一種用于鍺晶體電阻率測量的測量架的制作方法
【專利摘要】一種用于鍺晶體電阻率測量的測量架，底座中部設有互相平行的兩條導軌，導軌上設有軸承，軸承之間通過連接板固定連接；底板通過回轉軸承設置在連接板上；底板周緣設有若干立柱，立柱上端設有橫臂，橫臂可以自由移動，且由緊固螺絲固定在立柱上；橫臂的前端套設有觸頭，通過橫臂側面的螺絲固定在橫臂的前端；觸頭末端帶有傾角，具有限位部；底座邊緣設有豎桿、輔助架、微調螺桿、探針。本實用新型可使晶體頭尾安全地固定住，提高了測試精度，降低了探針的損耗程度，適用于不同尺寸的鍺晶體頭尾的固定，可固定直徑大于5mm的任何錐角及平面晶體頭尾，操作簡單，方便實用，測試精度高，固定后的晶體可隨意移動、轉動，便于測量。
【專利說明】—種用于鍺晶體電阻率測量的測量架
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及晶體測量【技術領域】，特別涉及一種用于鍺晶體電阻率測量的測量架。
【背景技術】
[0002]鍺晶體電阻率測試有嚴格的溫度要求，測試前需將晶體置于恒溫環(huán)境內進行恒定，待晶體溫度在23°C ( ±0.5°C )時進行測試。
[0003]然而，鍺晶體的頭部呈圓錐形，錐角隨著實際的晶體拉制需要而變化，還經常有不對稱的情況發(fā)生，并且晶體的尺寸也不固定，另外，晶體的尾部也因為在拉制過程結束后，由于提斷會粘連一部分液體，液體在晶體上凝固過程中，在重力的作用下，會在晶體尾部中心附近形成一個尖狀突起，這樣使晶體頭部和尾部在測量電阻率時難以固定，用手把持會改變晶體溫度而影響測試精度及結果。
實用新型內容
[0004]本實用新型的目的是提供一種用于鍺晶體電阻率測量的測量架，其可以使晶體頭尾安全地被固定住，提高測試精度，降低探針的損耗程度。
[0005]為實現(xiàn)上述目的，本實用新型采取以下技術方案:
[0006]一種用于鍺晶體電阻率測量的測量架，它包括底座，該底座中部設有互相平行的兩條導軌，該導軌上設有軸承，兩側軸承之間通過連接板固定連接；一底板通過回轉軸承設置在該連接板上；該底板周緣設有若干立柱，每個立柱上端都設有橫臂，該橫臂通過滑軌可以自由移動，且由緊固螺絲固定在該立柱上；該橫臂的前端套設有觸頭，通過該橫臂側面的螺絲固定在該橫臂的前端；該觸頭末端帶有傾角，還具有呈L型的限位部；
[0007]該底座邊緣設有豎桿，該豎桿上部套設有輔助架，輔助架末端設有微調螺桿，微調螺桿底端設有用于測試的探針，該探針位于該底板中部上方。
[0008]優(yōu)選的，所述觸頭末端傾角為60°。
[0009]進一步的，所述觸頭末端設有微調螺絲，可以對該觸頭末端傾角進行1-2°的角度微調。
[0010]進一步的，所述觸頭末端斜面設有膠皮墊。
[0011]優(yōu)選的，所述立柱為4個。
[0012]進一步的，所述立柱頂部通過環(huán)形的固定板固定連接，所述橫臂設于該固定板上。
[0013]本實用新型的有益效果為:本實用新型可使晶體頭尾可安全地固定住，提高了測試精度，降低了探針的損耗程度，適用于不同尺寸的鍺晶體頭尾的固定，可固定直徑大于5mm的任何錐角的晶體頭尾，操作簡單，方便實用，測試精度高，固定后的晶體可隨意移動、轉動，便于測量。
【專利附圖】
【附圖說明】[0014]圖1是本實用新型的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0015]下面結合附圖對本實用新型作進一步說明。
[0016]如圖1所示，本實用新型提供一種用于鍺晶體電阻率測量的測量架，用于固定鍺晶體。該測量架包括底座1，該底座I中部設有互相平行的兩條導軌2，該導軌2上設有軸承3，兩側軸承之間通過連接板(圖未示)固定連接。一底板4通過回轉軸承5設置在該連接板上。該底板4可以通過軸承3沿著該導軌2滑動，并且可以通過該回轉軸承5在該連接板上轉動。該底板4周緣設有若干立柱6，例如4個，每個立柱上端都設有橫臂7，該橫臂7通過滑軌8可以自由移動，且由緊固螺絲9固定在立柱6上。該橫臂7的前端套設有觸頭10，通過橫臂7側面的螺絲11固定在橫臂的前端。該觸頭10末端帶有傾角，優(yōu)選為60°，通過微調螺絲12可以微調2°。為了保護待測晶體，該觸頭10末端可以固定膠皮墊。為了固定晶體尾部，該觸頭10末端還具有呈L型的限位部101。
[0017]該底座I邊緣設有豎桿13，該豎桿13上部套設有輔助架14，輔助架末端設有微調螺桿15，微調螺桿15底端設有用于測試的探針16。該探針16位于該底板4中部上方，通過該微調螺桿15可以沿底座I的豎桿13上下移動。
[0018]為了使測量架更加穩(wěn)定，底板的立柱頂部通過環(huán)形的固定板固定連接，所述橫臂設于該固定板上。
[0019]本實用新型使用時，當固定晶體頭部的時候，推動橫臂使橫臂處在合適的位置后固定，松開觸頭的螺絲，讓觸頭處于自由狀態(tài)，將晶體頭部向下，倒置放在觸頭的膠皮墊上，通過角度微調就會自動按照晶體頭部錐角的角度來調整方向，使頭部錐面與觸頭的膠皮墊緊密接觸，便達到了固定晶體頭部的目的。當固定晶體尾部的時候，讓觸頭的微調螺絲全部松開使其到水平位置，通過觸頭上的限位部固定，將晶體尾放在上表面即可。
[0020]需要指出的是，上述實施方式僅僅是可能的實施例，是為了清楚地理解本實用新型的原理而提出的。可以在不背離本實用新型原理和范圍的情況下對上述本實用新型的實施方式進行許多變化和修改。所有這些修改和變化都包括在本實用新型揭示的范圍中，并且受到所附權利要求的保護。
【權利要求】
1.一種用于鍺晶體電阻率測量的測量架，其特征在于，它包括底座，該底座中部設有互相平行的兩條導軌，該導軌上設有軸承，兩側軸承之間通過連接板固定連接；一底板通過回轉軸承設置在該連接板上；該底板周緣設有若干立柱，每個立柱上端都設有橫臂，該橫臂通過滑軌可以自由移動，且由緊固螺絲固定在該立柱上；該橫臂的前端套設有觸頭，通過該橫臂側面的螺絲固定在該橫臂的前端；該觸頭末端帶有傾角，還具有呈L型的限位部； 該底座邊緣設有豎桿，該豎桿上部套設有輔助架，輔助架末端設有微調螺桿，微調螺桿底端設有用于測試的探針，該探針位于該底板中部上方。
2.根據(jù)權利要求1所述的用于鍺晶體電阻率測量的測量架，其特征在于，所述觸頭末端傾角為60°。
3.根據(jù)權利要求1或2所述的用于鍺晶體電阻率測量的測量架，其特征在于，所述觸頭末端設有微調螺絲，可以對該觸頭末端傾角進行1-2°的角度微調。
4.根據(jù)權利要求3所述的用于鍺晶體電阻率測量的測量架，其特征在于，所述觸頭末端斜面設有膠皮墊。
5.根據(jù)權利要求4所述的用于鍺晶體電阻率測量的測量架，其特征在于，所述立柱為4個。
6.根據(jù)權利要求1所述的用于鍺晶體電阻率測量的測量架，其特征在于，所述立柱頂部通過環(huán)形的固定板固定連接，所述橫臂設于該固定板上。
【文檔編號】G01R27/02GK203616393SQ201320830631
【公開日】2014年5月28日 申請日期:2013年12月16日 優(yōu)先權日:2013年12月16日
【發(fā)明者】馮譽耀, 路桂新, 余花仙 申請人:北京國晶輝紅外光學科技有限公司
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