高分辨率放射系數(shù)探測(cè)方法
【專利摘要】本發(fā)明公開一種高分辨率反射系數(shù)探測(cè)方法，所述方法包括：以等距離遞增的方式布設(shè)電極，同樣電極設(shè)置的深度也以等深遞增的方式設(shè)置；固定MN裝置；采用最大電極距AB/2(max)＝1.3H；以相鄰的電極距及視電阻率值進(jìn)行差分運(yùn)算的，得到視反射系數(shù)KS和視反射系數(shù)的倒數(shù)KD。
【專利說(shuō)明】高分辨率放射系數(shù)探測(cè)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種高分辨率反射系數(shù)探測(cè)方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 反射系數(shù)剖面法也即K剖面法，該方法利用反射系數(shù)K解釋電測(cè)深曲線，是通過(guò) 不同電性介質(zhì)接觸面對(duì)電流的反射情況的研究，了解地層的巖性、厚度、埋藏深度、產(chǎn)狀、構(gòu) 造、巖溶、水文等地質(zhì)問(wèn)題的一種方法。這個(gè)方法在水文地質(zhì)及工程地質(zhì)等勘探領(lǐng)域取得了 一定成效，但由于其在工作裝置及資料處理解釋方面仍停留在傳統(tǒng)的對(duì)數(shù)坐標(biāo)的基礎(chǔ)上， 對(duì)地層的分辨率和解釋精度不夠高，在物探界應(yīng)用不廣泛。
[0003] 高分辨率反射系數(shù)法研究工作的目的是提高電法勘探在這些領(lǐng)域的解釋精度，在 對(duì)電測(cè)深法和反射系數(shù)法深入研究的基礎(chǔ)上，改革這些方法，使電法勘探步入高分辨率的 層次，拓寬電法工作的應(yīng)用范圍，以適應(yīng)經(jīng)濟(jì)發(fā)展對(duì)勘探工作的要求。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0004] 針對(duì)上述問(wèn)題，本發(fā)明提供一種準(zhǔn)確率高、效果好的高分辨率放射系數(shù)探測(cè)方法。
[0005] 為達(dá)到上述目的，本發(fā)明高分辨率反射系數(shù)探測(cè)方法，所述方法包括：供電電極 AB以等間距遞增的方式布設(shè)，同樣以逐次等深遞增的方式設(shè)置電極設(shè)置的深度，固定MN裝 置，其中供電電極采用最大電極距AB/2(max) = 1.3H;
[0006] 以相鄰的電極距及視電阻率值進(jìn)行差分運(yùn)算的，得到視反射系數(shù)Ks和視反射系數(shù) 的倒數(shù)K D ;
[0007] 基于相鄰電極距、視點(diǎn)阻率、視反射系數(shù)Ks和視反射系數(shù)的倒數(shù)KD進(jìn)行資料分 析。
[0008] 進(jìn)一步地，所述電極之間等距遞增的間距為6米至10米。
[0009] 進(jìn)一步地，其精度要求在于：重復(fù)觀測(cè)的視電阻率值的誤差為2%。
[0010] 本發(fā)明高分辨率反射系數(shù)探測(cè)方法，在布設(shè)供電極距時(shí)高分辨率反射系數(shù)法采用 了間隔6米或10m等差極距。在以等差距離遞增極距探測(cè)地質(zhì)體時(shí)，探測(cè)深度也大致以相 同的距離逐漸加大，因而可接受到大量的地質(zhì)體電性變化的信息。
[0011] 采用固定MN裝置時(shí)，K實(shí)質(zhì)反映了電測(cè)工作中相鄰兩極距上電極的實(shí)際電流密度 之比，故K值已消除了 PMN變化的影響，K剖面法的解釋成果受淺部的局部電性不均勻體 影響小。
[0012] 該方法消除地形影響的原理在于其供電極距的一個(gè)顯著特點(diǎn)是對(duì)于同樣的勘探 深度所需的極距要比直流側(cè)深短得多，自然其可能受地形影響的范圍也相應(yīng)要小得多。再 則因 K剖面法實(shí)質(zhì)上是對(duì)視電阻率采用比值法進(jìn)行了資料處理，而高分辨率反射系數(shù)法的 極距又相當(dāng)密，因而可利用有限元法通過(guò)對(duì)K剖面法理論公式的推導(dǎo)分析，論證出本測(cè)區(qū) 的地形影響是很小的。
[0013] 該方法準(zhǔn)確率高、效果好，探測(cè)系數(shù)誤差率小，探測(cè)結(jié)果較為精確。
【專利附圖】
【附圖說(shuō)明】
[0014] 圖1是本發(fā)明高分辨率反射系數(shù)探測(cè)方法的流程圖；
【具體實(shí)施方式】
[0015] 下面結(jié)合說(shuō)明書附圖對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步的描述。
[0016] 1)、密集的等差極距
[0017] 傳統(tǒng)的電測(cè)深法和反射系數(shù)法的理論曲線均采用對(duì)數(shù)坐標(biāo)系，野外電極距采用等 比極距。高分辨率反射系數(shù)法以密集的等差極距工作。
[0018] 為了提高K剖面法的分辨率，在布設(shè)供電極距時(shí)高分辨率反射系數(shù)法采用了間 隔6米或10m等差極距。在以等差距離遞增極距探測(cè)地質(zhì)體時(shí)，探測(cè)深度也大致以相同的 距離逐漸加大，因而可接受到大量的地質(zhì)體電性變化的信息。更關(guān)鍵的作用是：視反射系數(shù) Ks及視反射系數(shù)的導(dǎo)數(shù)KD在理論上都是微分運(yùn)算求得的，但在實(shí)際工作中都是以相鄰供電 極距及視電阻率值進(jìn)行差分運(yùn)算，近似替代微分運(yùn)算。在以常規(guī)的等比的極距工作時(shí)，這種 替代造成的誤差較大。而以密集的極距工作時(shí)，由于極距差值小，供電極距AB/2和ps的 變化增量都很小，因此在計(jì)算K s和KD時(shí)就更接近K剖面法的理論，使K剖面法的優(yōu)點(diǎn)得以 更有力的發(fā)揮。因而K剖面曲線突出反映了較深處地層的微弱信息，有可能將深部的薄層 反映出來(lái)，使勘探深度和對(duì)地質(zhì)體的分辨率得以明顯提高。
[0019] 2)、固定麗裝置
[0020] 高分辨率反射系數(shù)法采用了固定裝置，因而可消除P MN變化形成的曲線畸變。
[0021] 視電阻率的微分形式為：
[0022] p s(n) = jM N(n)/jOX ρΜ N(n) (1)
[0023] p s(n-l) = jM N(n-l)/jOX PM N(n-l) (2)
[0024] ·.·當(dāng)AB/2變化時(shí)，MN不變
[0025] ··. p MN(n) = p MN(n_l)
[0026] 代入（1)、⑵式：
[0027] 貝lj p s (η) / p s (n_l) = jMN(n)/jMN(n-l)
[0028] 代入上述視反射系數(shù)的計(jì)算公式，可得：
【權(quán)利要求】
1. 一種高分辨率反射系數(shù)探測(cè)方法，其特征在于：所述方法包括：供電電極AB以等間 距遞增的方式布設(shè)，同樣以逐次等深遞增的方式設(shè)置電極設(shè)置的深度，固定麗裝置，其中 供電電極采用最大電極距AB/2(max) = 1.3H; 以相鄰的電極距及視電阻率值進(jìn)行差分運(yùn)算的，得到視反射系數(shù)Ks和視反射系數(shù)的倒 數(shù)KD ; 基于相鄰電極距、視點(diǎn)阻率、視反射系數(shù)Ks和視反射系數(shù)的倒數(shù)KD進(jìn)行資料分析。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的高分辨率放射系數(shù)探測(cè)方法，其特征在于：所述電極之間等 距遞增的間距為6米至10米。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的高分辨率放射系數(shù)探測(cè)方法，其精度要求在于：重復(fù)觀測(cè)的 視電阻率值的誤差為2%。
【文檔編號(hào)】G01V3/08GK104111480SQ201410228622
【公開日】2014年10月22日 申請(qǐng)日期:2014年5月28日 優(yōu)先權(quán)日:2014年5月28日
【發(fā)明者】劉江, 馮西會(huì), 萬(wàn)兆昌, 康荔, 祁明星, 王星明, 王一凡, 沈福斌, 劉江賓 申請(qǐng)人:陜西省煤田物探測(cè)繪有限公司
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