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測試高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路的制作方法
【專利摘要】測試高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路。目前，國內(nèi)還沒有針對(duì)高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)進(jìn)行校驗(yàn)的專用設(shè)備，一般采用多種儀器組合以手動(dòng)方式校驗(yàn)，存在接線復(fù)雜，附加誤差多，需專業(yè)人員進(jìn)行操作，工作效率低等不足。本發(fā)明的組成包括：高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置控制電路（1），所述的高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置控制電路分別與電子計(jì)數(shù)器（2）、被測校驗(yàn)裝置（3）連接。本發(fā)明用于測試高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)。
【專利說明】測試高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路
[0001]

【技術(shù)領(lǐng)域】： 本發(fā)明涉及一種測試高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路。
[0002]

【背景技術(shù)】： 在工業(yè)控制及輸變電系統(tǒng)中，各種高壓開關(guān)、接觸器、繼電器等通斷電控制器件被廣泛 應(yīng)用，高壓開關(guān)的合閘時(shí)間、分閘時(shí)間、合閘同期性、分閘同期性及彈跳時(shí)間等時(shí)間參數(shù)，對(duì) 整個(gè)系統(tǒng)的穩(wěn)定工作至關(guān)重要，如不引起足夠認(rèn)識(shí)，輕者可致電網(wǎng)波動(dòng)，重者導(dǎo)致重大供電 事故。使用高壓開關(guān)測試儀對(duì)高壓開關(guān)的時(shí)間參數(shù)進(jìn)行精確校驗(yàn)，對(duì)保障輸變電系統(tǒng)的安 全、穩(wěn)定運(yùn)行有著重大意義。
[0003] 目前，國內(nèi)還沒有針對(duì)高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)進(jìn)行校驗(yàn)的專用設(shè)備， 一般采用多種儀器組合以手動(dòng)方式校驗(yàn)，存在接線復(fù)雜，附加誤差多，需專業(yè)人員進(jìn)行操 作，工作效率低等不足。不能對(duì)高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)進(jìn)行準(zhǔn)確校驗(yàn)。
[0004]


【發(fā)明內(nèi)容】
： 本發(fā)明的目的是提供一種測試高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路。
[0005] 上述的目的通過以下的技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)： 一種測試高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路，其組成包括：高壓開關(guān)測試儀校 驗(yàn)裝置控制電路，所述的高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置控制電路分別與電子計(jì)數(shù)器、被測校驗(yàn) 裝置連接。
[0006] 所述的測試高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路，所述的高壓開關(guān)測試儀校 驗(yàn)裝置控制電路包括電源輸入電路，所述的電源輸入電路與電阻R1、開關(guān)BUT1連接，所述 的開關(guān)BUT1與反相器U1A、電阻R2連接，所述的反相器UIA與反相器U1B連接，所述的電阻 R1、所述的反相器U1B通過開關(guān)SW1、開關(guān)SW2與D觸發(fā)器U2連接，所述的D觸發(fā)器U2通過 開關(guān)SW3與被測校驗(yàn)裝置連接，所述的D觸發(fā)器U2與計(jì)數(shù)門U3連接，所述的計(jì)數(shù)門U3分 別與方波發(fā)生器、電子計(jì)數(shù)器連接。
[0007] 所述的測試高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路，所述的高壓開關(guān)測試儀校 驗(yàn)裝置控制電路包括方波發(fā)生器，所述的方波發(fā)生器采用l〇MH z有源溫度補(bǔ)償晶體振蕩器。
[0008] 所述的測試高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路，所述的電阻R1與所述的 反相器U1A之間安裝有開關(guān)BUT1，所述的電阻R3與所述的被測校驗(yàn)裝置之間安裝有開關(guān) BUT2,所述的R2與所述的被測校驗(yàn)裝置之間安裝有開關(guān)BUT3,所述的D觸發(fā)器與所述的被 測校驗(yàn)裝置之間安裝有開關(guān)BUT4。
[0009] 有益效果： 1.本發(fā)明的高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置控制電路為被測校驗(yàn)裝置提供通、斷電動(dòng)作信 號(hào)，電子計(jì)數(shù)器測量輸出的脈沖個(gè)數(shù)，將電子計(jì)數(shù)器測量到的脈沖個(gè)數(shù)換算成時(shí)間與被測 校驗(yàn)裝置所顯示的時(shí)間進(jìn)行對(duì)比，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的校驗(yàn)。
[0010] 2.本發(fā)明進(jìn)行校驗(yàn)裝置通電動(dòng)作校驗(yàn)時(shí)，將SW1置2, SW2置1，SW3置1，BUT3閉 合，BUTUBUT2處于開啟狀態(tài)，簡化電路見圖3 ; 在BUT1閉合前，U1B輸出低電平，被測校驗(yàn)裝置工作在"合閘時(shí)間參數(shù)校驗(yàn)?zāi)Ｊ?，端口 處于開啟狀態(tài)，U2的CLR引腳為高。BUT4作用為U2置零，使U2的Q輸出為低； 在BUT1閉合后，U1B輸出高電平，上升沿觸發(fā)U2，使U2的Q輸出高電平，同時(shí)觸發(fā)校 驗(yàn)裝置和計(jì)數(shù)門U3,使校驗(yàn)裝置開始計(jì)時(shí)、電子計(jì)數(shù)器測量輸出的脈沖個(gè)數(shù)。待定時(shí)時(shí)間 至IJ，校驗(yàn)裝置端口合閘，CLR引腳為低，Q輸出低電平，關(guān)閉計(jì)數(shù)門U3,把電子計(jì)數(shù)器的計(jì)時(shí) 與校驗(yàn)裝置定時(shí)時(shí)間比較，得到合閘時(shí)間校驗(yàn)誤差。
[0011] 3.本發(fā)明進(jìn)行校驗(yàn)裝置斷電動(dòng)作校驗(yàn)時(shí)，將SW1置1，SW2置2, SW3置2，BUT1、 BUT2閉合，BUT3處于開啟狀態(tài)，簡化電路見圖4 ; 在BUT1開啟前，U1A輸出低電平，被測校驗(yàn)裝置工作在"分閘時(shí)間參數(shù)校驗(yàn)?zāi)Ｊ?，端口 處于閉合狀態(tài)，U2的CLR引腳為低。BUT3作用為U2置零，使U2的Q輸出為低； 在BUT1開啟后，U1A輸出高電平，上升沿觸發(fā)U2,使U2的Q輸出高電平，觸發(fā)計(jì)數(shù)門 U3,使電子計(jì)數(shù)器測量輸出的脈沖個(gè)數(shù)；輸出低電平，觸發(fā)校驗(yàn)裝置，使校驗(yàn)裝置開始計(jì)時(shí)。 待定時(shí)時(shí)間到，校驗(yàn)裝置端口分閘，CLR引腳為低，Q輸出低電平，關(guān)閉計(jì)數(shù)門U3,把電子計(jì) 數(shù)器的計(jì)時(shí)與校驗(yàn)裝置定時(shí)時(shí)間比較，得到分閘時(shí)間校驗(yàn)誤差。
[0012] 4.本發(fā)明的方波發(fā)生器采用10MHZ有源溫度補(bǔ)償晶體振蕩器，可以確保高壓開關(guān) 測試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)校驗(yàn)的準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性。
[0013]

【專利附圖】

【附圖說明】： 附圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0014] 附圖2是本發(fā)明的控制電路原理圖。
[0015] 附圖3是本發(fā)明的合閘時(shí)間參數(shù)校驗(yàn)電路原理圖。
[0016] 附圖4是本發(fā)明的分閘時(shí)間參數(shù)校驗(yàn)電路原理圖。
[0017]

【具體實(shí)施方式】： 實(shí)施例1 : 一種測試高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路，其組成包括：高壓開關(guān)測試儀校 驗(yàn)裝置控制電路1，所述的高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置控制電路分別與電子計(jì)數(shù)器2、被測校 驗(yàn)裝置連接3。
[0018] 實(shí)施例2: 根據(jù)實(shí)施例1所述的測試高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路，所述的高壓開關(guān) 測試儀校驗(yàn)裝置控制電路包括電源輸入電路，所述的電源輸入電路與電阻R1、開關(guān)BUT1連 接，所述的開關(guān)BUT1與反相器U1A、電阻R2連接，所述的反相器ΠΑ與反相器U1B連接，所 述的電阻R1、所述的反相器U1B通過開關(guān)SW1、開關(guān)SW2與D觸發(fā)器U2連接，所述的D觸發(fā) 器U2通過開關(guān)SW3與被測校驗(yàn)裝置連接，所述的D觸發(fā)器U2與計(jì)數(shù)門U3連接，所述的計(jì) 數(shù)門U3分別與方波發(fā)生器、電子計(jì)數(shù)器連接。
[0019] 實(shí)施例3: 根據(jù)實(shí)施例1或2所述的測試高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路，所述的高壓 開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置控制電路包括方波發(fā)生器，所述的方波發(fā)生器采用l〇MHz有源溫度補(bǔ) 償晶體振蕩器。
[0020] 實(shí)施例4 : 根據(jù)實(shí)施例1或2所述的測試高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路，所述的電阻 R1與所述的反相器U1A之間安裝有開關(guān)BUT1，所述的電阻R3與所述的被測校驗(yàn)裝置之間 安裝有開關(guān)BUT2,所述的R2與所述的被測校驗(yàn)裝置之間安裝有開關(guān)BUT3,所述的D觸發(fā)器 與所述的被測校驗(yàn)裝置之間安裝有開關(guān)BUT4。
【權(quán)利要求】
1. 一種測試高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路，其組成包括：高壓開關(guān)測試儀 校驗(yàn)裝置控制電路，其特征是：所述的高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置控制電路分別與電子計(jì)數(shù) 器、被測校驗(yàn)裝置連接。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路，其特征是： 所述的高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置控制電路包括電源輸入電路，所述的電源輸入電路與電阻 R1、開關(guān)BUT1連接，所述的開關(guān)BUT1與反相器U1A、電阻R2連接，所述的反相器ΠΑ與反 相器U1B連接，所述的電阻R1、所述的反相器U1B通過開關(guān)SW1、開關(guān)SW2與D觸發(fā)器U2連 接，所述的D觸發(fā)器U2通過開關(guān)SW3與被測校驗(yàn)裝置連接，所述的D觸發(fā)器U2與計(jì)數(shù)門U3 連接，所述的計(jì)數(shù)門U3分別與方波發(fā)生器、電子計(jì)數(shù)器連接。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的測試高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路，其特 征是：所述的高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置控制電路包括方波發(fā)生器，所述的方波發(fā)生器采用 l〇MHz有源溫度補(bǔ)償晶體振蕩器。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的測試高壓開關(guān)測試儀校驗(yàn)裝置時(shí)間參數(shù)的電路，所 述的電阻R1與所述的反相器U1A之間安裝有開關(guān)BUT1，所述的電阻R3與所述的被測校驗(yàn) 裝置之間安裝有開關(guān)BUT2，所述的R2與所述的被測校驗(yàn)裝置之間安裝有開關(guān)BUT3，所述的 D觸發(fā)器與所述的被測校驗(yàn)裝置之間安裝有開關(guān)BUT4。
【文檔編號(hào)】G01R35/00GK104122523SQ201410369229
【公開日】2014年10月29日 申請(qǐng)日期:2014年7月30日 優(yōu)先權(quán)日:2014年7月30日
【發(fā)明者】陳滿生, 高瑞嵩 申請(qǐng)人:哈爾濱朗昇電氣股份有限公司