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專利名稱：一種v波段平面電路測試夾具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電路測試技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種V波段平面電路測試夾具。
背景技術(shù)：
微波需要通過微波傳輸線來進(jìn)行傳輸，常用的微波傳輸線有微帶線，同軸線，波導(dǎo)等，微帶線是一種平面形式的微波傳輸線，特別適合制作微波集成電路，隨著集成電路設(shè)計和工藝技術(shù)的發(fā)展，在現(xiàn)代微波電子設(shè)備中，電路設(shè)計廣泛采用微帶線形式。微波電路之間的連接或者微波電路與測試設(shè)備之間的連接主要采用同軸線和波導(dǎo)形式，但在V波段，采用波導(dǎo)形式具有更高的可靠性和經(jīng)濟(jì)性，以及更低的損耗，即微波電路的輸入輸出接口需要采用波導(dǎo)接口形式，這樣就要實現(xiàn)波導(dǎo)與微帶之間的轉(zhuǎn)換。實現(xiàn)波導(dǎo)與微帶之間的轉(zhuǎn)換，傳統(tǒng)的做法是通過一個微波轉(zhuǎn)換接頭來實現(xiàn)微波信號在不同傳輸線形式之間的變換。這里的微波轉(zhuǎn)換接頭主要是指波導(dǎo)微帶轉(zhuǎn)換器，一端是可搭在微帶上、與微帶連接的同軸針，一端是帶法蘭安裝面的波導(dǎo)口。但是，一方面，目前市場上很少有應(yīng)用于V波段的波導(dǎo)微帶轉(zhuǎn)換器；另一方面，用同軸實現(xiàn)波導(dǎo)與微帶之間的互聯(lián)，既會使損耗變大，也會增加設(shè)計的復(fù)雜度。所以需求的是波導(dǎo)與微帶之間直接進(jìn)行轉(zhuǎn)換的轉(zhuǎn)換器。波導(dǎo)與微帶之間直接轉(zhuǎn)換的方法有脊波導(dǎo)和鰭線。這兩種轉(zhuǎn)換方式應(yīng)用都較少，如果用鰭線實現(xiàn)波導(dǎo)與微帶的轉(zhuǎn)換，整個被測電路會被封閉在波導(dǎo)腔內(nèi)，這樣一來，一方面被測電路的體積會受限，另一方面對于某些電路可能會引起自激。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種獨立通用，易于加工，體積小，損耗低，波導(dǎo)口方向與微帶傳輸線方向保持一致，方面實用的V波段平面電路測試夾具。本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:提供一種V波段平面電路測試夾具，包括用于放置測試電路的底座、第一波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件和第二波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件，所述第一波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件安裝在所述底座上形成輸入波導(dǎo)口，所述第二波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件安裝在所述底座上形成輸出波導(dǎo)口，所述輸入波導(dǎo)口的方向和輸出波導(dǎo)口的方向與測試電路的微帶傳輸線方向一致；所述測試電路的微帶處于開放環(huán)境中。所述輸入波導(dǎo)口和輸出波導(dǎo)口均采用脊波導(dǎo)轉(zhuǎn)換形式，一端為波導(dǎo)接口，另一端設(shè)有脊，所述脊直接壓接在測試電路的微帶上。所述脊波導(dǎo)轉(zhuǎn)換形式為階梯式單脊波導(dǎo)形式。所述第一波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件整體呈長方體結(jié)構(gòu)，所述長方體結(jié)構(gòu)的側(cè)面中央位置上設(shè)有一與底座上卡槽相配且貫穿長方體結(jié)構(gòu)徑向的凸臺，所述凸臺上的一側(cè)設(shè)有階梯式單脊；所述第二波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件的結(jié)構(gòu)與第一波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件的結(jié)構(gòu)相同。所述階梯式單脊的最后一級直接壓在測試電路的微帶上。所述第一波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件和第二波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件的遠(yuǎn)離階梯式單脊的一側(cè)的側(cè)面還設(shè)有法蘭接口。
所述底座上還安裝有帶有供電孔的擋板。有益效果由于采用了上述的技術(shù)方案，本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下的優(yōu)點和積極效果:本發(fā)明將以微帶輸入輸出的待測電路的兩端微帶部分分別插入脊波導(dǎo)中，實現(xiàn)微帶與波導(dǎo)之間的轉(zhuǎn)換，最后的輸入輸出均為波導(dǎo)接口。本發(fā)明可獨立通用，易于加工，體積小，損耗低，裝卸方便，可輕松的實現(xiàn)高頻電路或芯片的測試工作。其相關(guān)的技術(shù)也同樣可以運用到其他的微波頻段，實用性很高。


圖1是本發(fā)明與微帶的裝配示意圖；圖2是圖1的A向視圖；圖3是圖2的B向視圖；圖4是整體裝配示意圖。圖5是本發(fā)明中底座結(jié)構(gòu)示意圖；圖6是本發(fā)明中第一波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施例方式下面結(jié)合具體實施例，進(jìn)一步闡述本發(fā)明。應(yīng)理解，這些實施例僅用于說明本發(fā)明而不用于限制本發(fā)明的范圍。此外應(yīng)理解，在閱讀了本發(fā)明講授的內(nèi)容之后，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以對本發(fā)明作各種改動或修改，這些等價形式同樣落于本申請所附權(quán)利要求書所限定的范圍。本發(fā)明的實施方式涉及一種V波段平面電路測試夾具，如圖1至圖4所示，包括用于放置測試電路的底座3、第一波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件I和第二波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件2，所述第一波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件I安裝在所述底座3上形成輸入波導(dǎo)口 8，所述第二波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件2安裝在所述底座3上形成輸出波導(dǎo)口 9,所述輸入波導(dǎo)口 8的方向和輸出波導(dǎo)口 9的方向與測試電路的微帶10傳輸線方向一致；所述測試電路的微帶10處于開放環(huán)境中。所述輸入波導(dǎo)口 8和輸出波導(dǎo)口 9均采用脊波導(dǎo)轉(zhuǎn)換形式，一端為波導(dǎo)接口，另一端設(shè)有脊，所述脊直接壓接在測試電路的微帶10上。所述脊波導(dǎo)轉(zhuǎn)換形式為階梯式單脊波導(dǎo)形式。所述第一波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件I和第二波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件2的遠(yuǎn)離階梯式單脊4的一側(cè)的側(cè)面還設(shè)有法蘭接口 5。所述底座3上還安裝有帶有供電孔的擋板11。如圖6所示，所述第一波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件I整體呈長方體結(jié)構(gòu)，所述長方體結(jié)構(gòu)的側(cè)面中央位置上設(shè)有一與底座3 (見圖5)上卡槽相配且貫穿長方體結(jié)構(gòu)徑向的凸臺，所述凸臺上的一側(cè)設(shè)有階梯式單脊4 ;所述第二波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件與第一波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件的結(jié)構(gòu)相同。所述階梯式單脊4的最后一級直接壓在測試電路的微帶上。如圖5所示，底座3側(cè)面還設(shè)有兩個卡槽，用于與帶有供電孔的擋板11裝配。由于本發(fā)明采用脊波導(dǎo)的形式，除了輸入輸出兩端口的波導(dǎo)轉(zhuǎn)脊波導(dǎo)是在波導(dǎo)腔內(nèi)，其它從微帶到整個被測電路部分均是在開放環(huán)境中，既沒有體積限制，也不會造成腔體自激，而且整個測試夾具體積小，損耗低，帶寬寬。本發(fā)明的輸入端為輸入波導(dǎo)口 8，輸出端為輸出波導(dǎo)口 9，測試電路用微帶10代替，微帶10直接壓接在第一波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件I的脊4和第二波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件2的脊下，第一波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件I通過螺釘孔6固定在底座3上，第二波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件2通過螺釘孔7固定在底座3上。測試時，測試設(shè)備通過與法蘭接口 5相對接實現(xiàn)與波導(dǎo)口 8的連接，輸出端同理。當(dāng)所測電路需要供電時，供電用的擋板11可通過螺釘孔13固定在結(jié)構(gòu)件3上，供電由供電孔14供入。不難發(fā)現(xiàn)，本發(fā)明將以微帶輸入輸出的待測電路的兩端微帶部分分別插入脊波導(dǎo)中，實現(xiàn)微帶與波導(dǎo)之間的轉(zhuǎn)換，最后的輸入輸出均為波導(dǎo)接口。本發(fā)明可獨立通用，易于加工，體積小，損耗低，裝卸方便，可輕松的實現(xiàn)高頻電路或芯片的測試工作。其相關(guān)的技術(shù)也同樣可以運用到其他的微波頻段，實用性很高。
權(quán)利要求
1.一種V波段平面電路測試夾具，包括用于放置測試電路的底座(3)、第一波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件(1)和第二波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件(2)，其特征在于，所述第一波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件(I)安裝在所述底座(3)上形成輸入波導(dǎo)口(8)，所述第二波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件(2)安裝在所述底座(3)上形成輸出波導(dǎo)口(9)，所述輸入波導(dǎo)口(8)的方向和輸出波導(dǎo)口(9)的方向與測試電路的微帶(10)傳輸線方向一致；所述測試電路的微帶(10)處于開放環(huán)境中。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的V波段平面電路測試夾具，其特征在于，所述輸入波導(dǎo)口(8)和輸出波導(dǎo)口(9)均采用脊波導(dǎo)轉(zhuǎn)換形式，一端為波導(dǎo)接口，另一端設(shè)有脊，所述脊直接壓接在測試電路的微帶(10)上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的V波段平面電路測試夾具，其特征在于，所述脊波導(dǎo)轉(zhuǎn)換形式為階梯式單脊波導(dǎo)形式。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的V波段平面電路測試夾具，其特征在于，所述第一波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件(I)整體呈長方體結(jié)構(gòu)，所述長方體結(jié)構(gòu)的側(cè)面中央位置上設(shè)有一與底座上卡槽相配且貫穿長方體結(jié)構(gòu)徑向的凸臺，所述凸臺上的一側(cè)設(shè)有階梯式單脊(4);所述第二波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件(2)的結(jié)構(gòu)與第一波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件(I)的結(jié)構(gòu)相同。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的V波段平面電路測試夾具，其特征在于，所述階梯式單脊(4)的最后一級直接壓在測試電路的微帶(10)上。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的V波段平面電路測試夾具，其特征在于，所述第一波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件(I)和第二波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件(2)的遠(yuǎn)離階梯式單脊(4)的一側(cè)的側(cè)面還設(shè)有法蘭接口(5)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的V波段平面電路測試夾具，其特征在于，所述底座(3)上還安裝有帶有供電孔的擋板(11)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種V波段平面電路測試夾具，包括用于放置測試電路的底座、第一波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件和第二波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件，所述第一波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件安裝在所述底座上形成輸入波導(dǎo)口，所述第二波導(dǎo)結(jié)構(gòu)件安裝在所述底座上形成輸出波導(dǎo)口，所述輸入波導(dǎo)口的方向和輸出波導(dǎo)口的方向與測試電路的微帶傳輸線方向一致；所述測試電路的微帶處于開放環(huán)境中。本發(fā)明可獨立通用，易于加工，體積小，損耗低，裝卸方便，可輕松的實現(xiàn)高頻電路或芯片的測試工作。
文檔編號G01R1/04GK103207291SQ20131008080
公開日2013年7月17日 申請日期2013年3月14日 優(yōu)先權(quán)日2013年3月14日
發(fā)明者汪書娜, 李凌云, 孫曉瑋, 錢蓉 申請人:中國科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所