負(fù)透鏡焦距測試裝置制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種負(fù)透鏡焦距測試裝置，該負(fù)透鏡焦距測試裝置包括光源、目標(biāo)模擬系統(tǒng)、監(jiān)視系統(tǒng)以及數(shù)據(jù)采集及處理系統(tǒng)；目標(biāo)模擬系統(tǒng)以及監(jiān)視系統(tǒng)依次設(shè)置在光源的出射光路上；監(jiān)視系統(tǒng)與數(shù)據(jù)采集及處理系統(tǒng)相連；待測負(fù)透鏡設(shè)置在目標(biāo)模擬系統(tǒng)與監(jiān)視系統(tǒng)之間。本實(shí)用新型提供了一種誤差小以及測量效率高的負(fù)透鏡焦距測試裝置。
【專利說明】負(fù)透鏡焦距測試裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬光學(xué)測試領(lǐng)域，涉及一種負(fù)透鏡焦距測試裝置，尤其涉及一種長焦負(fù)透鏡焦距測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]負(fù)透鏡是光測設(shè)備中的常用光學(xué)元件，其加工完成后，焦距是一項(xiàng)重要的參數(shù)，其焦距加工的準(zhǔn)確與否，直接影響整個(gè)光路的對(duì)接。
[0003]傳統(tǒng)測試方法:對(duì)短焦負(fù)透鏡焦距的測試，通常采用平行光管與長工作距顯微鏡組成的測試系統(tǒng)，用放大率法對(duì)其焦距進(jìn)行測試；而對(duì)長焦負(fù)透鏡焦距的測試，一般采用附加透鏡法進(jìn)行測試，采用一個(gè)焦距比負(fù)透鏡焦距長的正透鏡組成伽利略望遠(yuǎn)系統(tǒng)，使其離焦量為零，通過測試其視放大率，間接測量負(fù)透鏡焦距，這種方法需要正負(fù)透鏡對(duì)接，調(diào)整步驟復(fù)雜，且測量主要誤差來源是正透鏡的焦距誤差，該測試方法耗時(shí)耗力，效率低下，精度也相對(duì)較低。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0004]為了解決【背景技術(shù)】中存在的上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種誤差小以及測量效率高的負(fù)透鏡焦距測試裝置。
[0005]本發(fā)明的技術(shù)解決方案是:本發(fā)明提供了一種負(fù)透鏡焦距測試裝置，其特殊之處在于:所述負(fù)透鏡焦距測試裝置包括光源、目標(biāo)模擬系統(tǒng)、監(jiān)視系統(tǒng)以及數(shù)據(jù)采集及處理系統(tǒng)；所述目標(biāo)模擬系統(tǒng)以及監(jiān)視系統(tǒng)依次設(shè)置在光源的出射光路上；所述監(jiān)視系統(tǒng)與數(shù)據(jù)采集及處理系統(tǒng)相連；待測負(fù)透鏡設(shè)置在目標(biāo)模擬系統(tǒng)與監(jiān)視系統(tǒng)之間。
[0006]上述目標(biāo)模擬系統(tǒng)包括玻羅板以及平行光管；所述玻羅板以及平行光管依次設(shè)置在光源的出射光路上。
[0007]上述玻羅板設(shè)置在平行光管的焦面上。
[0008]上述監(jiān)視系統(tǒng)包括變焦鏡頭以及圖像傳感器；待測負(fù)透鏡、變焦鏡頭以及圖像傳感器設(shè)置在同一光路上；所述圖像傳感器與數(shù)據(jù)采集及處理系統(tǒng)相連。
[0009]上述圖像傳感器是帶有雙線瞄準(zhǔn)的圖像傳感器。
[0010]上述數(shù)據(jù)采集及處理系統(tǒng)包括測長機(jī)構(gòu)以及與測長機(jī)構(gòu)相連的采集控制計(jì)算機(jī)；所述圖像傳感器與采集控制計(jì)算機(jī)相連。
[0011]本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于:
[0012]本發(fā)明提供了一種負(fù)透鏡焦距測試裝置，利用平行光管、變焦鏡頭、圖像傳感器、采集控制計(jì)算機(jī)組合，采用放大率法實(shí)現(xiàn)對(duì)長焦負(fù)透鏡焦距的測量；采用變焦鏡頭和圖像傳感器組成的監(jiān)視系統(tǒng)，避免了人眼瞄準(zhǔn)視覺疲勞引入的誤差。采用該裝置，自動(dòng)化程度高，適合長焦負(fù)透鏡焦距的測量，提高工作效率。采用該裝置，無附加透鏡的影響，測量精度進(jìn)一步提高。本發(fā)明所提供的長焦負(fù)透鏡焦距的測試方法，解決了附加透鏡法測試的不足，極大地提高了工作效率和焦距測試精度?！緦＠綀D】
【附圖說明】
[0013]圖1是本發(fā)明所提供的負(fù)透鏡焦距測試裝置的原理示意圖；
[0014]其中:
[0015]1-光源；2_玻羅板；3_平行光管；4_待測負(fù)透鏡；5_變焦鏡頭；6_圖像傳感器；7-測長機(jī)構(gòu)；8_采集控制計(jì)算機(jī)。
【具體實(shí)施方式】
[0016]參見圖1，本發(fā)明提供了一種負(fù)透鏡焦距測試裝置，其特殊之處在于:負(fù)透鏡焦距測試裝置包括光源1、目標(biāo)模擬系統(tǒng)、監(jiān)視系統(tǒng)以及數(shù)據(jù)采集及處理系統(tǒng)；目標(biāo)模擬系統(tǒng)以及監(jiān)視系統(tǒng)依次設(shè)置在光源I的出射光路上；監(jiān)視系統(tǒng)與數(shù)據(jù)采集及處理系統(tǒng)相連；待測負(fù)透鏡4設(shè)置在目標(biāo)模擬系統(tǒng)與監(jiān)視系統(tǒng)之間。
[0017]目標(biāo)模擬系統(tǒng)包括玻羅板2以及平行光管3;玻羅板2以及平行光管3依次設(shè)置在光源I的出射光路上。
[0018]玻羅板2設(shè)置在平行光管3的焦面上。
[0019]監(jiān)視系統(tǒng)包括變焦鏡頭5以及圖像傳感器6 ;待測負(fù)透鏡4、變焦鏡頭5以及圖像傳感器6設(shè)置在同一光路上；圖像傳感器6與數(shù)據(jù)采集及處理系統(tǒng)相連。
[0020]圖像傳感器6是帶有雙線瞄準(zhǔn)的圖像傳感器6。
[0021]數(shù)據(jù)采集及處理系統(tǒng)包括測長機(jī)構(gòu)7以及與測長機(jī)構(gòu)7相連的采集控制計(jì)算機(jī)8 ；圖像傳感器6與采集控制計(jì)算機(jī)8相連。測長機(jī)構(gòu)7是目前常用的各種能夠測量長度的器件。
[0022]工作時(shí)，開啟光源1，照明焦面上裝有玻羅板2的平行光管3，將待測負(fù)透鏡4置于平行光管3前，待測負(fù)透鏡4對(duì)玻羅板2成虛像，由變焦鏡頭5和圖像傳感器6組成的監(jiān)視系統(tǒng)對(duì)其進(jìn)行監(jiān)視。調(diào)節(jié)變焦鏡頭5，使其監(jiān)視面與玻羅板2經(jīng)待測負(fù)透鏡4所成像面重合，用帶有雙線瞄準(zhǔn)的圖像傳感器6瞄準(zhǔn)玻羅板像線對(duì)中的一條，使測長機(jī)構(gòu)7清零，再用圖像傳感器6瞄準(zhǔn)玻羅板像線對(duì)中的另一條，記錄測長機(jī)構(gòu)7所測長度，則負(fù)透鏡的焦距f'為:
【權(quán)利要求】
1.一種負(fù)透鏡焦距測試裝置，其特征在于:所述負(fù)透鏡焦距測試裝置包括光源、目標(biāo)模擬系統(tǒng)、監(jiān)視系統(tǒng)以及數(shù)據(jù)采集及處理系統(tǒng)；所述目標(biāo)模擬系統(tǒng)以及監(jiān)視系統(tǒng)依次設(shè)置在光源的出射光路上；所述監(jiān)視系統(tǒng)與數(shù)據(jù)采集及處理系統(tǒng)相連；待測負(fù)透鏡設(shè)置在目標(biāo)模擬系統(tǒng)與監(jiān)視系統(tǒng)之間。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的負(fù)透鏡焦距測試裝置，其特征在于:所述目標(biāo)模擬系統(tǒng)包括玻羅板以及平行光管；所述玻羅板以及平行光管依次設(shè)置在光源的出射光路上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的負(fù)透鏡焦距測試裝置，其特征在于:所述玻羅板設(shè)置在平行光管的焦面上。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的負(fù)透鏡焦距測試裝置，其特征在于:所述監(jiān)視系統(tǒng)包括變焦鏡頭以及圖像傳感器；待測負(fù)透鏡、變焦鏡頭以及圖像傳感器設(shè)置在同一光路上；所述圖像傳感器與數(shù)據(jù)采集及處理系統(tǒng)相連。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的負(fù)透鏡焦距測試裝置，其特征在于:所述圖像傳感器是帶有雙線瞄準(zhǔn)的圖像傳感器。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的負(fù)透鏡焦距測試裝置，其特征在于:所述數(shù)據(jù)采集及處理系統(tǒng)包括測長機(jī)構(gòu)以及與測長機(jī)構(gòu)相連的采集控制計(jì)算機(jī)；所述圖像傳感器與采集控制計(jì)算機(jī)相連。
【文檔編號(hào)】G01M11/02GK203606110SQ201320803416
【公開日】2014年5月21日 申請(qǐng)日期:2013年12月6日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月6日
【發(fā)明者】陳永權(quán), 段亞軒, 袁湘蘭, 李坤, 趙建科, 賽建剛, 胡丹丹, 龍江波, 昌明, 薛勛, 周艷, 張潔 申請(qǐng)人:中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所
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