一種追加的基板測試點的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種追加的基板測試點，所述基板一面設置有電氣電路，所述基板另一面設置有若干追加的測試點，所述測試點與電氣電路連接；所述測試點為開短路、電阻、電容、電感、壓降等測試點。本實用新型實現(xiàn)了產(chǎn)品在線測試的覆蓋率達到了100%，能準確地發(fā)現(xiàn)電路基板上的某一元件的失效，提高產(chǎn)品的品質(zhì)保證能力；測試點布設在電路基板生產(chǎn)流程上，進行在線測試十分方便，節(jié)約了測試點不足而需要反復測試的時間，提升了生產(chǎn)效率；同吋，放置的測試點不影響電路基板的走線布局，排列整齊美觀。
【專利說明】一種追加的基板測試點
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種基板測試點，尤其涉及一種追加的基板測試點。
【背景技術】
[0002]品質(zhì)是企業(yè)的生命，如何能預防不良的發(fā)生、如何能盡可能早的發(fā)現(xiàn)不良是我們永恒的課題。我們電子產(chǎn)品的性能不良是人用肉眼無法發(fā)現(xiàn)的，因此必須借助于一些專用的儀器儀表，然而，傳統(tǒng)的測試點往往受制于測試針的大小，無法在電路基板的走線的每一點布局進行測試，這些儀器儀表怎樣與我們所有要測試的元件連接，不能做到產(chǎn)品測試100%的覆蓋率，而且我們傳統(tǒng)的電路基板設計方案無法對所有的電氣網(wǎng)絡進行植針。
實用新型內(nèi)容
[0003]本實用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術的缺陷，提供一種追加的基板測試點，本實用新型實現(xiàn)了產(chǎn)品在線測試覆蓋率達到了 100%，能準確地發(fā)現(xiàn)電路基板上的某一元件的失效，提聞廣品的品質(zhì)保證能力。
[0004]實現(xiàn)上述目的的技術方案是:
[0005]本實用新型一種追加的基板測試點，所述基板一面設置有電氣電路，其中，所述基板另一面設置有若干追加的測試點，所述測試點通過基板穿孔與電氣電路連接，所述測試點設置引出測試植針。
[0006]上述的追加的基板測試點，其特征在于:所述測試點為開短路測試點。
[0007]上述的追加的基板測試點，其特征在于:所述測試點為電阻測試點。
[0008]上述的追加的基板測試點，其特征在于:所述測試點為電容測試點。
[0009]上述的追加的基板測試點，其特征在于:所述測試點為電感測試點。
[0010]上述的追加的基板測試點，其特征在于:所述測試點為壓降測試點。
[0011]本實用新型的有益效果是:本實用新型實現(xiàn)了產(chǎn)品在線測試的覆蓋率達到了100%，能準確地發(fā)現(xiàn)電路基板上的某一元件的失效，提高產(chǎn)品的品質(zhì)保證能力；測試點布設在電路基板生產(chǎn)流程上，進行在線測試十分方便，節(jié)約了測試點不足而需要反復測試的時間，提升了生產(chǎn)效率；同吋，放置的測試點不影響電路基板的走線布局，排列整齊美觀。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0012]圖1為現(xiàn)有技術的傳統(tǒng)的基板測試點的連接原理示意圖。
[0013]圖2是本實用新型的一種追加的基板測試點的連接原理示意圖。
[0014]圖3是本實用新型的一種追加的基板測試點的放大示意圖。
[0015]圖4是本實用新型的一種追加的基板測試點的單個測試點的穿過基板連接放大示意圖。
【具體實施方式】[0016]下面將結(jié)合附圖對本實用新型作進一步說明。
[0017]請參閱圖2、圖3和圖4，本實用新型一種追加的基板測試點，基板一面設置有電氣電路，其中，基板另一面設置有若干追加的測試點，測試點通過基板穿孔與電氣電路連接，測試點設置引出測試植針。
[0018]測試點為開短路、電阻、電容、電感、壓降等測試點。
[0019]本實用新型是在基板上增加相應的測試點以方便測試，追加的測試點可以覆蓋PCB電路基板上所有的電氣網(wǎng)絡進行植針，測試針能準確扎到對應的測試點。
[0020]本實用新型涉及PCB電路基板的走線布局測試點放置方案，不會影響產(chǎn)品性能和PCB的外觀尺寸。在PCB電路基板的走線布局上針對每一個電氣電路增加一個測試點，這個測試點用來與測試針接觸，這樣就可以實現(xiàn)產(chǎn)品的元器件測試覆蓋率達到100%。
[0021]PCB電路基板的貼片連接器需要進行ICT在線測試，每一針眼(PIN)都能引出測試點。如圖2所示共有55個測試點，圖中示意性追加其中11個測試點TPU TP2、TP3、TP4、TP5、TP6、TP51、TP52、TP53、TP54 和 TP55。
[0022]如圖1所示，傳統(tǒng)的測試點往往受制于測試針的大小，無法在PCB電路基板的走線布局的每一點進行測試。通常信號線之間線間距為0.508mm，而測試針大小的限制直徑為
1.27_。因此，傳統(tǒng)方法無法對所有電器網(wǎng)絡進行植針，而且嚴重影響PCB電路基板的走線。隨著時代的發(fā)展，需要考慮功耗、抗干擾和信號完整性等，對PCB電路基板的走線要求越來越嚴格。
[0023]本實用新型追加的基板測試點，如圖3和圖4所示，測試點通過通孔與待測試電氣電路相連。由于信號線在電路板的一面走線，通過通孔與電路板的另一面的測試點導通。既不影響信號線走線，又利用電路板另一面的空余空間，這樣也不影響PCB電路基板的外觀尺寸；而且可以將追加的測試點排列整齊，方便了測試針床的制作。
[0024]以上結(jié)合附圖實施例對本實用新型進行了詳細說明，本領域中普通技術人員可根據(jù)上述說明對本實用新型做出種種變化例。凡在本實用新型的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。因而，實施例中的某些細節(jié)不應構成對本實用新型的限定，本實用新型將以所附權利要求書界定的范圍作為本實用新型的保護范圍。
【權利要求】
1.一種追加的基板測試點，所述基板一面設置有電氣電路，其特征在于:所述基板另一面設置有若干追加的測試點，所述測試點通過基板穿孔與電氣電路連接，所述測試點設置引出測試植針。
2.據(jù)權利要求1所述的追加的基板測試點，其特征在于:所述測試點為開短路測試點。
3.根據(jù)權利要求1所述的追加的基板測試點，其特征在于:所述測試點為電阻測試點。
4.根據(jù)權利要求1所述的追加的基板測試點，其特征在于:所述測試點為電容測試點。
5.根據(jù)權利要求1所述的追加的基板測試點，其特征在于:所述測試點為電感測試點。
6.根據(jù)權利要求1所述的追加的基板測試點，其特征在于:所述測試點為壓降測試點。
【文檔編號】G01R31/02GK203732641SQ201320837415
【公開日】2014年7月23日 申請日期:2013年12月17日 優(yōu)先權日:2013年12月17日
【發(fā)明者】何蘭海, 陽小懂, 胡習華 申請人:上海旭統(tǒng)精密電子有限公司
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