削減板級(jí)物理測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試方法
【專利摘要】本發(fā)明揭示了一種削減板級(jí)物理測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試方法，其包括如下步驟：提供待測(cè)電路板，所述待測(cè)電路板上安裝有若干電子元器件及對(duì)應(yīng)的若干物理測(cè)試點(diǎn)；若干電子元器件包括分別通過(guò)兩個(gè)電容而相互連接的兩個(gè)邊界掃描器件；對(duì)待測(cè)電路板上的物理測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行篩選，篩選出可以被消減的上述電子元器件中以差分線相連的電容與邊界掃描器件之間的物理測(cè)試點(diǎn)；運(yùn)用在線測(cè)試對(duì)未被消減的物理測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試，另外，輔助利用邊界掃描測(cè)試對(duì)可以被消減的物理測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試。通過(guò)對(duì)待測(cè)電路板上部分物理測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行優(yōu)化和消減，把這部分消減的物理測(cè)試點(diǎn)所能測(cè)到的電路通過(guò)成本較低的邊界掃描測(cè)試來(lái)完成，從而降低整個(gè)測(cè)試成本和時(shí)間。
【專利說(shuō)明】削減板級(jí)物理測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種削減板級(jí)物理測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試方法，屬于集成電路板級(jí)生產(chǎn)測(cè)試領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]在線測(cè)試(In-Circuit Test, ICT)被廣泛應(yīng)用于電子制造企業(yè)，它的作用主要是通過(guò)夾具，以PCB上的測(cè)試點(diǎn)為接口，對(duì)PCB上的電子元器件進(jìn)行電氣測(cè)試，以診斷電子元器件是否完好。
[0003]邊界掃描測(cè)試(Boundary Scan Test)是另一種測(cè)試方法,其定義了 TAP (TestAccess Port,測(cè)試訪問(wèn)端口)的5個(gè)管腳:TDI (Test Data Input,測(cè)試數(shù)據(jù)輸入)、TDO(Test Data Output，測(cè)試數(shù)據(jù)輸出)、TCK(測(cè)試時(shí)鐘)、TMS (測(cè)試模式選擇)及TRST (測(cè)試復(fù)位，可選)，其中，TMS用來(lái)加載控制信息；另外，邊界掃描測(cè)試還定義了 TAP控制器所支持的幾種測(cè)試模式，主要有外測(cè)試(EXTEST)、運(yùn)行測(cè)試(RUNTEST)及內(nèi)測(cè)試(INTEST)。使用時(shí)，將多個(gè)掃描器件的掃描鏈通過(guò)它們的TAP連在一起，就能夠形成一個(gè)連續(xù)的邊界寄存器鏈，在TDI加載測(cè)試信號(hào)就可以控制和測(cè)試所有相連的管腳。邊界掃描測(cè)試的虛擬引腳能夠代替ICT夾具對(duì)器件每個(gè)管腳的物理接觸。
[0004]由于傳統(tǒng)的在線測(cè)試要求每一個(gè)電路節(jié)點(diǎn)至少有一個(gè)測(cè)試點(diǎn)，隨著電路規(guī)模越來(lái)越大，所需的測(cè)試點(diǎn)越來(lái)越多，所以對(duì)應(yīng)夾具制作復(fù)雜度也越來(lái)越高，測(cè)試時(shí)間越來(lái)越長(zhǎng)，測(cè)試成本越來(lái)越高。
[0005]因此，有必要對(duì)現(xiàn)有的測(cè)試方法進(jìn)行改良，提供一種兼具效率與成本的測(cè)試方法。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0006]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題在于提供一種測(cè)試成本低、測(cè)試時(shí)間短的削減板級(jí)物理測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試方法。
[0007]為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:一種削減板級(jí)物理測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試方法，其特征在于，該方法包括如下步驟:
Si，提供待測(cè)電路板，所述待測(cè)電路板上安裝有若干電子元器件及對(duì)應(yīng)的若干物理測(cè)試點(diǎn)；若干電子元器件包括分別通過(guò)兩個(gè)電容而相互連接的兩個(gè)邊界掃描器件；
S2，對(duì)待測(cè)電路板上的物理測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行篩選，篩選出可以被消減的上述電子元器件中以差分線相連的電容與邊界掃描器件之間的物理測(cè)試點(diǎn)；
S3，運(yùn)用在線測(cè)試對(duì)未被消減的物理測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試，另外，輔助利用邊界掃描測(cè)試對(duì)可以被消減的物理測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試。
[0008]相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明通過(guò)對(duì)待測(cè)電路板上部分物理測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行優(yōu)化和消減，把這部分消減的物理測(cè)試點(diǎn)所能測(cè)到的電路通過(guò)成本較低的邊界掃描測(cè)試來(lái)完成，從而降低整個(gè)測(cè)試成本和時(shí)間。【專利附圖】
【附圖說(shuō)明】
[0009]圖1是本發(fā)明測(cè)試方法中可以被消減的物理測(cè)試點(diǎn)，其中，邊界掃描器件-電容-邊界掃描器件間(以差分線相連)的測(cè)試點(diǎn)都可以被消減。
【具體實(shí)施方式】
[0010]利用本發(fā)明測(cè)試方法檢測(cè)的待測(cè)電路板(未圖示)上安裝有若干電子元器件，例如邊界掃描器件、存儲(chǔ)器器件、電阻及電容等，并在待測(cè)電路板上形成若干對(duì)應(yīng)該等電子元器件的物理測(cè)試點(diǎn)。這些電子元器件通過(guò)待測(cè)電路板上的導(dǎo)電路徑(參圖1中的連接線)對(duì)應(yīng)連接在一起，使電路板具有特定的功能。
[0011]本發(fā)明削減板級(jí)物理測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試方法，包括如下步驟:
Si，提供待測(cè)電路板，所述待測(cè)電路板上安裝有若干電子元器件及物理測(cè)試點(diǎn)；
S2，對(duì)待測(cè)電路板上的物理測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行篩選，以挑出若干可以被消減的物理測(cè)試點(diǎn)；S3，運(yùn)用在線測(cè)試對(duì)未被消減的物理測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試，另外，輔助利用邊界掃描測(cè)試對(duì)可以被消減的物理測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試。
[0012]請(qǐng)參圖1所示，本發(fā)明削減板級(jí)物理測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試方法中可以被消減的物理測(cè)試點(diǎn)用TPR表示,具體說(shuō)明如下。
[0013]上述若干電子元器件包括待測(cè)電路板(未圖示)上安裝的兩個(gè)邊界掃描器件(分別為BSDl及BSD2)及位于這兩個(gè)邊界掃描器件(BSD1、BSD2)之間的兩個(gè)電容(分別為Cl及C2)，其中，以差分線相連的電容(C1、C2)與邊界掃描器件(BSD1、BSD2)之間的物理測(cè)試點(diǎn)均可以被消減，即，以差分線相連的邊界掃描器件(BSDl)-電容(Cl、C2)-邊界掃描器件(BSD2)間的物理測(cè)試點(diǎn)都可以被消減。把這部分物理測(cè)試點(diǎn)所能測(cè)到的電路通過(guò)成本較低的邊界掃描測(cè)試來(lái)完成。
[0014]相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明通過(guò)在線測(cè)試對(duì)待測(cè)電路板上電子元器件進(jìn)行測(cè)試，另夕卜，對(duì)待測(cè)電路板上部分物理測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行優(yōu)化和消減，把這部分消減的物理測(cè)試點(diǎn)所能測(cè)到的電路通過(guò)成本較低的邊界掃描測(cè)試來(lái)完成，從而降低整個(gè)測(cè)試成本和時(shí)間。
[0015]綜上所述，以上僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，不應(yīng)以此限制本發(fā)明的范圍，即凡是依本發(fā)明權(quán)利要求書及發(fā)明說(shuō)明書內(nèi)容所作的簡(jiǎn)單的等效變化與修飾，皆應(yīng)仍屬本發(fā)明專利涵蓋的范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種削減板級(jí)物理測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試方法，其特征在于，該方法包括如下步驟: Si，提供待測(cè)電路板，所述待測(cè)電路板上安裝有若干電子元器件及對(duì)應(yīng)的若干物理測(cè)試點(diǎn)；若干電子元器件包括分別通過(guò)兩個(gè)電容而相互連接的兩個(gè)邊界掃描器件； S2，對(duì)待測(cè)電路板上的物理測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行篩選，篩選出可以被消減的上述電子元器件中以差分線相連的電容與邊界掃描器件之間的物理測(cè)試點(diǎn)； S3，運(yùn)用在線測(cè)試對(duì)未被消減的物理測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試，另外，輔助利用邊界掃描測(cè)試對(duì)可以被消減的物理測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試。
【文檔編號(hào)】G01R31/00GK103884949SQ201410152611
【公開(kāi)日】2014年6月25日 申請(qǐng)日期:2010年12月14日 優(yōu)先權(quán)日:2010年12月14日
【發(fā)明者】趙 怡 申請(qǐng)人:蘇州工業(yè)園區(qū)譜芯科技有限公司
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