非接觸式光澤度儀的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種非接觸式光澤度儀，其包括中空的外殼，所述外殼上設(shè)置有一貫穿的觀察孔，所述外殼內(nèi)設(shè)置有至少一個傾斜對準(zhǔn)所述觀察孔的光源；以所述觀察孔所在表面為反射面，在所述光源發(fā)出的光線的反射線上設(shè)置一接收反射后的光線的光澤度分析器，其特征在于：所述光澤度分析器包括一CCD相機，所述CCD相機連接有分析主機，所述分析主機根據(jù)所述CCD相機傳送過來的圖像進行光澤度分析。本實用新型采用非接觸式設(shè)計，避免直接接觸產(chǎn)品，從而減少了對產(chǎn)品的損害、也提高了產(chǎn)品的檢測結(jié)果的準(zhǔn)確度。此外，采用CCD相機取代傳統(tǒng)的光敏度傳感器，通過計算機對特定區(qū)域進行分析，從而可以實現(xiàn)對細小部件及其不規(guī)則區(qū)域的光澤度分析。
【專利說明】非接觸式光澤度儀
[0001]【技術(shù)領(lǐng)域】
[0002]本實用新型涉及一種光學(xué)檢測設(shè)備，尤其涉及一種非接觸式光澤度儀。
【背景技術(shù)】
[0003]光澤度是在一組幾何規(guī)定條件下對材料表面反射光的能力進行評價的物理量，具有方向選擇的反射性質(zhì)。光澤度儀，也叫光澤儀，是用來測定陶瓷、油漆、油墨、塑料、大理石、鋁、五金等材料表面光澤度的儀器。光澤度計利用光反射原理對樣品的光澤度進行測量。即:在規(guī)定入射角和規(guī)定光束的條件下照射樣品，得到鏡向反射角方向的光源。光澤度的測量頭由發(fā)射器和接受器組成，發(fā)射器由光源和一組透鏡組成，它產(chǎn)生一定要求的入射光束。接受器由透鏡和光敏元件組成，用于接受從樣品表面反射回來的錐體光束，并將其轉(zhuǎn)換成電信號，從而獲得最終的測試結(jié)果。目前，市面上現(xiàn)有的光澤度儀基本都是接觸式，即直接與被測物體接觸，從而測試其光澤度。在檢測各種檢測面非常小的小工件時，目前的光澤度儀存在以下缺陷:有環(huán)境光進入、導(dǎo)致檢測結(jié)果不穩(wěn)定；易對產(chǎn)品造成劃傷；易因接觸產(chǎn)生的痕跡影響產(chǎn)品檢測結(jié)果；不能檢測面積小、且形狀不規(guī)則的產(chǎn)品的光澤度。
[0004]實用新型內(nèi)容
[0005]為了克服上述問題，本實用新型提供一種不會劃傷產(chǎn)品、檢測結(jié)果穩(wěn)定的非接觸式光澤度儀。
[0006]本實用新型的技術(shù)方案是提供一種非接觸式光澤度儀，其包括中空的外殼，所述外殼上設(shè)置有一貫穿的觀察孔，所述外殼內(nèi)設(shè)置有至少一個傾斜對準(zhǔn)所述觀察孔的光源；以所述觀察孔所在被測物表面為反射面，在所述光源發(fā)出的光線的反射線上設(shè)置一接收反射后的光線的光澤度分析器，其特征在于:所述光澤度分析器包括一 CCD相機，所述CCD相機連接有分析主機，所述分析主機根據(jù)所述CXD相機傳送過來的圖像進行光澤度分析。
[0007]優(yōu)選的，所述光源設(shè)置在一平行光發(fā)生器內(nèi)，所述平行光發(fā)生器內(nèi)設(shè)置第一凸透鏡和第二凸透鏡，所述第一凸透鏡和第二凸透鏡之間設(shè)置一帶圓孔的遮光板，所述圓孔位于所述第一凸透鏡的焦點上。
[0008]優(yōu)選的，所述CCD相機與所述觀察孔之間設(shè)置一光隧道，所述光隧道為中空的盒形結(jié)構(gòu)，沿反射光所在的直線上，所述光隧道上設(shè)置有一個供反射光通過的通孔。
[0009]優(yōu)選的，所述平行光發(fā)生器和接收反射光的CCD相機在被測物表面的法線兩側(cè)分別以85°、60°或20°設(shè)置，分別實現(xiàn)85°、60°或20°的光澤度測量。
[0010]優(yōu)選的，所述分析主機進行光澤度分析的步驟包括:
[0011]I)用CXD相機采集被測物表面反射的平行光構(gòu)成的圖像；
[0012]2)從圖像中選定預(yù)先設(shè)定的測量區(qū)域；
[0013]3)對上述選定的區(qū)域圖像進行降噪處理；
[0014]4)對上述降噪后的圖像光強度與標(biāo)準(zhǔn)樣板進行比較，獲得其對應(yīng)的被測樣品的光澤度值。
[0015]本實用新型的非接觸式光澤度儀采用非接觸式設(shè)計，避免直接接觸產(chǎn)品，從而減少了對產(chǎn)品的損害、也提高了產(chǎn)品的檢測結(jié)果的準(zhǔn)確度。此外，采用CCD相機取代傳統(tǒng)的光敏度傳感器，通過計算機對特定區(qū)域進行分析，從而可以實現(xiàn)對細小部件及其不規(guī)則區(qū)域的光澤度分析。本實用新型極具市場前景。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0016]圖1是本實用新型一種非接觸式光澤度儀的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0017]圖2是本實用新型一種非接觸式光澤度儀的工作原理示意圖。
【具體實施方式】
[0018]下面對本實用新型的【具體實施方式】作進一步詳細的描述。
[0019]如圖1所示，本實用新型的一種非接觸式光澤度儀包括中空的外殼10，外殼10為半圓柱形結(jié)構(gòu)，包括一個平面12和一個弧形面14。其中，平面12中間的位置上設(shè)置有一貫穿的觀察孔(未圖示)。觀察孔用于靠近被測物以觀察被測物。弧形面14上設(shè)置有兩平行光發(fā)生器20。平行光發(fā)生器20依次包括光源22、第一凸透鏡24和第二凸透鏡26，第一凸透鏡24和第二凸透鏡26之間還設(shè)置有將該圓筒18封閉成兩個部分的遮光板28，遮光板28上設(shè)置一貫通的圓孔30，圓孔30正好位于第一凸透鏡24的焦點上，這樣可以將光源22發(fā)出的光經(jīng)過兩次凸透鏡折射后變成平行光發(fā)射出去，遮光板28用于屏蔽光源22發(fā)出的雜光。光源22發(fā)出的光照在觀察孔處的被測物(未圖示)表面后反射。
[0020]弧形面14上還兩個接收經(jīng)過被測物表面反射后的光線的光澤度分析器，光澤度分析器包括一 CXD相機32，CXD相機32連接有分析主機(未圖示)。平行光發(fā)生器20產(chǎn)生的平行光照在被測物表面上，經(jīng)過被測物表面反射后，進入CCD相機32，實現(xiàn)成像，以獲得被測物的表面圖像。分析主機根據(jù)CCD相機32傳送過來的圖像進行光澤度分析。
[0021]平行光發(fā)生器20和接收反射光的CCD相機32在被測物表面的法線兩側(cè)分別以85°、60°或20°設(shè)置，分別實現(xiàn)85°、60°或20°等常用角度的光澤度測量。
[0022]進一步地，在CXD相機32與觀察孔之間設(shè)置一光隧道34，光隧道34為中空的盒形結(jié)構(gòu)，沿發(fā)射光所在的直線上，光隧道34的兩個側(cè)面上均設(shè)置有一個同樣尺寸的供反射光通過的通孔36，用于供平行光通過，其他雜光被光隧道34屏蔽。
[0023]分析主機進行光澤度分析的步驟包括:
[0024]I)用CXD相機采集被測物表面反射的平行光構(gòu)成的圖像；
[0025]2)從圖像中選定預(yù)先設(shè)定的測量區(qū)域；
[0026]3)對上述選定的區(qū)域圖像進行降噪處理；
[0027]4)對上述降噪后的圖像光強度與標(biāo)準(zhǔn)樣板進行比較，獲得其對應(yīng)的被測樣品的光澤度值。
[0028]以上實施例僅為本實用新型其中的一種實施方式，其描述較為具體和詳細，但并不能因此而理解為對本實用新型專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬于本實用新型的保護范圍。因此，本實用新型專利的保護范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種非接觸式光澤度儀，其包括中空的外殼，所述外殼上設(shè)置有一貫穿的觀察孔，所述外殼內(nèi)設(shè)置有至少一個傾斜對準(zhǔn)所述觀察孔的光源；以所述觀察孔所在被測物表面為反射面，在所述光源發(fā)出的光線的反射線上設(shè)置一接收反射后的光線的光澤度分析器，其特征在于:所述光澤度分析器包括一 CXD相機，所述CXD相機連接有分析主機，所述分析主機根據(jù)所述CCD相機傳送過來的圖像進行光澤度分析。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非接觸式光澤度儀，其特征在于:所述光源設(shè)置在一平行光發(fā)生器內(nèi)，所述平行光發(fā)生器內(nèi)設(shè)置第一凸透鏡和第二凸透鏡，所述第一凸透鏡和第二凸透鏡之間設(shè)置一帶圓孔的遮光板，所述圓孔位于所述第一凸透鏡的焦點上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的非接觸式光澤度儀，其特征在于:所述CCD相機與所述觀察孔之間設(shè)置一光隧道，所述光隧道為中空的盒形結(jié)構(gòu)，沿反射光所在的直線上，所述光隧道上設(shè)置有一個供反射光通過的通孔。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的非接觸式光澤度儀，其特征在于:所述平行光發(fā)生器和接收反射光的C⑶相機在被測物表面的法線兩側(cè)分別以85°、60°或20°設(shè)置，分別實現(xiàn)85°、60°或20°的光澤度測量。
【文檔編號】G01N21/57GK203758913SQ201320883050
【公開日】2014年8月6日 申請日期:2013年12月31日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月31日
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