā)測量全“ 1 ”上升沿與發(fā)測量相位過零點對齊；或者發(fā)測量全“ 1”脈寬為均勻橫跨發(fā)測量相位過零點，且持續(xù)周期小于或等于一個發(fā)測量相位周期；輸入端向測距電路模塊輸入收測量全“1”的信號脈寬為一個系統(tǒng)鐘寬度，且收測量全“1”上升沿與收測量相位過零點對齊；或者收測量全“1”脈寬為均勻橫跨收測量相位過零點且持續(xù)周期小于或等于一個收測量相位周期；數(shù)據(jù)鎖存電路提取相位整周期數(shù)和相位，數(shù)據(jù)鎖存后統(tǒng)一進行測距計算，通過采樣后計算完成相位周期測粗距離和相位測細距離。
2.按權利要求1所述的測距電路模塊，其特征在于:兩路計數(shù)器分別計數(shù)發(fā)測量相位過零點的個數(shù)和收測量相位過零點的個數(shù)，同時通過數(shù)據(jù)鎖存電路鎖存發(fā)相位和收相位，統(tǒng)一采樣后進行測距計算，測量整周期數(shù)為測量相位過零點個數(shù)，計算測量粗距離，發(fā)相位和收相位共同計算測量細距離。
3.按權利要求1或2所述的測距電路模塊，其特征在于，兩路計數(shù)器經(jīng)過計算得到測距距離:
【文檔編號】G01S7/02GK103792516SQ201410040564
【公開日】2014年5月14日 申請日期:2014年1月27日 優(yōu)先權日:2014年1月27日
【發(fā)明者】徐成節(jié), 扈景召 申請人:中國電子科技集團公司第十研究所
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