一種用于物探測量的點(diǎn)觸式聲波探頭的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種用于物探測量的點(diǎn)觸式聲波探頭,包括上下設(shè)置的上質(zhì)量塊和下質(zhì)量塊,上質(zhì)量塊的側(cè)面凸出設(shè)置有用于與被測物體接觸的錐體,上質(zhì)量塊和下質(zhì)量塊之間設(shè)置有依次由四個(gè)壓電陶瓷片與三個(gè)電極片相間組成的兩個(gè)晶振組,電極片上連接有正極引線和負(fù)極引線,壓電陶瓷片、電極片、上質(zhì)量塊和下質(zhì)量塊之間的接觸面涂有用于耦合的硅油,在上質(zhì)量塊和下質(zhì)量塊之間、位于兩個(gè)晶振組外側(cè)設(shè)置有防電磁干擾的一圈金屬片,在上質(zhì)量塊、下質(zhì)量塊、晶振組和金屬片之間的空隙澆注有單組份硅膠。本發(fā)明解決不使用耦合劑也能進(jìn)行聲波測試的問題,將面接觸改為點(diǎn)接觸,提高測試精度,擴(kuò)大聲波測試的范圍。對(duì)無水的鉆孔段進(jìn)行點(diǎn)觸式聲波測試;也可對(duì)具有較大平面的固體介質(zhì)進(jìn)行點(diǎn)觸式聲波測試。
【專利說明】一種用于物探測量的點(diǎn)觸式聲波探頭
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種聲波探頭,尤其是一種用于物探測量的點(diǎn)觸式聲波測試探頭。
【背景技術(shù)】
[0002]聲波探頭是實(shí)現(xiàn)聲電轉(zhuǎn)換的裝置。既能發(fā)射聲波信號(hào)又能接收聲波信號(hào)。
[0003]聲波探頭從結(jié)構(gòu)上分為:直探頭、斜探頭、雙探頭、表面波探頭、聚焦探頭、沖水探頭、水浸探頭、空氣傳導(dǎo)探頭以及其它專用探頭等。
[0004]使用聲波探頭對(duì)固體介質(zhì)聲波速度測試時(shí),聲波探頭與被測固體介質(zhì)是面接觸,接觸面需要加耦合劑,常用的耦合劑有水、機(jī)油、甘油、水玻璃、膠水、化學(xué)漿糊等。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0005]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是,提供一種應(yīng)用于固體介質(zhì)聲波速度測試的用于物探測量的點(diǎn)觸式聲波探頭。
[0006]為了解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:一種用于物探測量的點(diǎn)觸式聲波探頭,包括上下設(shè)置的上質(zhì)量塊和下質(zhì)量塊,上質(zhì)量塊的側(cè)面凸出設(shè)置有用于與被測物體接觸的錐體,上質(zhì)量塊和下質(zhì)量塊之間設(shè)置有依次由四個(gè)壓電陶瓷片與三個(gè)電極片相間組成的兩個(gè)晶振組,電極片上連接有正極引線和負(fù)極引線,壓電陶瓷片、電極片、上質(zhì)量塊和下質(zhì)量塊之間的接觸面涂有用于耦合的硅油,在上質(zhì)量塊和下質(zhì)量塊之間、位于兩個(gè)晶振組外側(cè)設(shè)置有防電磁干擾的一圈金屬片,在上質(zhì)量塊、下質(zhì)量塊、晶振組和金屬片之間的空隙澆注有單組份硅膠。
[0007]所述錐體為圓錐體,其錐角為30-60°。
[0008]所述錐體的尖端部位鑲嵌有硬質(zhì)合金。
[0009]所述錐角為45°。
[0010]所述上質(zhì)量塊設(shè)置有貫通螺孔,下質(zhì)量塊設(shè)置有螺孔,通過螺栓依次穿過上質(zhì)量塊的貫通螺孔、四個(gè)壓電陶瓷片與三個(gè)電極片,擰入下質(zhì)量塊的螺孔,使上質(zhì)量塊和下質(zhì)量塊緊固在一起,在與壓電陶瓷片和電極片對(duì)應(yīng)部位的螺栓上套有硅膠管。
[0011]為了對(duì)晶振組產(chǎn)生更大的反射能量,所述下質(zhì)量塊的質(zhì)量遠(yuǎn)大于上質(zhì)量塊。
[0012]所述上質(zhì)量塊和下質(zhì)量塊為圓柱體。
[0013]本發(fā)明的有益效果是:解決不使用耦合劑也能進(jìn)行聲波測試的問題,由于將面接觸改為點(diǎn)接觸,能提高測試精度。擴(kuò)大聲波測試的應(yīng)用范圍??梢詫?duì)無水的鉆孔段進(jìn)行點(diǎn)觸式聲波測試;也可以對(duì)具有較大平面的固體介質(zhì)進(jìn)行點(diǎn)觸式聲波測試。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0014]圖1是本發(fā)明的用于物探測量的點(diǎn)觸式聲波探頭的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0015]下面結(jié)合附圖和【具體實(shí)施方式】對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說明:
[0016]如圖1所示,本發(fā)明的用于物探測量的點(diǎn)觸式聲波探頭,包括上下設(shè)置的上質(zhì)量塊3和下質(zhì)量塊8,上質(zhì)量塊3的側(cè)面凸出設(shè)置有用于與被測物體接觸的錐體1,上質(zhì)量塊3和下質(zhì)量塊8之間設(shè)置有依次由四個(gè)壓電陶瓷片4與三個(gè)電極片11相間組成的兩個(gè)晶振組,電極片11上連接有正極引線7和負(fù)極引線9,壓電陶瓷片4、電極片11、上質(zhì)量塊3和下質(zhì)量塊8之間的接觸面涂有用于耦合的硅油,在上質(zhì)量塊3和下質(zhì)量塊8之間、位于兩個(gè)晶振組外側(cè)設(shè)置有防電磁干擾的一圈金屬片6,在上質(zhì)量塊3、下質(zhì)量塊8、晶振組和金屬片6之間的空隙澆注有單組份硅膠10。
[0017]所述錐體I為圓錐體,其錐角為30-60°,優(yōu)選錐角為45°。所述錐體的尖端部位鑲嵌有硬質(zhì)合金。
[0018]本實(shí)施例中,所述上質(zhì)量塊3設(shè)置有貫通螺孔,下質(zhì)量塊8設(shè)置有螺孔,通過螺栓2依次穿過上質(zhì)量塊3的貫通螺孔、四個(gè)壓電陶瓷片4與三個(gè)電極片10擰入下質(zhì)量塊8的螺孔,使上質(zhì)量塊3和下質(zhì)量塊8緊固在一起,在與壓電陶瓷片4和電極片11接觸部位的螺栓2上套有硅膠管5。為了對(duì)晶振組產(chǎn)生更大的反射能量,所述下質(zhì)量塊8的質(zhì)量遠(yuǎn)大于上質(zhì)量塊3。所述上質(zhì)量塊3和下質(zhì)量塊8為圓柱體。
[0019]具體地說,本發(fā)明的用于物探測量的點(diǎn)觸式聲波探頭,用于固體介質(zhì)聲波速度測試。由一個(gè)90度的圓錐體的尖端作為點(diǎn)觸體,與被測固體介質(zhì)接觸,靠點(diǎn)接觸傳遞聲波,不需耦合劑。在圓錐體的尖端部位鑲嵌有耐磨高硬度合金。當(dāng)用于鉆孔聲波測試時(shí),點(diǎn)觸體與孔壁要有一定的接觸力,同時(shí)在接觸力的作用下點(diǎn)觸體移動(dòng)測點(diǎn)時(shí)還要與孔壁有滑動(dòng)摩擦,所以鑲嵌高硬度耐磨合金,以增長使用壽命。兩個(gè)圓柱狀質(zhì)量塊,其中一個(gè)圓柱質(zhì)量塊側(cè)面與頂角為90度的圓錐體連接為一體;兩個(gè)圓柱狀質(zhì)量塊之間有4個(gè)壓電陶瓷片,組成兩個(gè)晶振組,以增強(qiáng)激振能量。壓電陶瓷片之間有銅片電極。用螺栓將兩個(gè)圓柱狀質(zhì)量塊、兩個(gè)晶振組和三個(gè)電極片緊固在一起。點(diǎn)觸體I與上質(zhì)量塊3為一體,構(gòu)成對(duì)被測固體的振動(dòng)源。壓電陶瓷片4組成兩個(gè)晶振組,下質(zhì)量塊8的質(zhì)量遠(yuǎn)大于上質(zhì)量塊3,作用是對(duì)晶振組產(chǎn)生更大的反射能量。壓電陶瓷片、電極片、兩個(gè)質(zhì)量塊之間的接觸面有硅油耦合。硅膠管5起絕緣作用。單組份硅膠10起到絕緣和防水作用。金屬片6是為了防止干擾而設(shè)置。
[0020]組裝時(shí),依次將硅膠管5、四個(gè)壓電陶瓷片4與三個(gè)電極片10相間、上質(zhì)量塊3,分別套入螺栓2 ;之后螺栓2與下質(zhì)量塊8緊固;以上每一步的結(jié)合面都涂有硅油耦合;負(fù)極引線9與中間電極片焊接,并與下質(zhì)量塊8導(dǎo)電連接,正極引線7分別與另外兩電極片焊接,并導(dǎo)線引出。下質(zhì)量塊8與金屬片6的接觸部位開有一能使導(dǎo)線引出的槽。負(fù)極引線9、正極引線7,在質(zhì)量塊8的開槽處引出。單組份硅膠10由開槽處注入。
[0021]在鉆孔中測試時(shí)(發(fā)射或者接收),要使探頭體的軸向(需要定向裝置)與鉆孔的軸向一致;對(duì)具有較大平面的固體介質(zhì)進(jìn)行測試時(shí),要使探頭體的軸向與固體介質(zhì)的平面平行。同時(shí)點(diǎn)觸體與被測固體要有一定的接觸力。
[0022]綜上所述,本發(fā)明的內(nèi)容并不局限在上述的實(shí)施例中,相同領(lǐng)域內(nèi)的有識(shí)之士可以在本發(fā)明的技術(shù)指導(dǎo)思想之內(nèi)可以輕易提出其他的實(shí)施例,但這種實(shí)施例都包括在本發(fā)明的范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種用于物探測量的點(diǎn)觸式聲波探頭,其特征在于,包括上下設(shè)置的上質(zhì)量塊(3)和下質(zhì)量塊(8),上質(zhì)量塊(3)的側(cè)面凸出設(shè)置有用于與被測物體接觸的錐體(1),上質(zhì)量塊(3)和下質(zhì)量塊(8)之間設(shè)置有依次由四個(gè)壓電陶瓷片(4)與三個(gè)電極片(11)相間組成的兩個(gè)晶振組,電極片(11)上連接有正極引線和負(fù)極引線,壓電陶瓷片(4)、電極片(11)、上質(zhì)量塊(3)和下質(zhì)量塊(8)之間的接觸面涂有用于耦合的硅油,在上質(zhì)量塊(3)和下質(zhì)量塊(8)之間、位于兩個(gè)晶振組外側(cè)設(shè)置有防電磁干擾的一圈金屬片¢),在上質(zhì)量塊(3)、下質(zhì)量塊(8)、晶振組和金屬片(6)之間的空隙澆注有單組份硅膠(10)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于物探測量的點(diǎn)觸式聲波探頭,其特征在于,所述錐體(I)為圓錐體,其錐角為30-60°。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于物探測量的點(diǎn)觸式聲波探頭,其特征在于,所述錐體的尖端部位鑲嵌有硬質(zhì)合金。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于物探測量的點(diǎn)觸式聲波探頭,其特征在于,所述錐角為45。。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于物探測量的點(diǎn)觸式聲波探頭,其特征在于,所述上質(zhì)量塊(3)設(shè)置有貫通螺孔,下質(zhì)量塊(8)設(shè)置有螺孔,通過螺栓(2)依次穿過上質(zhì)量塊(3)的貫通螺孔、四個(gè)壓電陶瓷片(4)與三個(gè)電極片(10),擰入下質(zhì)量塊(8)的螺孔,使上質(zhì)量塊(3)和下質(zhì)量塊(8)緊固在一起,在與壓電陶瓷片(4)和電極片(11)對(duì)應(yīng)部位的螺栓(2)上套有娃膠管(5)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于物探測量的點(diǎn)觸式聲波探頭,其特征在于,為了對(duì)晶振組產(chǎn)生更大的反射能量,所述下質(zhì)量塊(8)的質(zhì)量遠(yuǎn)大于上質(zhì)量塊(3)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1-6任一項(xiàng)所述的用于物探測量的點(diǎn)觸式聲波探頭,其特征在于,所述上質(zhì)量塊(3)和下質(zhì)量塊(8)為圓柱體。
【文檔編號(hào)】G01H11/08GK104133001SQ201410421510
【公開日】2014年11月5日 申請(qǐng)日期:2014年8月25日 優(yōu)先權(quán)日:2014年8月25日
【發(fā)明者】艾寶利, 劉善軍, 韓連發(fā), 王世學(xué), 常偉, 趙黨軍, 李澤, 林柏余, 周劍, 宋克民 申請(qǐng)人:中國電建集團(tuán)北京勘測設(shè)計(jì)研究院有限公司