一種校核基于振動定位gis局部放電設(shè)備的方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種校核基于振動定位GIS局部放電設(shè)備的方法，其特征在于裝置由以下部分組成：（1）實(shí)驗(yàn)用帶固定孔的圓柱腔體、（2）標(biāo)準(zhǔn)振動信號發(fā)生器、（3）待校核的基于振動定位GIS局部放電的檢測設(shè)備。所使用的方法有：（1）使用展成法轉(zhuǎn)換圓柱腔體的坐標(biāo)為平面坐標(biāo)，標(biāo)記出坐標(biāo)A點(diǎn)，如附圖1、（2）利用待測的局部放電定位設(shè)備求出局放坐標(biāo)、（3）重復(fù)執(zhí)行（2）步驟、（4）將求得的多組坐標(biāo)求取均值A(chǔ)’，將其與A點(diǎn)坐標(biāo)比較，校核調(diào)試直至測試范圍在以A點(diǎn)為圓心，半徑為10cm圓的范圍內(nèi)為止。本發(fā)明校核速度快，能節(jié)省大量人力物力，在生產(chǎn)企業(yè)在GIS局放定位設(shè)備的校核中，起到了顯著地作用。
【專利說明】—種校核基于振動定位GIS局部放電設(shè)備的方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于供電系統(tǒng)檢測領(lǐng)域，具體涉及一種校核定位GIS局部放電設(shè)備的方法。
【背景技術(shù)】
[0002]氣體絕緣金屬封閉開關(guān)設(shè)備(Gas Insulated Substation:GIS)作為目前廣泛應(yīng)用的主流電氣設(shè)備，自60年代中期出現(xiàn)至今，已有50余年的歷史。GIS管道內(nèi)部多采用SF6氣體作為絕緣介質(zhì)，并將所有的高壓元件密封在接地金屬筒中，與傳統(tǒng)的敞開式設(shè)備相比，GIS具有結(jié)構(gòu)緊湊、占地面積小、噪聲低、無火災(zāi)危險(xiǎn)、檢修周期長、操作機(jī)構(gòu)無油化，無氣化，具有高度運(yùn)行可靠性等特點(diǎn)；我國從80年代起對GIS的使用日益廣泛，特別是在近年城市電網(wǎng)建設(shè)和改造中，GIS設(shè)備得到廣泛應(yīng)用。 [0003]但由于GIS內(nèi)的場強(qiáng)很高，當(dāng)設(shè)備內(nèi)部存在一些缺陷時，伴隨GIS內(nèi)部會發(fā)生局部放電，導(dǎo)致其不能正常工作，并伴隨產(chǎn)生電磁波、放電脈沖和超聲波震蕩等信號，基于此，近年來出現(xiàn)了很多局部放電定位設(shè)備，一般包含有:基于振動檢測的局部放電定位、基于超聲波檢測的局部放電定位、基于UHF檢測的局部放電定位等檢測設(shè)備。
[0004]然而，對于此類檢測設(shè)備的標(biāo)定工作國內(nèi)還很少有所涉及，也沒有相應(yīng)的國家標(biāo)準(zhǔn)，尤其在生產(chǎn)企業(yè)訂購檢測定位設(shè)備后，為了校核設(shè)備，無法快速響應(yīng)此問題。因此提供一種用于GIS局部放電檢測設(shè)備的校驗(yàn)裝置顯得尤為重要。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0005]本發(fā)明特針對基于振動定位GIS局部放電的檢測設(shè)備提供一種快速校核的方法。
[0006]一種校核基于振動定位GIS局部放電設(shè)備的方法，其特征在于步驟如下:
[0007]步驟一:將校核用的圓柱腔體利用展成法，作出二維平面坐標(biāo)系；
[0008]步驟二:將標(biāo)準(zhǔn)振動信號發(fā)生器安置于圓柱腔體開孔處，并做好密封，模擬局部放電產(chǎn)生的振動信號，振動信號發(fā)生器安置坐標(biāo)A點(diǎn)確定，并在展成的坐標(biāo)系中標(biāo)出A點(diǎn)；
[0009]步驟三:將待校核的定位GIS局部放電的檢測設(shè)備其傳感器隨機(jī)貼附于圓柱腔體外壁上，并在展成的同一坐標(biāo)系下作出坐標(biāo)點(diǎn)；
[0010]步驟四:讓振動信號發(fā)生器模擬局放產(chǎn)生的振動信號，使用待校核檢測設(shè)備定位模擬信號產(chǎn)生位置，距離D1、D2、D3通過待校核設(shè)備得到；通過距離D1、D2、D3，以傳感器位置為圓心作圓，取其交點(diǎn)即為其坐標(biāo)點(diǎn)A’，一般三圓很難交于一點(diǎn)，取其三圓所交范圍內(nèi)任其一點(diǎn)即可，多次測試，定位出多組局部放電點(diǎn)坐標(biāo)，取其均值即為其坐標(biāo)點(diǎn)A’ ；
[0011]傳感器I (xl, yl),傳感器2(x2, y2),傳感器3 (x3, y3);按下式:
[0012](χ-χ?)2+ (y-yl)2 = Dl2
[0013](x-x2)2+ (y-y2)2 = D22
[0014](χ-χ3)2+ (y-y3)2 = D32
[0015]通過上述方程中的任意兩個進(jìn)行求解；得出A’，校核調(diào)試直至A’點(diǎn)在以A點(diǎn)為圓心,半徑為IOcm圓的范圍內(nèi)為止。
[0016]本發(fā)明取得的有益效果:
[0017]此方法可用于工廠基于振動定位局部放電設(shè)備的校核，使用條件寬松；
[0018]此方法校核速度快，對工廠具有實(shí)際意義，能節(jié)省大量人力物力財(cái)力。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0019]圖1是校核用圓柱腔體展成圖示
[0020]圖2是待校核設(shè)備傳感器安置示意圖
[0021]圖3是校核示意圖
【具體實(shí)施方式】
[0022]下面對本發(fā)明作一詳細(xì)說明:
[0023]本發(fā)明需按以 下步驟完成操作:
[0024]步驟一:產(chǎn)生局部放電的腔體準(zhǔn)備
[0025]將校核用的圓柱腔體利用展成法，作出二維平面，并定好坐標(biāo)系，如附圖1
[0026]步驟二:標(biāo)準(zhǔn)振動信號發(fā)生器安置
[0027]將標(biāo)準(zhǔn)振動信號發(fā)生器安置于圓柱腔體開孔處，模擬局部放電產(chǎn)生的沖擊波信號而引起的振動信號，振動信號發(fā)生器安置坐標(biāo)固定，并在展成的坐標(biāo)系中標(biāo)出。
[0028]步驟三:將待測的定位GIS局部放電的檢測設(shè)備其傳感器隨機(jī)貼附于圓柱腔體外壁如附圖2。
[0029]步驟四:讓振動信號發(fā)生器模擬局放產(chǎn)生的振動信號，使用待校核檢測設(shè)備定位模擬信號產(chǎn)生位置，通過距離Dl、D2、D3 (距離D可通過待校核設(shè)備得到)以傳感器位置為圓心作圓，取其交點(diǎn)即為其坐標(biāo)點(diǎn)A’，如圖3所示。
[0030]如上所述,傳感器I (xl, yl),傳感器2(x2, y2),傳感器3 (x3, y3);按下式:
[0031](χ-χ?)2+ (y-yl)2 = Dl2
[0032](x-x2)2+ (y-y2)2 = D22
[0033](x-x3)2+ (y-y3)2 = D32
[0034]通過上述方程中的任意兩個進(jìn)行求解。得出A’，校核調(diào)試直至A’點(diǎn)在以A點(diǎn)為圓心,半徑為IOcm圓的范圍內(nèi)為止。
【權(quán)利要求】
1.一種校核基于振動定位Gis局部放電設(shè)備的方法，其特征在于步驟如下: 步驟一:將校核用的圓柱腔體利用展成法，作出二維平面坐標(biāo)系； 步驟二:將標(biāo)準(zhǔn)振動信號發(fā)生器安置于圓柱腔體開孔處，并做好密封，模擬局部放電產(chǎn)生的振動信號，振動信號發(fā)生器安置坐標(biāo)A點(diǎn)確定，并在展成的坐標(biāo)系中標(biāo)出A點(diǎn)； 步驟三:將待校核的定位GIS局部放電的檢測設(shè)備其傳感器隨機(jī)貼附于圓柱腔體外壁上，并在展成的同一坐標(biāo)系下作出坐標(biāo)點(diǎn)； 步驟四:讓振動信號發(fā)生器模擬局放產(chǎn)生的振動信號，使用待校核檢測設(shè)備定位模擬信號產(chǎn)生位置，距離D1、D2、D3通過待校核設(shè)備得到；通過距離D1、D2、D3，以傳感器位置為圓心作圓，取其交點(diǎn)即為其坐標(biāo)點(diǎn)A’，一般三圓很難交于一點(diǎn)，取其三圓所交范圍內(nèi)任其一點(diǎn)即可，多次測試，定位出多組局部放電點(diǎn)坐標(biāo)，取其均值即為其坐標(biāo)點(diǎn)A’ ； 傳感器I (xl，yl)，傳感器2(x2, y2),傳感器3 (x3, y3);按下式:
(x-xl)2+(y-yl)2 = Dl2
(x-x2)2+(y-y2)2 = D22
(x-x3)2+(y-y3)2 = D32 通過上述方程中的任意兩個進(jìn)行求解；得出A’，校核調(diào)試直至A’點(diǎn)在以A點(diǎn)為圓心，半徑為IOcm圓的范圍內(nèi)為止。
【文檔編號】G01R35/00GK103941209SQ201410146925
【公開日】2014年7月23日 申請日期:2014年4月13日 優(yōu)先權(quán)日:2014年4月13日
【發(fā)明者】許東來, 李飛, 張文波, 萬夢 申請人:北京工業(yè)大學(xué)
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