一種應(yīng)用在多斜孔工件中斜孔位置度檢測裝置制造方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種應(yīng)用在多斜孔工件中斜孔位置度檢測裝置，包括可沿第一方向水平運動的基座（10），和設(shè)置在基座（10）上方可沿第二方向水平運動的橫梁（4），第一方向與第二方向垂直，測量時，將工件（8）固定在基座（10）的上表面，此時，該工件（8）上每個斜孔所在的位置為被測位置，本實用新型還包括：標(biāo)定相機（2），豎直固定在在橫梁（4）上；第一測量相機（6），設(shè)置在橫梁（4）上，且可相對橫梁（4）轉(zhuǎn)動，其個數(shù)大于或者等于工件（8）的斜孔數(shù)目；第二測量相機（12），水平設(shè)置，其個數(shù)大于或者等于工件（8）的斜孔數(shù)目，每個第二測量相機（12）的鏡頭均指向被測位置。本實用新型結(jié)構(gòu)簡單，易操作。
【專利說明】 一種應(yīng)用在多斜孔工件中斜孔位置度檢測裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及機械領(lǐng)域，尤其涉及一種斜孔圓心的位置度測量方法。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)代機械加工和制造行業(yè)的發(fā)展，機械產(chǎn)品結(jié)構(gòu)越來越復(fù)雜，產(chǎn)品上的斜孔的質(zhì)量要求也相應(yīng)提高，斜孔的位置度及空間角度的精確度直接影響到產(chǎn)品的質(zhì)量。隨著工業(yè)體系的發(fā)展，對位置度和空間角度測量的要求及精度越來越高，測量方法與手段也不斷提升。目前主要是通過三坐標(biāo)測量儀對被測產(chǎn)品表面進(jìn)行數(shù)據(jù)點掃描、采集數(shù)據(jù)點，以獲得被測產(chǎn)品在空間范圍內(nèi)的三坐標(biāo)，從而獲得產(chǎn)品上斜孔的位置度和空間角度。
[0003]但是三坐標(biāo)測量儀成本較高且不能批量進(jìn)行測量，使得企業(yè)生產(chǎn)成本較高；為降低成本，有采用芯棒配合測量法，即根據(jù)被測斜孔的設(shè)計參數(shù)，制作相應(yīng)的芯棒，然后使用儀器對芯棒進(jìn)行測量而間接獲得斜孔的相關(guān)數(shù)據(jù)，該測量方法雖然成本較低，但是測量精度較低，且不具備較好適應(yīng)性，因為斜孔的尺寸變化多樣，一棒配一孔的配套芯棒數(shù)量較大，管理成本較高，因此，實用性不強。
實用新型內(nèi)容
[0004]本實用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種更加方便的，用于測量工件上多個斜孔位置度的檢測裝置。
[0005]為解決上述問題，本實用新型提供了一種應(yīng)用在多斜孔工件中斜孔位置度檢測裝置，包括可沿第一方向水平運動的基座，和設(shè)置在所述基座上方可沿第二方向水平運動的橫梁，所述第一方向與所述第二方向垂直，測量時，將所述工件固定在所述基座的上表面，此時，該工件上每個斜孔所在的位置為被測位置，其特征在于，還包括:
[0006]-標(biāo)定相機，豎直固定在所述在所述橫梁上；
[0007]-第一測量相機，設(shè)置在所述橫梁上，且可相對所述橫梁轉(zhuǎn)動，其個數(shù)大于或者等于所述工件的斜孔數(shù)目；
[0008]-第二測量相機，水平設(shè)置，其個數(shù)大于或者等于所述工件的斜孔數(shù)目，每個所述第二測量相機的鏡頭均指向所述被測位置。
[0009]作為本實用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述工件上的斜孔數(shù)目為四個，所述第一測量相機和第二測量相機的數(shù)目均為四個。
[0010]作為本實用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述基座上還設(shè)有若干支撐pin針和限位pin針，所述支撐Pin針的上表面與所述工件的下表面接觸，所述限位pin針用于將所述工件限制在固定的空間內(nèi)。
[0011]本實用新型解決了【背景技術(shù)】中存在的缺陷，本實用新型的斜孔檢測裝置結(jié)構(gòu)簡單，易操作、成本低、實用性強、精度高，可批量測量一個工件中多個斜孔的位置度。
【專利附圖】
【附圖說明】[0012]圖1為本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0013]圖2為圖1中A-A向的示意圖；
[0014]圖3為圖1中B-B向的示意圖；
[0015]圖4為本實用新型中，標(biāo)定板的俯視圖。
[0016]其中:2_標(biāo)定相機；4-橫梁；6-第一測量相機；8-工件；10_基座；12-第二測量相機；14-標(biāo)定板。
【具體實施方式】
[0017]下面結(jié)合附圖對本實用新型做進(jìn)一步詳細(xì)說明。
[0018]如圖1-3所示，為解決上述問題，本實用新型包括可沿第一方向(定義為Y軸方向)水平運動的基座10，和設(shè)置在基座10上方可沿第二方向(定義為X軸方向)水平運動的橫梁4，第一方向與第二方向垂直，測量時，將工件8固定在基座10的上表面，此時，該工件8上每個斜孔所在的位置為被測位置，本實用新型還包括:
[0019]-標(biāo)定相機2，豎直固定在在橫梁4上；
[0020]-第一測量相機6，設(shè)置在橫梁4上，且可相對橫梁4轉(zhuǎn)動，其個數(shù)大于或者等于工件8的斜孔數(shù)目；
[0021]-第二測量相機12，水平設(shè)置，其個數(shù)大于或者等于工件8的斜孔數(shù)目，每個第二測量相機12的鏡頭均指向被測位置。
[0022]在本實用新型中，工件8上的斜孔數(shù)目為四個，第一測量相機6和第二測量相機12的數(shù)目均為四個。
[0023]在本實用新型中，基座10上還設(shè)有若干支撐pin針和限位pin針，支撐pin針的上表面與工件8的下表面接觸，限位pin針用于將工件8限制在固定的空間內(nèi)。
[0024]本實用新型的一種優(yōu)選實施例中，其具體步驟如下:
[0025]( I)選取棋盤格作為標(biāo)定板14 ；
[0026](2)將標(biāo)定板14水平放置在其中一個被側(cè)位置上，水平移動橫梁4使得標(biāo)定相機2正對標(biāo)定板14，從而對標(biāo)定板14進(jìn)行標(biāo)定取像，提取角點，即可建立標(biāo)定相機2的圖像坐標(biāo)與標(biāo)定板14坐標(biāo)的映射關(guān)系；
[0027](3)沿Y軸或者X軸方向，移動橫梁4或者基座10，獲取標(biāo)定板14四個不同位置的角點，即可獲取該標(biāo)定板14在機械坐標(biāo)系中的絕對位置；
[0028](4)移動橫梁4，使用傾斜設(shè)置的第一測量相機6對標(biāo)定塊機械標(biāo)定取像，進(jìn)行角點提取后，建立第一測量相機6的圖像坐標(biāo)與標(biāo)定板14坐標(biāo)的映射關(guān)系，并通過換算獲得第一測量相機6上的圖像點，在機械坐標(biāo)系中的位置；
[0029](5)將標(biāo)定板14依次放置在其他三個被測位置上，重復(fù)步驟2-4，獲得其他三個第一測量相機6上的圖像點，在機械坐標(biāo)系中的位置；
[0030](6)取出標(biāo)定板14，將工件8放在基座10上，使得每個待測的斜孔對準(zhǔn)被測位置，四個第一測量相機6同時對各自對應(yīng)的斜孔進(jìn)行取像，通過計算獲取斜孔圓心的X、Y方向的數(shù)值；
[0031](7)使用四個水平設(shè)置的第二測量相機12對其相對于的斜孔豎直面方向進(jìn)行取像，并通過已經(jīng)獲得的X、Y方向的數(shù)字獲得斜孔圓心Z方向的數(shù)值。[0032]綜上所述，采用這種裝置，可以獲得的斜孔圓心的具體坐標(biāo)，而且具有易操作、成本低、實用性強、精度高等優(yōu)點，可批量測量一個工件中多個斜孔的位置度。
【權(quán)利要求】
1.一種應(yīng)用在多斜孔工件中斜孔位置度檢測裝置，包括可沿第一方向水平運動的基座(10)，和設(shè)置在所述基座(10)上方可沿第二方向水平運動的橫梁(4)，所述第一方向與所述第二方向垂直，測量時，將所述工件(8)固定在所述基座(10)的上表面，此時，該工件(8)上每個斜孔所在的位置為被測位置，其特征在于，還包括: -標(biāo)定相機(2)，豎直固定在所述橫梁(4)上； -第一測量相機(6)，設(shè)置在所述橫梁(4)上，且可相對所述橫梁(4)轉(zhuǎn)動，其個數(shù)大于或者等于所述工件(8)的斜孔數(shù)目； -第二測量相機(12)，水平設(shè)置，其個數(shù)大于或者等于所述工件(8)的斜孔數(shù)目，每個所述第二測量相機(12)的鏡頭均指向所述被測位置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種應(yīng)用在多斜孔工件中斜孔位置度檢測裝置，其特征在于，所述工件(8)上的斜孔數(shù)目為四個，所述第一測量相機(6)和第二測量相機(12)的數(shù)目均為四個。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種應(yīng)用在多斜孔工件中斜孔位置度檢測裝置，其特征在于，所述基座(10)上還設(shè)有若干支撐pin針和限位pin針,所述支撐pin針的上表面與所述工件(8)的下表面接觸，所述限位pin針用于將所述工件(8)限制在固定的空間內(nèi)。
【文檔編號】G01B11/00GK203587048SQ201320608702
【公開日】2014年5月7日 申請日期:2013年9月30日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月30日
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