鑄鋁轉(zhuǎn)子壓鑄性能的檢驗(yàn)方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種鑄鋁轉(zhuǎn)子壓鑄性能的檢驗(yàn)方法，包括如下步驟：1）取合格樣機(jī)，對(duì)合格樣機(jī)轉(zhuǎn)子采用短路損耗實(shí)驗(yàn)，記錄合格樣機(jī)轉(zhuǎn)子的堵轉(zhuǎn)功率和短路電流；2）取上述合格樣機(jī)定子，主相通交流測(cè)試電壓；3）把待測(cè)壓鑄轉(zhuǎn)子塞入定子內(nèi)孔，轉(zhuǎn)子鐵芯的中心線與定子鐵芯中心線對(duì)齊；4）對(duì)待測(cè)壓鑄轉(zhuǎn)子采用短路損耗實(shí)驗(yàn)，記錄待測(cè)壓鑄轉(zhuǎn)子的堵轉(zhuǎn)功率和短路電流；5）如果待測(cè)壓鑄轉(zhuǎn)子的堵轉(zhuǎn)功率/短路電流，小于合格樣機(jī)轉(zhuǎn)子的堵轉(zhuǎn)功率/短路電流，則判斷待測(cè)壓鑄轉(zhuǎn)子有局部缺陷；如果待測(cè)壓鑄轉(zhuǎn)子的堵轉(zhuǎn)功率/短路電流，大于等于合格樣機(jī)轉(zhuǎn)子的堵轉(zhuǎn)功率/短路電流，則判斷待測(cè)壓鑄轉(zhuǎn)子合格。
【專利說明】鑄鋁轉(zhuǎn)子壓鑄性能的檢驗(yàn)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及鑄鋁轉(zhuǎn)子壓鑄性能的檢驗(yàn)方法。
【背景技術(shù)】
[0002]目前市場(chǎng)上是以高壓沖擊波對(duì)轉(zhuǎn)子進(jìn)行等效過電壓的無損模擬實(shí)驗(yàn)，對(duì)樣機(jī)轉(zhuǎn)子的正弦波形存儲(chǔ)，通過對(duì)被測(cè)轉(zhuǎn)子比較分析，再對(duì)被測(cè)轉(zhuǎn)子進(jìn)行直觀判別。目前市場(chǎng)上常用的檢測(cè)方法是轉(zhuǎn)子斷條測(cè)試儀，但卻不能準(zhǔn)確地檢測(cè)出轉(zhuǎn)子的鑄鋁質(zhì)量的缺陷。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0003]本發(fā)明的目的在于提供一種鑄鋁轉(zhuǎn)子壓鑄性能的檢驗(yàn)方法，其可直接檢測(cè)出局部有缺陷的轉(zhuǎn)子。
[0004]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的技術(shù)方案是設(shè)計(jì)一種鑄鋁轉(zhuǎn)子壓鑄性能的檢驗(yàn)方法，包括如下步驟:
1)取合格樣機(jī)，對(duì)合格樣機(jī)轉(zhuǎn)子采用短路損耗實(shí)驗(yàn)，記錄合格樣機(jī)轉(zhuǎn)子的堵轉(zhuǎn)功率和短路電流；
2)取上述合格樣機(jī)定子，主相通交流測(cè)試電壓；
3)把待測(cè)壓鑄轉(zhuǎn)子塞入定子內(nèi)孔，轉(zhuǎn)子鐵芯的中心線與定子鐵芯中心線對(duì)齊；
4)對(duì)待測(cè)壓鑄轉(zhuǎn)子采用短路損耗實(shí)驗(yàn)，記錄待測(cè)壓鑄轉(zhuǎn)子的堵轉(zhuǎn)功率和短路電流；
5)如果待測(cè)壓鑄轉(zhuǎn)子的堵轉(zhuǎn)功率/短路電流，小于合格樣機(jī)轉(zhuǎn)子的堵轉(zhuǎn)功率/短路電流，則判斷待測(cè)壓鑄轉(zhuǎn)子有局部缺陷；如果待測(cè)壓鑄轉(zhuǎn)子的堵轉(zhuǎn)功率/短路電流，大于等于合格樣機(jī)轉(zhuǎn)子的堵轉(zhuǎn)功率/短路電流，則判斷待測(cè)壓鑄轉(zhuǎn)子合格；
其中，
環(huán)境溫度在10°C?25°C時(shí)，測(cè)試電壓要穩(wěn)定在140V ；
環(huán)境溫度在10°C以下時(shí)，測(cè)試電壓要穩(wěn)定在139V ；
環(huán)境溫度在25°C以下時(shí)，測(cè)試電壓要穩(wěn)定在141V。
[0005]本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)和有益效果在于:提供一種鑄鋁轉(zhuǎn)子壓鑄性能的檢驗(yàn)方法，其可直接檢測(cè)出局部有缺陷的轉(zhuǎn)子。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0006]圖1是目前市場(chǎng)上以高壓沖擊波對(duì)轉(zhuǎn)子進(jìn)行等效過電壓的無損模擬實(shí)驗(yàn)的示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0007]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】作進(jìn)一步描述。以下實(shí)施例僅用于更加清楚地說明本發(fā)明的技術(shù)方案，而不能以此來限制本發(fā)明的保護(hù)范圍。
[0008]如圖1所示，目前市場(chǎng)上是以高壓沖擊波對(duì)轉(zhuǎn)子進(jìn)行等效過電壓的無損模擬實(shí)驗(yàn)，對(duì)樣機(jī)轉(zhuǎn)子的正弦波形存儲(chǔ)，通過對(duì)被測(cè)轉(zhuǎn)子比較分析，再對(duì)被測(cè)轉(zhuǎn)子進(jìn)行直觀判別。
[0009]目前市場(chǎng)上常用的檢測(cè)方法是轉(zhuǎn)子斷條測(cè)試儀，但卻不能準(zhǔn)確地檢測(cè)出轉(zhuǎn)子的鑄鋁質(zhì)量的缺陷。表1是一組轉(zhuǎn)子斷條測(cè)試實(shí)驗(yàn)分析的數(shù)據(jù)。
【權(quán)利要求】
1.鑄鋁轉(zhuǎn)子壓鑄性能的檢驗(yàn)方法，其特征在于，包括如下步驟: 1)取合格樣機(jī)，對(duì)合格樣機(jī)轉(zhuǎn)子采用短路損耗實(shí)驗(yàn)，記錄合格樣機(jī)轉(zhuǎn)子的堵轉(zhuǎn)功率和短路電流； 2)取上述合格樣機(jī)定子，主相通交流測(cè)試電壓； 3)把待測(cè)壓鑄轉(zhuǎn)子塞入定子內(nèi)孔，轉(zhuǎn)子鐵芯的中心線與定子鐵芯中心線對(duì)齊； 4)對(duì)待測(cè)壓鑄轉(zhuǎn)子采用短路損耗實(shí)驗(yàn)，記錄待測(cè)壓鑄轉(zhuǎn)子的堵轉(zhuǎn)功率和短路電流； 5)如果待測(cè)壓鑄轉(zhuǎn)子的堵轉(zhuǎn)功率/短路電流，小于合格樣機(jī)轉(zhuǎn)子的堵轉(zhuǎn)功率/短路電流，則判斷待測(cè)壓鑄轉(zhuǎn)子有局部缺陷；如果待測(cè)壓鑄轉(zhuǎn)子的堵轉(zhuǎn)功率/短路電流，大于等于合格樣機(jī)轉(zhuǎn)子的堵轉(zhuǎn)功率/短路電流，則判斷待測(cè)壓鑄轉(zhuǎn)子合格； 其中， 環(huán)境溫度在10°C?25°C時(shí)，測(cè)試電壓要穩(wěn)定在140V ； 環(huán)境溫度在10°C以下時(shí)，測(cè)試電壓要穩(wěn)定在139V ； 環(huán)境溫度在25°C以下時(shí)，測(cè)試電壓要穩(wěn)定在141V。
【文檔編號(hào)】G01N27/61GK104132993SQ201410355500
【公開日】2014年11月5日 申請(qǐng)日期:2014年7月24日 優(yōu)先權(quán)日:2014年7月24日
【發(fā)明者】項(xiàng)志明 申請(qǐng)人:蘇州南新電機(jī)有限公司
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