一種用于電噴霧萃取電離源的可調(diào)裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開一種用于電噴霧萃取電離源的可調(diào)裝置,主要包括通用接口器、底座、Y向調(diào)節(jié)裝置、電噴霧通道噴頭參數(shù)調(diào)節(jié)裝置、樣品通道噴頭參數(shù)調(diào)節(jié)裝置,其中,Y向調(diào)節(jié)裝置可調(diào)節(jié)電噴霧通道噴頭與樣品通道噴頭的高度,樣品通道噴頭參數(shù)調(diào)節(jié)裝置與電噴霧通道噴頭參數(shù)調(diào)節(jié)裝置可調(diào)節(jié)樣品通道噴頭與質(zhì)譜儀進樣口的角度α、樣品通道噴頭與質(zhì)譜儀進樣口的距離a、電噴霧通道噴頭與樣品通道噴頭間的角度β、電噴霧通道噴頭與樣品通道噴頭間的距離b。該裝置適用于研究液體、氣溶膠、固體表面、黏性樣品等不同形態(tài)樣品的質(zhì)譜分析技術(shù)中特定參數(shù)與信號強度的關(guān)系,特別適用于實時在線連續(xù)監(jiān)測液體樣品。
【專利說明】—種用于電噴霧萃取電離源的可調(diào)裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種電噴霧萃取電離源裝置,特別是一種用于電噴霧萃取電離源的可調(diào)裝置,利用此裝置可研究電噴霧萃取電離源質(zhì)譜分析技術(shù)中特定參數(shù)與信號強度的關(guān)系O
【背景技術(shù)】
[0002]電噴霧萃取電離質(zhì)譜分析技術(shù)(ExtractiveElectroSpray 1nization-MassSpectrometry, EES1-MS)是在電噴霧電離(ESI)與電噴霧解吸電離(DESI)基礎(chǔ)上發(fā)展出來的一種現(xiàn)代電離質(zhì)譜技術(shù),由于無需對樣品作復(fù)雜預(yù)處理即可獲得待測物的相對分子質(zhì)量和結(jié)構(gòu)信息,近年來成為研究熱點,現(xiàn)已廣泛用于液體、氣溶膠、固體表面、黏性樣品等不同形態(tài)樣品的分析,特別適用于實時在線連續(xù)監(jiān)測液體樣品。
[0003]電噴霧萃取電離源(EESI)是EES1-MS的核心,主要由電噴霧通道噴頭和樣品引入通道噴頭構(gòu)成。電噴霧通道噴頭噴出的初級帶電試劑(如甲醇、水等)液滴與樣品引入通道噴頭噴出的樣品液滴在離子源空間中發(fā)生碰撞,發(fā)生液-液萃取和電荷轉(zhuǎn)移作用,完成去溶劑過程,從而形成待測物的離子,供后續(xù)質(zhì)譜檢測。實驗中,可根據(jù)樣品的形態(tài)和待測物的性質(zhì)等對EESI的各參數(shù)進行調(diào)整,以達到最好的檢測效果。
[0004]研究表明,樣品通道噴頭與質(zhì)譜儀進樣口的角度α、樣品通道噴頭與質(zhì)譜儀進樣口的距離a、電噴霧通道噴頭與樣品通道噴頭間的角度β、電噴霧通道噴頭與樣品通道噴頭間的距離b四個參數(shù)(如圖1所示)對質(zhì)譜分析信號強度有顯著的影響。然而,目前現(xiàn)有裝置一般用于非EESI的質(zhì)譜分析技術(shù),結(jié)構(gòu)復(fù)雜,無法改裝,而且價格昂貴;而實驗室里所用的裝置一般由支撐棒、萬向桿架、不銹鋼三通管接頭拼裝的噴頭等簡單耦合而成,無法精確定量描述樣品通道與質(zhì)譜儀進樣口的角度α、樣品通道與質(zhì)譜儀進樣口的距離a、電噴霧通道與樣品通道間的角度β、電噴霧通道與樣品通道間的距離b,而且結(jié)構(gòu)受到限制,穩(wěn)定性不高,綜合性能不好,嚴(yán)重限制了 EES1-MS技術(shù)的發(fā)展。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0005]為了克服現(xiàn)有離子源裝置不適用EES1-MS技術(shù)、結(jié)構(gòu)復(fù)雜、價格昂貴,以及實驗室拼裝EESI源穩(wěn)定性差、無法精確定量描述特定參數(shù)等不足,本發(fā)明特提供一種用于電噴霧萃取電離源的可調(diào)裝置,該裝置可精確定量調(diào)節(jié)樣品通道噴頭與質(zhì)譜儀進樣口的角度α、樣品通道噴頭與質(zhì)譜儀進樣口的距離a、電噴霧通道噴頭與樣品通道噴頭間的角度β、電噴霧通道噴頭與樣品通道噴頭間的距離b,適用于研究這些參數(shù)與信號強度的關(guān)系,而且使用方便,穩(wěn)定性高,綜合性能好,成本低廉。
[0006]本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:一種用于電噴霧萃取電離源的可調(diào)裝置,包括與質(zhì)譜儀進樣口連接的通用接口器,在所述通用接口器的底部通過一底座安裝一Y向調(diào)整板,所述Y向調(diào)整板上分左、右側(cè)分別安裝有電噴霧通道噴頭參數(shù)調(diào)節(jié)裝置和樣品通道噴頭參數(shù)調(diào)節(jié)裝置,其特征是:[0007]所述Y向調(diào)整板通過Y向滑槽滑設(shè)在所述底座上,并通過在Y向調(diào)整板底部設(shè)置的Y向調(diào)整螺釘調(diào)整高度,在Y向調(diào)整板的前部設(shè)置有橫向鎖緊螺釘;
[0008]所述電噴霧通道噴頭參數(shù)調(diào)節(jié)裝置和樣品通道噴頭參數(shù)調(diào)節(jié)裝置結(jié)構(gòu)相同,均包括一 Z向補償滑塊,滑動設(shè)置在Y向調(diào)整板上的Z向滑動槽內(nèi);Z向補償滑塊上設(shè)置一 Z向精調(diào)模塊,所述Z向精調(diào)模塊包括一固定底板,固定在Z向補償滑塊上,固定底板上滑動設(shè)置一 Z向移動部件,由微分頭調(diào)節(jié)位移;所述Z向移動部件的頂部設(shè)置一 X向精調(diào)模塊,所述X向精調(diào)模塊也包括一固定底板,固定在Z向移動部件上,固定底板上滑動設(shè)置一 X向移動部件,由微分頭調(diào)節(jié)位移;在所述X向移動部件的頂部固定一旋轉(zhuǎn)連接板,在旋轉(zhuǎn)連接板的前部上端設(shè)置一 B軸精調(diào)模塊,所述B軸精調(diào)模塊包括一旋轉(zhuǎn)部件,由旋轉(zhuǎn)微分頭控制在水平方向上旋轉(zhuǎn),所述旋轉(zhuǎn)部件上帶有噴頭卡座;左、右兩所述噴頭卡座上分別安裝電噴霧通道噴頭和樣品通道噴頭;
[0009]所述X向是指水平左右移動方向,Y向是指豎直上下移動方向,Z向指沿質(zhì)譜儀進樣口軸線移動方向,所述B軸是指旋轉(zhuǎn)中心軸線沿Y方向,即與所述X向、Z向軸線構(gòu)成的平面垂直的旋轉(zhuǎn)部件的中心軸。
[0010]進一步講,通用接口器為一外方內(nèi)圓形接口器,在邊位通過定位銷和鎖緊機構(gòu)固定到質(zhì)譜儀進樣口上;在中間具有與質(zhì)譜儀進樣口相通的通道;在底部具有連接槽,連接所述底座。
[0011]進一步講,在所述Y向調(diào)整板的底部左、右兩側(cè)各設(shè)置一個Y向調(diào)整螺釘;在所述Y向調(diào)整板的前部左、右兩側(cè)各設(shè)置一個橫向鎖緊螺釘。
[0012]進一步講,所述左側(cè)Z向補償滑塊、右側(cè)Z向補償滑塊分別在所述Y向調(diào)整板的左側(cè)上部、右側(cè)上部滑動設(shè)置,補償因所述電噴霧通道噴頭、所述樣品通道噴頭旋轉(zhuǎn)造成的Z向位移。
[0013]進一步講,所述電噴霧通道噴頭和樣品通道噴頭結(jié)構(gòu)一樣,均包括一噴頭基體,在基體上開設(shè)有一貫穿基體中心的貫通小孔,在所述基體的尾部,設(shè)置有與所述貫通小孔相通且同走向的串聯(lián)錐度孔&螺紋孔,在所述錐度孔中設(shè)置有錐形卡套,在所述螺紋孔中旋設(shè)毛細管螺頭;一毛細管,從所述毛細管螺頭的中心孔、卡套的錐心孔,以及貫通小孔中穿過,首尾均露出一定長度;在所述基體的尾部,與所述貫通小孔傾斜一定角度的方向上,設(shè)置有一與所述貫通小孔相通的斜側(cè)位通孔,所述斜側(cè)位通孔也為串聯(lián)的錐度孔&螺紋孔,一帶有錐度的進氣管螺頭旋設(shè)在其中,一進氣管,從所述進氣管螺頭的中心孔引入并通向所述貫通小孔;在所述基體的尾部,與所述貫通小孔、斜側(cè)位通孔中心線所在平面垂直的方向上,設(shè)置有一水平螺紋孔,所述水平螺紋孔與所述貫通小孔不相通,在所述水平螺紋孔中旋設(shè)一高壓螺頭,一尾端焊接有高壓導(dǎo)線的高壓導(dǎo)頭被所述高壓螺頭壓設(shè)在水平螺紋孔中,所述高壓導(dǎo)線從所述高壓螺頭的中心孔中伸出進行加高壓。
[0014]本發(fā)明的有益效果是:(1)該裝置總體上來講,設(shè)置了 X、Y、Z三方向的調(diào)節(jié)機構(gòu),特別是Z方向上還設(shè)置了粗調(diào)和精調(diào)兩組機構(gòu),這樣,可手動精確調(diào)節(jié)樣品通道噴頭與質(zhì)譜儀進樣口的角度α、樣品通道噴頭與質(zhì)譜儀進樣口的距離a、電噴霧通道噴頭與樣品通道噴頭間的角度β、電噴霧通道噴頭與樣品通道噴頭間的距離b,進而分析此四個參數(shù)對質(zhì)譜分析信號強度的影響。(2)該裝置在Y向手動可調(diào),使電噴霧通道噴頭軸線、樣品通道噴頭軸線、質(zhì)譜儀進樣口軸線處于同一平面內(nèi),同時也消除了因制造誤差與零件串聯(lián)誤差造成的累積誤差,提高了電噴霧液滴與樣品液滴間的碰撞概率,獲得了較好的分析靈敏度。
(3)該裝置的電噴霧通道噴頭與樣品通道噴頭具有通用性,可以互相轉(zhuǎn)換使用,使用方便,降低了成本。(4)該裝置中,電噴霧通道噴頭與樣品通道噴頭左、右布置,位于質(zhì)譜儀進樣口的前下方,視野開闊,便于觀察與控制試驗過程。(5)該裝置使用一個Z向滑塊補償電噴霧通道噴頭與樣品通道噴頭由于變化角度造成的Y向位移,簡化了結(jié)構(gòu),降低了成本。(6)X向精調(diào)模塊與B軸精調(diào)模塊之間有一旋轉(zhuǎn)連接板,使噴頭產(chǎn)生了前伸的效果,避免了調(diào)節(jié)噴頭時可能產(chǎn)生的干涉。(7)由于主要構(gòu)件結(jié)構(gòu)不復(fù)雜,生產(chǎn)工藝難度不大,因而成本較低。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0015]圖1是電噴霧萃取電離裝置中,樣品通道噴頭、電噴霧通道噴頭與質(zhì)譜儀進樣口之間的位置關(guān)系圖。
[0016]圖2是本發(fā)明的總體結(jié)構(gòu)軸測圖。
[0017]圖3是本發(fā)明的正視圖。
[0018]圖4是本發(fā)明的俯視圖。
[0019]圖5是本發(fā)明的左視圖。
[0020]圖6-1是左側(cè)Z向精調(diào)模塊的俯視視角的總體結(jié)構(gòu)軸測圖。
[0021 ] 圖6-2是左側(cè)Z向精調(diào)模塊的仰視視角的總體結(jié)構(gòu)軸測圖。
[0022]圖7-1是左側(cè)X向精調(diào)模塊的俯視視角的總體結(jié)構(gòu)軸測圖。
[0023]圖7-2是左側(cè)X向精調(diào)模塊的仰視視角的總體結(jié)構(gòu)軸測圖。
[0024]圖8-1是左側(cè)B軸精調(diào)模塊的俯視視角的總體結(jié)構(gòu)軸測圖。
[0025]圖8-2是左側(cè)B軸精調(diào)模塊的仰視視角的總體結(jié)構(gòu)軸測圖。
[0026]圖9-1是通用離子源噴頭的結(jié)構(gòu)剖視圖一。
[0027]圖9-2是通用離子源噴頭的結(jié)構(gòu)剖視圖二。
[0028]圖10-1是本發(fā)明Y向調(diào)整部分的軸測結(jié)構(gòu)圖。
[0029]圖10-2是本發(fā)明Y向調(diào)整部分的帶有局部剖視的俯視結(jié)構(gòu)圖。
[0030]圖10-3是圖10-2的A-A向剖視圖。
[0031]圖10-4是圖10-2的B-B向剖視圖。
[0032]圖中,I一左側(cè)Z向補償滑塊,2—左側(cè)Z向精調(diào)模塊,3—左側(cè)X向精調(diào)模塊,4一左側(cè)旋轉(zhuǎn)連接板,5—左側(cè)B軸精調(diào)模塊,6—電噴霧通道噴頭卡座,7—電噴霧通道噴頭,8—通用接口器,9一質(zhì)譜儀進樣口,10—樣品通道噴頭,11 一樣品通道噴頭卡座,12—右側(cè)B軸精調(diào)模塊,13一右側(cè)旋轉(zhuǎn)連接板,14一右側(cè)X向精調(diào)模塊,15一右側(cè)Z向精調(diào)模塊,16一右側(cè)Z向補償滑塊,17—右側(cè)鎖緊螺釘,18—右側(cè)Y向調(diào)整螺釘,19一底座,20—Y向調(diào)整板,21—左側(cè)Y向調(diào)整螺釘,22—左側(cè)鎖緊螺釘,26—左側(cè)Z向精調(diào)模塊的固定底板,27—左側(cè)Z向精調(diào)模塊的移動部件,28—左側(cè)Z向精調(diào)模塊的微分頭,29—左側(cè)Z向精調(diào)模塊的鋼絲球?qū)к墸?1—左側(cè)X向精調(diào)模塊的固定底板,32—左側(cè)X向精調(diào)模塊的移動部件,33—左側(cè)X向精調(diào)模塊的微分頭,34—左側(cè)X向精調(diào)模塊的鋼絲球?qū)к墸?1—左側(cè)B軸精調(diào)模塊的固定底板,52—左側(cè)B軸精調(diào)模塊的移動部件,53—左側(cè)B軸精調(diào)模塊的微分頭,71—基體,72—貫通小孔,73 —串聯(lián)的錐度孔&螺紋孔,74—錐形卡套,75—毛細管螺頭,76—毛細管,77—斜側(cè)位通孔,78—進氣管螺頭,79—進氣管,80—高壓螺頭,81—高壓導(dǎo)線,82—高壓導(dǎo)頭?!揪唧w實施方式】
[0033]下面結(jié)合【專利附圖】
【附圖說明】本發(fā)明的【具體實施方式】,圖中相同的結(jié)構(gòu)和功能的器件已用相同的附圖標(biāo)記標(biāo)出,附圖只是用于幫助解釋本發(fā)明,并不代表本發(fā)明范圍的限制,同時,附圖并未按比例畫出。
[0034]如圖2、3所示,本裝置是通過通用接口器8連接在質(zhì)譜儀進樣口 9上的,使裝置主體位于質(zhì)譜儀進樣口的前下方。通用接口器8為一外方內(nèi)圓形接口器,在邊位通過定位銷和鎖緊機構(gòu)固定到質(zhì)譜儀進樣口 9上;中間具有與質(zhì)譜儀進樣口 9相通的通道;在底部則具有連接槽,連接底座19,底座上用于安裝本裝置。
[0035]如圖2、5、10-1、10-2、10-3、10-4所示,底座19,后端安裝在通用接口器8的底部連接槽內(nèi)并通過螺釘固定;底座前端具有一凸臺,Y向調(diào)整板20則使用間隙配合滑動設(shè)置在底座19的前端凸臺的滑槽中。本發(fā)明以標(biāo)準(zhǔn)三軸坐標(biāo)系定義X、Y、Z三方向,X方向指水平左右移動方向,Y方向指豎直上下移動方向,Z方向指沿質(zhì)譜儀進樣口軸線移動方向。在Y向調(diào)整板20的底部左、右兩側(cè)各設(shè)置一個左側(cè)Y向調(diào)整螺釘21和一個右側(cè)Y向調(diào)整螺釘18,兩個Y向調(diào)整螺釘從底部向上托起Y向調(diào)整板20,并通過螺釘?shù)男M旋出來調(diào)節(jié)Y向調(diào)整板20的高度,使其沿底座19的前端凸臺上下滑動。Y向調(diào)整板20高度定位后,通過在Y向調(diào)整板20的前端設(shè)置的左側(cè)鎖緊螺釘22和右側(cè)鎖緊螺釘17將Y向調(diào)整板20鎖緊到底座19上。
[0036]通過調(diào)整Y向調(diào)整板20的高度,以確保其上安裝的電噴霧通道噴頭7軸線、樣品通道噴頭10軸線和質(zhì)譜儀進樣口 9軸線于同一水平平面內(nèi)相交,以提高電噴霧液滴與樣品液滴間的碰撞概率,獲得較好的分析靈敏度。調(diào)整結(jié)束后,旋轉(zhuǎn)左側(cè)鎖緊螺釘22與右側(cè)鎖緊螺釘17將Y向調(diào)整板20鎖緊,從而使其上的各組件可以穩(wěn)定工作。
[0037]在Y向調(diào)整板20上,分左、右兩側(cè)設(shè)置有兩組調(diào)整結(jié)構(gòu),分別為電噴霧通道噴頭參數(shù)調(diào)節(jié)裝置和樣品通道噴頭參數(shù)調(diào)節(jié)裝置,這兩組調(diào)節(jié)裝置結(jié)構(gòu)相同。下面以其中左側(cè)一組為例詳細予以介紹,右側(cè)結(jié)構(gòu)與之相同則做簡略介紹。
[0038]如圖3、4所示,在Y向調(diào)整板20的左側(cè)上部,設(shè)置一 Z向滑動槽,左側(cè)Z向補償滑塊I滑動設(shè)置在Z向滑動槽內(nèi),通過手搖可以粗調(diào)其與質(zhì)譜儀進樣口 9的Z向距離,還可以補償電噴霧通道噴頭7旋轉(zhuǎn)時產(chǎn)生的Z向距離。調(diào)整完畢后,可使用螺釘將左側(cè)Z向補償滑塊I固定在Y向調(diào)整板20上。
[0039]在左側(cè)Z向補償滑塊I之上,安裝一組左側(cè)Z向精調(diào)模塊2,用于精調(diào)左側(cè)Z向精調(diào)模塊2與質(zhì)譜儀進樣口 9的Z向距離。左側(cè)Z向精調(diào)模塊2可采用卓立漢光公司的PSM25A-45SL成型產(chǎn)品,如圖6_1、6_2所示。具體安裝方式為:左側(cè)Z向精調(diào)模塊2包括一固定底板26、移動部件27和微分頭28,固定底板26通過螺釘固定在左側(cè)Z向補償滑塊I上,移動部件27通過鋼絲球?qū)к?9滑動設(shè)置在固定底板26上,微分頭28安裝在左側(cè)Z向精調(diào)模塊2的移動部件的一側(cè),用于精調(diào)移動部件的位移。
[0040]一組左側(cè)X向精調(diào)模塊3,設(shè)置在左側(cè)Z向精調(diào)模塊2之上,用于調(diào)整左側(cè)X向精調(diào)模塊3與質(zhì)譜儀進樣口 9的X向距離。左側(cè)X向精調(diào)模塊3可采用卓立漢光公司的PSM25A-45SR成型產(chǎn)品,如圖7_1、7_2所示。左側(cè)X向精調(diào)模塊3也包括一固定底板31、移動部件32和微分頭33,安裝方式與左側(cè)Z向精調(diào)模塊2 —樣,即:左側(cè)X向精調(diào)模塊3的固定底板31通過螺釘固定在左側(cè)Z向精調(diào)模塊2的移動部件27上,左側(cè)X向精調(diào)模塊3的移動部件32通過鋼絲球?qū)к?4滑動設(shè)置在左側(cè)X向精調(diào)模塊3的固定底板31上,并通過微分頭33精確調(diào)整X向位移。
[0041]上述的左側(cè)Z向精調(diào)模塊2和左側(cè)X向精調(diào)模塊3的移動部件,實質(zhì)是兩組相互垂直的鋼絲球?qū)к壐?,一個調(diào)整Z方向,一個調(diào)整X方向,旋轉(zhuǎn)微分頭即可實現(xiàn)精密直線位移調(diào)節(jié),調(diào)整后擰緊一側(cè)的螺母鎖緊即可。
[0042]在左側(cè)X向精調(diào)模塊3的移動部件32上,通過螺釘固定有一左側(cè)旋轉(zhuǎn)連接板4,在左側(cè)旋轉(zhuǎn)連接板4的前部上端設(shè)置有一組左側(cè)B軸精調(diào)模塊5。旋轉(zhuǎn)連接板既有連接X向精調(diào)模塊與B軸精調(diào)模塊的作用,也有通過合理控制自身長度以調(diào)節(jié)電噴霧通道噴頭或樣品通道噴頭的外伸長度的作用,使整個調(diào)節(jié)裝置有足夠的空間,防止干涉。
[0043]左側(cè)B軸精調(diào)模塊5則可采用北光世紀(jì)公司的PRS201M成型產(chǎn)品,如圖8_1、8_2所示。左側(cè)B軸精調(diào)模塊5包括一固定底板51、旋轉(zhuǎn)部件52和微分頭53,固定底板51通過螺釘固定在旋轉(zhuǎn)連接板4上,旋轉(zhuǎn)部件52旋轉(zhuǎn)設(shè)置在固定底板51上,微分頭53安裝在固定底板51的一側(cè)用于精調(diào)旋轉(zhuǎn)部件52的角度。電噴霧通道噴頭卡座6安裝在旋轉(zhuǎn)部件52上,電噴霧通道噴頭7安裝在電噴霧通道噴頭卡座6的上部孔內(nèi),通過電噴霧通道噴頭卡座6上端的螺釘鎖緊電噴霧通道噴頭7。因此,改變旋轉(zhuǎn)部件52角度,就調(diào)節(jié)了電噴霧通道噴頭7與質(zhì)譜儀進樣口 9的角度。所謂B軸是指旋轉(zhuǎn)中心軸線沿Y方向,本例中,該中心軸線就是旋轉(zhuǎn)部件52的中心線。
[0044]前面已提及,在Y向調(diào)整板20上,右側(cè)一組調(diào)整結(jié)構(gòu)與左側(cè)一組調(diào)整結(jié)構(gòu)相同。右側(cè)Z向補償滑塊16在Y向調(diào)整板20的右側(cè)上部槽內(nèi)滑動,調(diào)整其與質(zhì)譜儀進樣口 9的Z向距離,還可以補償樣品通道噴頭10旋轉(zhuǎn)時產(chǎn)生的Z向距離。右側(cè)Z向精調(diào)模塊15設(shè)置在右側(cè)Z向補償滑塊16上,精確調(diào)整右側(cè)Z向精調(diào)模塊15與質(zhì)譜儀進樣口 9的Z向距離。右側(cè)X向精調(diào)模塊14設(shè)置在右側(cè)Z向精調(diào)模塊15的移動部件上,可精確調(diào)整右側(cè)X向精調(diào)模塊14與質(zhì)譜儀進樣口 9的X向距離。右側(cè)旋轉(zhuǎn)連接板13固定在右側(cè)X向精調(diào)模塊14的移動部件上,其上安裝右側(cè)B軸精調(diào)模塊12。
[0045]所不同的是,在右側(cè)B軸精調(diào)模塊12的旋轉(zhuǎn)部件上,安裝的是樣品通道噴頭卡座11,卡座上安裝的是樣品通道噴頭10。但是如果電噴霧通道噴頭7與樣品通道噴頭10結(jié)構(gòu)一樣,也就不存在差別了。其它具體結(jié)構(gòu)與左側(cè)一組調(diào)整結(jié)構(gòu)相同,在此不作贅述。
[0046]本發(fā)明也提供一種通用的電噴霧通道噴頭和樣品通道噴頭。如圖9-1、9_2所示,它包括一噴頭基體71,在基體71上開設(shè)有一貫穿基體中心的貫通小孔72,在基體的尾部,設(shè)置有與貫通小孔72相通且同走向的串聯(lián)錐度孔&螺紋孔(錐度孔和螺紋孔,意為一段為錐度孔一段為螺紋孔)73,在其錐度孔中設(shè)置有錐形卡套74,螺紋孔中設(shè)置毛細管螺頭75,卡套被毛細管螺頭壓緊;毛細管76從毛細管螺頭的中心孔、卡套的錐心孔,以及貫通小孔中穿過,首尾均露出一定長度。
[0047]同樣在基體的尾部,與貫通小孔72傾斜一定角度的方向上,設(shè)置有一與貫通小孔72相通的斜側(cè)位通孔77,斜側(cè)位通孔77也為串聯(lián)的錐度孔&螺紋孔(錐度孔和螺紋孔,意為一段為錐度孔一段為螺紋孔),一帶有錐度的進氣管螺頭78旋設(shè)在其中,進氣管79,從進氣管螺頭的中心孔引入并通向貫通小孔72。
[0048]同樣在基體的尾部,與貫通小孔72、斜側(cè)位通孔77中心線所在平面垂直的方向上,設(shè)置有一水平螺紋孔,水平螺紋孔與貫通小孔不相通,在水平螺紋孔中旋設(shè)一高壓螺頭80。一尾端焊接有高壓導(dǎo)線81的高壓導(dǎo)頭82被高壓螺頭80壓設(shè)在水平螺紋孔中,高壓導(dǎo)線81從所述高壓螺頭的中心孔中伸出進行加高壓。
[0049]這種通用型離子源噴頭既可以用作電噴霧通道的噴頭,也可以用作樣品通道的噴頭。當(dāng)毛細管中通入萃取溶劑,進氣管中通入高壓氮氣,高壓導(dǎo)線連接高壓時,則在基體的前端形成電噴霧,此時該離子源噴頭作為電噴霧通道噴頭使用。當(dāng)毛細管中通入樣品溶液,進氣管中通入高壓氮氣,高壓導(dǎo)線懸空時,則在基體的前端形成樣品噴霧,此時作為樣品通道噴頭使用。
[0050]可以看出,左側(cè)Z向精調(diào)模塊2、左側(cè)X向精調(diào)模塊3、左側(cè)B軸精調(diào)模塊5負責(zé)調(diào)節(jié)電噴霧通道噴頭7與樣品通道噴頭10間的角度β、電噴霧通道噴頭7與質(zhì)譜儀進樣口 9間的距離a、電噴霧通道噴頭7與樣品通道噴頭10間的距離b ;右側(cè)Z向精調(diào)模塊15、右側(cè)X向精調(diào)模塊14、右側(cè)B軸精調(diào)模塊12負責(zé)調(diào)節(jié)樣品通道噴頭10與質(zhì)譜儀進樣口 9間的角度α、電噴霧通道噴頭7與樣品通道噴頭10間的角度β、樣品通道噴頭10與質(zhì)譜儀進樣口 9間的距離a、電噴霧通道噴頭7與樣品通道噴頭10間的距離b。因此,電噴霧通道噴頭7與樣品通道噴頭10的參數(shù)調(diào)節(jié)互相獨立,靈活方便。
[0051]利用本裝置進行實驗時,采取的操作步驟是:
[0052](I)組裝該調(diào)節(jié)裝置,通過通用接口器將該裝置安裝到質(zhì)譜儀進樣口上并鎖緊;
[0053](2)旋轉(zhuǎn)左側(cè)Y向調(diào)整螺釘與右側(cè)Y向調(diào)整螺釘,使電噴霧通道噴頭軸線、樣品通道噴頭軸線、質(zhì)譜儀進樣口軸線處于同一平面內(nèi),旋轉(zhuǎn)左側(cè)鎖緊螺釘與右側(cè)鎖緊螺釘使Y向調(diào)整板固定;
[0054](3)將電噴霧通道噴頭的通氣管接通氣體(如IMPa的氮氣)、進液管接通萃取溶液(如甲醇、水等)、高壓端接通高壓(如+4KV);
[0055](4)將樣品通道噴頭的通氣管接通氣體(如IMPa的氮氣)、進液管接通待測物的樣品溶劑;
[0056](5)開啟質(zhì)譜儀掃描系統(tǒng),獲取初步的檢測結(jié)果;
[0057](6)在研究樣品通道噴頭與質(zhì)譜儀進樣口的角度α、樣品通道噴頭與質(zhì)譜儀進樣口的距離a、電噴霧通道噴頭與樣品通道噴頭間的角度β、電噴霧通道噴頭與樣品通道噴頭間的距離b四個參數(shù)對質(zhì)譜分析信號強度的影響時,首先調(diào)節(jié)左側(cè)Z向補償滑塊、右側(cè)Z向補償滑塊到合適的位置并固定,然后分別調(diào)節(jié)右側(cè)Z向精調(diào)模塊、右側(cè)X向精調(diào)模塊、右側(cè)B軸精調(diào)模塊以及左側(cè)Z向精調(diào)模塊、左側(cè)X向精調(diào)模塊、左側(cè)B軸精調(diào)模塊,將四個參數(shù)中的三個參數(shù)設(shè)置為不變,調(diào)節(jié)一個參數(shù)研究其對信號強度的影響。例如,右側(cè)X向精調(diào)模塊、右側(cè)B軸精調(diào)模塊以及左側(cè)X向精調(diào)模塊、左側(cè)B軸精調(diào)模塊不變,調(diào)節(jié)左側(cè)Z向精調(diào)模塊、右側(cè)Z向精調(diào)模塊即可研究電噴霧通道噴頭與樣品通道噴頭和質(zhì)譜儀進樣口的間距a對信號強度的影響。研究另外三個參數(shù)時,同理。
[0058]做優(yōu)化配置時,根據(jù)信號強度的顯示結(jié)果,分別調(diào)節(jié)右側(cè)Z向精調(diào)模塊、右側(cè)X向精調(diào)模塊、右側(cè)B軸精調(diào)模塊以及左側(cè)Z向精調(diào)模塊、左側(cè)X向精調(diào)模塊、左側(cè)B軸精調(diào)模塊,以獲得合適的樣品通道噴頭與質(zhì)譜儀進樣口的角度α、樣品通道噴頭與質(zhì)譜儀進樣口的距離a、電噴霧通道噴頭與樣品通道噴頭間的角度β、電噴霧通道噴頭與樣品通道噴頭間的距離b,直到信號強度達到最佳。[0059]值得說明的是,上述實施例僅用于說明本發(fā)明,其中各部件的結(jié)構(gòu)、連接方式都是可以有所變化的,凡是在本發(fā)明技術(shù)方案的基礎(chǔ)上進行的等同變換和改進,均不應(yīng)排除在本發(fā)明的保護范圍之外。
【權(quán)利要求】
1.一種用于電噴霧萃取電離源的可調(diào)裝置,包括與質(zhì)譜儀進樣口連接的通用接口器,在所述通用接口器的底部通過一底座安裝一 Y向調(diào)整板,所述Y向調(diào)整板上分左、右側(cè)分別安裝有電噴霧通道噴頭參數(shù)調(diào)節(jié)裝置和樣品通道噴頭參數(shù)調(diào)節(jié)裝置,其特征是: 所述Y向調(diào)整板通過Y向滑槽滑設(shè)在所述底座上,并通過在Y向調(diào)整板底部設(shè)置的Y向調(diào)整螺釘調(diào)整高度,在Y向調(diào)整板的前部設(shè)置有橫向鎖緊螺釘; 所述電噴霧通道噴頭參數(shù)調(diào)節(jié)裝置和樣品通道噴頭參數(shù)調(diào)節(jié)裝置結(jié)構(gòu)相同,均包括一Z向補償滑塊,滑動設(shè)置在Y向調(diào)整板上的Z向滑動槽內(nèi);Z向補償滑塊上設(shè)置一 Z向精調(diào)模塊,所述Z向精調(diào)模塊包括一固定底板,固定在Z向補償滑塊上,固定底板上滑動設(shè)置一Z向移動部件,由微分頭調(diào)節(jié)位移;所述Z向移動部件的頂部設(shè)置一 X向精調(diào)模塊,所述X向精調(diào)模塊也包括一固定底板,固定在Z向移動部件上,固定底板上滑動設(shè)置一 X向移動部件,由微分頭調(diào)節(jié)位移;在所述X向移動部件的頂部固定一旋轉(zhuǎn)連接板,在旋轉(zhuǎn)連接板的前部上端設(shè)置一 B軸精調(diào)模塊,所述B軸精調(diào)模塊包括一旋轉(zhuǎn)部件,由旋轉(zhuǎn)微分頭控制在水平方向上旋轉(zhuǎn),所述旋轉(zhuǎn)部件上帶有噴頭卡座;左、右兩所述噴頭卡座上分別安裝電噴霧通道噴頭和樣品通道噴頭; 所述X向是指水平左右移動方向,Y向是指豎直上下移動方向,Z向指沿質(zhì)譜儀進樣口軸線移動方向,所述B軸是指旋轉(zhuǎn)中心軸線沿Y方向,即與所述X向、Z向軸線構(gòu)成的平面垂直的旋轉(zhuǎn)部件的中心軸。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于電噴霧萃取電離源的可調(diào)裝置,其特征是:所述通用接口器為一外方內(nèi)圓形接口器,在邊位通過定位銷和鎖緊機構(gòu)固定到質(zhì)譜儀進樣口上;在中間具有與質(zhì)譜儀進樣口相通的通道;在底部具有連接槽,連接所述底座。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的用于電噴霧萃取電離源的可調(diào)裝置,其特征是:在所述Y向調(diào)整板的底部左、右兩側(cè)各設(shè)置一個Y向調(diào)整螺釘;在所述Y向調(diào)整板的前部左、右兩側(cè)各設(shè)置一個橫向鎖緊螺釘。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的用于電噴霧萃取電離源的可調(diào)裝置,其特征是:所述左側(cè)Z向補償滑塊、右側(cè)Z向補償滑塊分別在所述Y向調(diào)整板的左側(cè)上部、右側(cè)上部滑動設(shè)置,補償因所述電噴霧通道噴頭、所述樣品通道噴頭旋轉(zhuǎn)造成的Z向位移。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3或4所述的用于電噴霧萃取電離源的可調(diào)裝置,其特征是:所述電噴霧通道噴頭和樣品通道噴頭結(jié)構(gòu)一樣,均包括一噴頭基體,在基體上開設(shè)有一貫穿基體中心的貫通小孔,在所述基體的尾部,設(shè)置有與所述貫通小孔相通且同走向的串聯(lián)錐度孔&螺紋孔,在所述錐度孔中設(shè)置有錐形卡套,在所述螺紋孔中旋設(shè)毛細管螺頭;一毛細管,從所述毛細管螺頭的中心孔、卡套的錐心孔,以及貫通小孔中穿過,首尾均露出一定長度;在所述基體的尾部,與所述貫通小孔傾斜一定角度的方向上,設(shè)置有一與所述貫通小孔相通的斜側(cè)位通孔,所述斜側(cè)位通孔也為串聯(lián)的錐度孔&螺紋孔,一帶有錐度的進氣管螺頭旋設(shè)在其中,一進氣管,從所述進氣管螺頭的中心孔引入并通向所述貫通小孔;在所述基體的尾部,與所述貫通小孔、斜側(cè)位通孔中心線所在平面垂直的方向上,設(shè)置有一水平螺紋孔,所述水平螺紋孔與所述貫通小孔不相通,在所述水平螺紋孔中旋設(shè)一高壓螺頭,一尾端焊接有高壓導(dǎo)線的高壓導(dǎo)頭被所述高壓螺頭壓設(shè)在水平螺紋孔中,所述高壓導(dǎo)線從所述高壓螺頭的中心孔中伸出進行加高壓。
【文檔編號】G01N27/64GK104008949SQ201310057303
【公開日】2014年8月27日 申請日期:2013年2月22日 優(yōu)先權(quán)日:2013年2月22日
【發(fā)明者】董曉峰, 顧海巍, 許檸, 陳煥文 申請人:東華理工大學(xué)