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發(fā)光二極管模組的分光檢測裝置及檢測方法
【專利摘要】發(fā)光二極管模組的分光檢測裝置及檢測方法，該裝置包括工作臺，其上有一檢測工位和出料工位；循環(huán)輸送機(jī)構(gòu)；活動的安裝于夾具上并用于在夾具位于出料工位時將夾具上的發(fā)光二極管模組頂出的頂料桿；位于工作臺的出料工位上且用于將位于出料工位的頂料桿向上頂壓的頂壓機(jī)構(gòu)；安裝在工作臺上的固定架，該固定架上固定有一相機(jī)以及光譜探頭；活動安裝在工作臺上且位于檢測工位上方的遮光罩；兩個導(dǎo)電頂針；用于帶動遮光罩和導(dǎo)電頂針沿高度方向相對于循環(huán)輸送機(jī)構(gòu)上下運(yùn)動的驅(qū)動組件；用于控制循環(huán)輸送機(jī)構(gòu)和驅(qū)動組件的控制器，光譜探頭、相機(jī)與控制器連接。本發(fā)明能夠適用于不同發(fā)光二極管模組的分光檢測，且降低操作人員的勞動強(qiáng)度。
【專利說明】發(fā)光二極管模組的分光檢測裝置及檢測方法
[0001]
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0002]本發(fā)明涉及發(fā)光二極管模組檢測【技術(shù)領(lǐng)域】，具體涉及一種發(fā)光二極管模組的分光檢測裝置以及發(fā)光二極管模組的分光檢測方法。
[0003]【背景技術(shù)】
[0004]從玻殼封裝到環(huán)氧樹脂封裝再到貼片式SMD封裝、芯片集成式光源模組封裝等，隨著大功率發(fā)光二極管在半導(dǎo)體照明應(yīng)用的不斷深入，其封裝形態(tài)已發(fā)生了多次變化。集成式發(fā)光二極管模組封裝在散熱性、亮度與品質(zhì)、顯色性以及應(yīng)用等方面均比較有優(yōu)勢。比如發(fā)光二極管模組模塊化封裝形式在結(jié)構(gòu)上可以起到減少結(jié)合層和降低整體熱阻的效果，多顆芯片支持，有助于亮度提升，合理的芯片配置，可提升光學(xué)效果。集成式發(fā)光二極管模組封裝在基板技術(shù)、封裝技術(shù)、檢測技術(shù)、芯片技術(shù)等方面都取得了很多進(jìn)步，但目前集成式發(fā)光二極管模組的封裝仍有一些問題待解決，比如生產(chǎn)效率偏低，生產(chǎn)直通良品率偏低、光源光色度一致性控制難度大等。隨著發(fā)光二極管應(yīng)用范圍的不斷擴(kuò)大，用戶對發(fā)光二極管的產(chǎn)品的質(zhì)量有了更高的要求，尤其要求發(fā)光二極管的色溫、亮度、顯色等具有一致性。因此，無論是哪種封裝方式的發(fā)光二極管生產(chǎn)，都必須進(jìn)行產(chǎn)品分選和測試。
[0005]目前生產(chǎn)出的發(fā)光二極管模組一發(fā)光二極管主要應(yīng)用在照明光源中，對發(fā)光二極管的光電參數(shù)的一致性要求甚高。但是，在現(xiàn)有的半導(dǎo)體技術(shù)制造條件下，通過在芯片制造或芯片封裝過程中改進(jìn)工藝來提高發(fā)光二極管模組的產(chǎn)品光電參數(shù)的一致性難度很大，而且會導(dǎo)致發(fā)光二極管的成本大大升高。因此，在實(shí)際生產(chǎn)中為了提高發(fā)光二極管模組的質(zhì)量，通常根據(jù)發(fā)光二極管的光電參數(shù)進(jìn)行嚴(yán)格的篩選分類，從而提高發(fā)光二極管的光電參數(shù)的一致性。因此，提高分選環(huán)節(jié)的效率和可靠性是提高發(fā)光二極管模組一發(fā)光二極管生產(chǎn)效率和質(zhì)量的關(guān)鍵因素。但是，目前發(fā)光二極管的發(fā)光二極管模組的封裝模塊還沒有形成完整的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，目前市場中大量涌現(xiàn)的新型的發(fā)光二極管模組封裝模塊，其體積大、尺寸與形狀多元化，最終產(chǎn)品形式多種多樣，傳統(tǒng)發(fā)光二極管的自動分選測試設(shè)備的模塊自動進(jìn)料、傳輸、出料及測試均無法適應(yīng)?，F(xiàn)階段，大多數(shù)生產(chǎn)企業(yè)在發(fā)光二極管模組的測試分選環(huán)節(jié)依然沒有脫離依靠人力和離線測試設(shè)備的束縛，嚴(yán)重制約了其產(chǎn)品的生產(chǎn)效率和可靠性。
[0006]由于發(fā)光二極管模組基板的形狀材質(zhì)眾多，尚未形成行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。發(fā)光二極管模組形狀的多元化導(dǎo)致傳統(tǒng)的分立式發(fā)光二極管自動分光機(jī)無法勝任。目前大部分廠商還是采用手動分光，存在工作量大，效率低等問題，無法滿足規(guī)模化生產(chǎn)需求。尤其是在進(jìn)行檢測前上料時，需要操作人員手動調(diào)整測試探針，使測試探針與發(fā)光二極管模組的接線端電性接觸，以便于光譜儀采集數(shù)據(jù)，下料時，仍然需要操作人員撥動測試探針，將發(fā)光二極管模組取出，因此，導(dǎo)致發(fā)光二極管模組的分光檢測效率較低、并且對發(fā)光二極管模組的形狀要求較高。
[0007]另外，由于發(fā)光二極管模組內(nèi)部具有多個LED發(fā)光單兀,若發(fā)光二極管模組內(nèi)部的某個LED發(fā)光單元損壞不能發(fā)光時，現(xiàn)有通過光譜儀采集數(shù)據(jù)進(jìn)行分光檢測的方法無法檢測出發(fā)光二極管模組內(nèi)部單個LED發(fā)光單元損壞的情況，嚴(yán)重影響了產(chǎn)品的質(zhì)量。
[0008]
【發(fā)明內(nèi)容】

[0009]針對現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明的目的之一在于提供一種發(fā)光二極管模組的分光檢測裝置，其能夠適用不同形狀發(fā)光二極管模組的分光檢測，同時能夠檢測發(fā)光二極管模組內(nèi)部是否存在LED發(fā)光單元損壞的現(xiàn)象，且可以有效的降低操作人員的勞動強(qiáng)度。
[0010]本發(fā)明的目的之二在于，提供一種發(fā)光二極管模組的分光檢測檢測方法。
[0011]為實(shí)現(xiàn)上述目的一，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:
發(fā)光二極管模組的分光檢測裝置，包括，
工作臺，其上設(shè)置有一檢測工位和出料工位；
安裝于工作臺上的循環(huán)輸送機(jī)構(gòu)，該循環(huán)輸送機(jī)構(gòu)用于將裝放有發(fā)光二極管模組的夾具由檢測工位輸送至出料工位；
活動的安裝于夾具上并用于在夾具位于出料工位時將夾具上的發(fā)光二極管模組頂出的頂料桿；
位于工作臺的出料工位上且用于將位于出料工位的頂料桿向上頂壓的頂壓機(jī)構(gòu)； 安裝在工作臺上的固定架，該固定架上固定有一相機(jī)以及光譜探頭；
活動安裝在工作臺上且位于檢測工位上方的遮光罩，該遮光罩的下部具有開口，相機(jī)的拍攝鏡頭及光譜探頭設(shè)置于遮光罩內(nèi)部；
兩個分別用于對接發(fā)光二極管模組上的接線端子用以將發(fā)光二極管模組連通于外部電源的導(dǎo)電頂針；
用于帶動遮光罩和導(dǎo)電頂針沿高度方向相對于循環(huán)輸送機(jī)構(gòu)上下運(yùn)動的驅(qū)動組件；
用于控制循環(huán)輸送機(jī)構(gòu)和驅(qū)動組件的控制器，光譜探頭、相機(jī)與控制器連接。
[0012]循環(huán)輸送機(jī)構(gòu)包括可轉(zhuǎn)動的安裝在工作臺上的分度盤、以及機(jī)體部分固定在工作臺上且用于帶動分度盤轉(zhuǎn)動的伺服電機(jī)，該伺服電機(jī)的控制端與控制器連接。
[0013]分度盤的上表面可拆卸的安裝有多個夾具，該多個夾具繞分度盤的轉(zhuǎn)動軸線圓周陣列；夾具位于分度盤上表面開設(shè)的凹位內(nèi)，且夾具的上表面與分度盤的上表面平齊或低于分度盤的上表面，夾具的上表面開設(shè)有一用于裝放發(fā)光二極管模組的凹槽。
[0014]頂料桿沿高度方向延伸且活動的穿接在夾具上，頂料桿與夾具之間設(shè)置有一回位彈簧，該回位彈簧用于提供一個將頂料桿向下頂壓的彈性應(yīng)力，頂壓機(jī)構(gòu)為一安裝在工作臺出料工位上的頂料凸塊，該頂料凸塊上與分度盤轉(zhuǎn)動方向相對的一側(cè)設(shè)置有一斜面，該斜面的高度順延分度盤的轉(zhuǎn)動方向逐漸向逐漸增大。
[0015]遮光罩內(nèi)部設(shè)置有一分光板，光譜探頭的探測端位于分光板的正上方，分光板上設(shè)置有一位于相機(jī)的鏡頭正下方的透光孔。
[0016]遮光罩內(nèi)部安裝有兩個固定套，導(dǎo)電頂針活動的穿接于固定套內(nèi)，且導(dǎo)電頂針與固定套之間設(shè)置有一復(fù)位彈簧，該復(fù)位彈簧用于提供一個將導(dǎo)電頂針向下頂壓的彈性應(yīng)力。
[0017]驅(qū)動組件包括機(jī)體部分固定在工作臺上的驅(qū)動電機(jī)、遮光罩以絲桿傳動的方式與驅(qū)動電機(jī)的轉(zhuǎn)軸連接。
[0018]遮光罩的頂壁上開設(shè)有用于供相機(jī)和光譜探頭活動穿接的通孔。
[0019]為實(shí)現(xiàn)上述目的二，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:
發(fā)光二極管模組的分光檢測方法，包括如下步驟:
步驟A、利用遮光罩遮住待檢測的發(fā)光二極管模組；
步驟B、將發(fā)光二極管模組的接線端子與外部電源導(dǎo)通，使待檢測的發(fā)光二極管模組處于工作狀態(tài)；
步驟C、將光譜探頭伸入到遮光罩內(nèi)部獲取發(fā)光二極管模組的光學(xué)性能參數(shù)；將相機(jī)的鏡頭伸入到遮光罩內(nèi)部，對工作狀態(tài)中的發(fā)光二極管模組進(jìn)行拍照，獲取發(fā)光二極管模組的光學(xué)圖像；
步驟D、將獲取的光學(xué)性能參數(shù)和光學(xué)圖像發(fā)送給A/D數(shù)據(jù)采集卡，由A/D數(shù)據(jù)采集卡將這些光學(xué)性能參數(shù)和光學(xué)圖像發(fā)送給計(jì)算機(jī)；
步驟E、計(jì)算機(jī)對接收到的光學(xué)性能參數(shù)和光學(xué)圖像進(jìn)行分析，完成發(fā)光二極管模組的分光檢測。
[0020]本發(fā)明的有益效果在于:
相比于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明的檢測裝置能夠適用于不同尺寸、形狀的發(fā)光二極管模組的分光檢測，其不僅能夠分析發(fā)光二極管模組的光學(xué)性能，還可以檢測出發(fā)光二極管模組內(nèi)部的LED發(fā)光單元是否存在損壞的現(xiàn)象，具有較高的自動化程度，能夠降低操作人員的勞動強(qiáng)度。
[0021]
【專利附圖】

【附圖說明】
[0022]圖1為發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖2為圖1中分光檢測裝置的安裝示意圖；
圖3為圖1中分光檢測裝置的剖視圖；
圖4為圖2中夾具的結(jié)構(gòu)不意圖；
圖5為本發(fā)明分光檢測裝置的俯視圖；
圖6為本發(fā)明導(dǎo)電頂針與固定套的裝配示意圖。
[0023]其中:10、機(jī)架；11、工作臺；12、頂料凸塊；13、腳踏開關(guān)；21、分度盤；211、凹位；22、伺服電機(jī)；31、驅(qū)動電機(jī)；32、傳動絲桿；33、絲桿螺母；34、連接板；35、安裝架；36、導(dǎo)向桿；37、滑套；40、固定架；41、固定板;50、夾具;501、凹槽;502、通孔;503、螺釘;51、頂料桿；52、回位彈簧；53、限位套；60、遮光罩；61、分光板；62、通孔；63、連接套；71、相機(jī)；72、光譜探頭；80、導(dǎo)電頂針；81、固定套；82、復(fù)位彈黃。
[0024]【具體實(shí)施方式】
[0025]下面，結(jié)合附圖以及【具體實(shí)施方式】，對本發(fā)明做進(jìn)一步描述: 如圖1、2、3、4、5、6所示，為本發(fā)明一種發(fā)光二極管模組的分光檢測裝置，其包括機(jī)架10、分度盤21、伺服電機(jī)22、六個夾具50、六個頂料桿51、頂料凸塊12、固定架40、遮光罩60、驅(qū)動組件和控制器。
[0026]機(jī)架10的上部設(shè)置有一水平的工作臺11，伺服電機(jī)22位于機(jī)架10內(nèi)部且機(jī)體部分固定在水平工作臺11的下表面，其轉(zhuǎn)軸穿過水平工作臺11，分度盤21同步的安裝在伺服電機(jī)22的轉(zhuǎn)軸上，在伺服電機(jī)22的帶動下，分度盤21可繞其中心軸間歇的轉(zhuǎn)動，上述的六個夾具50可拆卸的安裝在分度盤21的上表面并且繞分度盤21的中心軸圓周陣列，在分度盤21轉(zhuǎn)動的過程中，其能夠帶動夾具50從設(shè)置于工作臺11上的檢測工位運(yùn)動到設(shè)置于工作臺11上的出料工位，檢測工位的位置和出料工位的位置參見圖5所示，實(shí)際上，無論分度盤21如何轉(zhuǎn)動，檢測工位和出料工位始終是與分度盤21上相鄰的兩個夾具50對應(yīng)的。
[0027]上述的夾具50可以是直接固定在分度盤21的上表面，也可以是在分度盤21上表面均勻的開設(shè)有六個凹位211，凹位211的深度大于或等于夾具50的厚度，夾具50嵌置在凹位211中，其上表面低于分度盤21的上表面或與分度盤21的上表面平齊，如此，就可以避免分度盤21在帶動夾具50轉(zhuǎn)動時，夾具50與其他部件碰撞。此外，夾具50可以是利用位于其兩端的螺釘503固定在凹位211的底壁上，實(shí)現(xiàn)夾具50與分度盤21的可拆卸連接，當(dāng)然，夾具50也可以是通過其他可拆卸連接的方式與分度盤21固定，例如扣接。夾具50上開設(shè)有一凹槽501,該凹槽501內(nèi)部用于放置并固定發(fā)光二極管模組,凹槽501可設(shè)置成不同的形狀，用于匹配不同形狀的發(fā)光二極管模組。在夾具50上開設(shè)有一通孔502，該通孔502的由夾具50的底面貫穿至夾具50的上表面，上述的六個頂料桿51與夾具50 —一對應(yīng)，且頂料桿51活動的穿接在與其對應(yīng)的夾具50上的通孔502內(nèi)部，頂料桿51在通孔502內(nèi)部相對于夾具50向上運(yùn)動時，其頂端部能夠穿入到凹槽501內(nèi)，即其頂端部會凸出于凹槽501的底壁，如此，可將位于凹槽501內(nèi)的發(fā)光二極管模組從夾具50上頂出。為了實(shí)現(xiàn)頂料桿51在頂料完成后的復(fù)位，在通孔502內(nèi)部設(shè)直有一套接在頂料桿51外部的回位彈簧52，該回位彈簧52被限定在頂料桿51上部設(shè)置的限位凸緣和通孔502的上端部之間，通孔502的下端部固定有一用于頂住頂料桿51上的限位凸緣的限位套53，在常態(tài)下，回位彈簧52將頂料桿51向下頂壓，使頂料桿51的限位凸緣正好與限位套53壓緊，此時，頂料桿51的上端部與凹槽501的底壁平齊或略低于凹槽501的底壁，當(dāng)向上推動頂料桿51時，則回位彈簧52被壓縮，頂料桿51上端部穿入凹槽501將位于凹槽501中的發(fā)光二極管模組頂出，當(dāng)完成頂料動作后，釋放外力，回位彈簧52的彈性應(yīng)力將頂料桿51推到初始狀態(tài)。本發(fā)明中，采用在工作臺11的頂料工位設(shè)置一個頂料凸塊12將轉(zhuǎn)動到出料工位上夾具50上的頂料桿51向上推動實(shí)現(xiàn)頂料，為了避免碰撞，該頂料凸塊12上表面與分度盤21轉(zhuǎn)動方向相對的一側(cè)設(shè)置成斜面，該斜面的高度順延分度盤21的轉(zhuǎn)動方向逐漸增大，當(dāng)分度盤21帶動夾具50轉(zhuǎn)動到出料工位時，該夾具50上的頂料桿51首先與斜面高度較低的一側(cè)接觸，能有效避免碰撞，同時也能夠使頂料桿51逐步上升，減小對夾具50的沖擊力。當(dāng)然，也可以利用其它方式推動頂料桿51上移，例如，可以是在機(jī)架10內(nèi)部安裝一個氣缸，該氣缸的自由端朝上并穿過工作臺11并位于工作臺11的出料工位，該氣缸由控制器控制，當(dāng)分度盤21帶動夾具50轉(zhuǎn)動到出料工位時，控制器控制開啟，向上頂壓頂料桿51 ;能夠使頂料桿51在出料工位上移的方式很多,在這里不 列舉。
[0028]在工作臺11的檢測工位處安裝有一固定架40，該固定架40由一豎梁和一固定在豎梁上部朝向分度盤21的中心軸延伸的橫梁，橫梁靠近分度盤21的中心軸的一端固定有一固定板41，該固定板41上固定有一鏡頭的拍攝方向朝下的相機(jī)71、以及一探測端朝下的光譜探頭72，相機(jī)71和光譜探頭72位于夾具50旋轉(zhuǎn)軌跡的正上方，以便于采集安裝于夾具50上的發(fā)光二極管模組的光學(xué)性能參數(shù)和工作狀態(tài)時的光學(xué)圖像。遮光罩60活動的安裝在工作臺11上并位于分度盤21的上方，并且該遮光罩60位于相機(jī)71和光譜探頭72的下方，遮光罩60的下部開口，驅(qū)動組件可帶動遮光罩60向下運(yùn)動，使遮光罩60罩住位于檢測工位的發(fā)光二極管模組，遮光罩60的頂壁上開設(shè)有一通孔62，相機(jī)71的鏡頭從通孔62穿入并位于遮光罩60內(nèi)部中間位置，光譜探頭72也是從遮光罩60的頂壁穿入，其探測端位于遮光罩60內(nèi)部側(cè)面。遮光罩60內(nèi)部還設(shè)置有一水平的分光板61,該分光板61中間設(shè)置開口，也就是說，該分光板61呈環(huán)形，其中間的開口便于發(fā)光二極管模組的光線被射到相機(jī)71的鏡頭中。光譜探頭72則位于分光板61的上方，發(fā)光二極管模組的射出光線經(jīng)過分光板61被均勻的分散后，其光學(xué)性能參數(shù)被光譜探頭72獲取，分光板61可采用聚四氟乙烯制成。
[0029]在遮光罩60內(nèi)部，還安裝有兩個導(dǎo)電頂針80，該兩個導(dǎo)電頂針80用于與發(fā)光二極管模組上的接線端子連接，從而將發(fā)光二極管模組于外部電源接通，在檢測時，為發(fā)光二極管模組提供電源使其處于工作狀態(tài)。在檢測時，兩個導(dǎo)電頂針80隨著遮光罩60向下運(yùn)動，當(dāng)遮光罩60正好遮住位于檢測工位上的發(fā)光二極管模組時，兩導(dǎo)電頂針80正好與發(fā)光二極管模組上的接線端子接觸導(dǎo)通。遮光罩60內(nèi)部安裝有兩個固定套81，導(dǎo)電頂針80活動的穿接于固定套81內(nèi)，且導(dǎo)電頂針80與固定套81之間設(shè)置有一復(fù)位彈簧82，該復(fù)位彈簧82用于提供一個將導(dǎo)電頂針80向下頂壓的彈性應(yīng)力；在導(dǎo)電頂針80向下移動與發(fā)光二極管模組的接線端子接觸導(dǎo)通時，復(fù)位彈簧82起到緩沖作用，能夠防止導(dǎo)電頂針80被撞壞，同時，復(fù)位彈簧82的彈性應(yīng)力能夠使導(dǎo)電頂針80能夠與發(fā)光二極管模組的接觸端子良好接觸。
[0030]驅(qū)動組件用于帶動遮光罩60以及兩導(dǎo)電頂針80上下運(yùn)動，在需要檢測時，驅(qū)動組件帶動遮光罩60和導(dǎo)電頂針80下移，當(dāng)檢測完成后，驅(qū)動組件帶動遮光罩60和導(dǎo)電頂針80上移到與分度盤21分離的位置，使分度盤21能夠轉(zhuǎn)動，在分度盤21轉(zhuǎn)動60°后，接著進(jìn)行下一個發(fā)光二極管模組的檢測。驅(qū)動組件包括位于機(jī)架10內(nèi)部且機(jī)體部分固定在工作臺11下表面的驅(qū)動電機(jī)31、同步聯(lián)接在驅(qū)動電機(jī)31的轉(zhuǎn)軸上且沿高度方向延伸的傳動絲桿32、匹配的套接在傳動絲桿32上的絲桿螺母33，該絲桿螺母33上固定有一連接板34，工作臺11固定有一安裝架35，安裝架35的兩側(cè)分別設(shè)置有一沿高度方向延伸的導(dǎo)向桿36，連接板34的兩側(cè)固定有兩個滑套37，該兩滑套37分別滑動的套接在兩導(dǎo)向桿36上，遮光罩60的外部固定有一連接套63，該連接套63與連接板34固定連接，啟動驅(qū)動電機(jī)31，SP可帶動連接套63上下運(yùn)動，從而使遮光罩60能夠上下運(yùn)動。驅(qū)動組件還可以是其他能夠帶動遮光罩60上下運(yùn)動的機(jī)構(gòu)，例如可以采用直線電機(jī)。為了便于調(diào)整遮光罩60在分度盤21徑向的位置，上述的連接板34和連接套63利用螺栓可拆卸的連接，并且在連接板34上設(shè)置有一沿分度盤21徑向延伸的長孔，當(dāng)然，在遮光罩60位置可調(diào)的情況下，也需要相機(jī)71和光譜探頭72的位置隨著遮光罩60可調(diào)節(jié)，可以將固定板41可拆卸的連接在固定架40上，且固定板41的位置能夠沿固定架40的橫梁延伸方向調(diào)整。
[0031]本發(fā)明的控制器主要用于控制伺服電機(jī)22、驅(qū)動電機(jī)31，導(dǎo)電頂針80、相機(jī)71和光譜探頭72均與控制器連接，控制器控制伺服電機(jī)22帶動分度盤21間歇的轉(zhuǎn)動，且每次轉(zhuǎn)動60°，當(dāng)裝有發(fā)光二極管模組的夾具50被分度盤21帶動到遮光罩60下方(即檢測工位)時，控制器控制驅(qū)動電機(jī)31下移，對發(fā)光二極管模組進(jìn)行檢測，當(dāng)檢測完成后，控制器控制伺服電機(jī)22帶動分度盤21轉(zhuǎn)動60°，經(jīng)檢測后的發(fā)光二極管模組被送至出料工位后被頂料桿51頂出，在具體的操作時，只需要操作人員將發(fā)光二極管模組裝放在夾具50上，其可以利用位于機(jī)架10底部與控制器連接的腳踏開關(guān)13來控制。
[0032]本發(fā)明的中，可以依據(jù)具體的檢測需要，在分度盤21上安裝不同數(shù)量的夾具50。
[0033]以上所述的發(fā)光二極管模組的分光檢測裝置中，夾具50可拆卸的安裝在分度盤21上，當(dāng)需要對不同形狀的發(fā)光二極管模組進(jìn)行檢測時，可更換與發(fā)光二極管模組形狀匹配的夾具50，從而可以利用一臺機(jī)器適用于不同的發(fā)光二極管模組的分光檢測，并且其具有較高的自動化程度，能夠降低操作人員的勞動強(qiáng)度。相機(jī)71可用于拍攝工作狀態(tài)時的發(fā)光二極管模組，獲取發(fā)光二極管模組的光學(xué)圖像，通過計(jì)算機(jī)分析，能夠判斷發(fā)光二極管模組內(nèi)部的LED發(fā)光單元是否存在損壞的現(xiàn)象，以便于將殘次品挑選出來，保證發(fā)光二極管模組的產(chǎn)品質(zhì)量
本發(fā)明發(fā)光二極管模組的分光檢測方法包括如下步驟:
步驟A、利用遮光罩60遮住待檢測的發(fā)光二極管模組；
步驟B、將發(fā)光二極管模組的接線端子與外部電源導(dǎo)通，使待檢測的發(fā)光二極管模組處于工作狀態(tài)；
步驟C、將光譜探頭72伸入到遮光罩60內(nèi)部獲取發(fā)光二極管模組的光學(xué)性能參數(shù)；將相機(jī)71的鏡頭伸入到遮光罩60內(nèi)部,對工作狀態(tài)中的發(fā)光二極管模組進(jìn)行拍照,獲取發(fā)光二極管模組的光學(xué)圖像；
步驟D、將獲取的光學(xué)性能參數(shù)和光學(xué)圖像發(fā)送給A/D數(shù)據(jù)采集卡，由A/D數(shù)據(jù)采集卡將這些光學(xué)性能參數(shù)和光學(xué)圖像發(fā)送給計(jì)算機(jī)；
步驟E、計(jì)算機(jī)對接收到的光學(xué)性能參數(shù)和光學(xué)圖像進(jìn)行分析，完成發(fā)光二極管模組的分光檢測。
[0034]對本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，可根據(jù)以上描述的技術(shù)方案以及構(gòu)思，做出其它各種相應(yīng)的改變以及形變，而所有的這些改變以及形變都應(yīng)該屬于本發(fā)明權(quán)利要求的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.發(fā)光二極管模組的分光檢測裝置，其特征在于，包括， 工作臺，其上設(shè)置有一檢測工位和出料工位； 安裝于工作臺上的循環(huán)輸送機(jī)構(gòu)，該循環(huán)輸送機(jī)構(gòu)用于將裝放有發(fā)光二極管模組的夾具由檢測工位輸送至出料工位； 活動的安裝于夾具上并用于在夾具位于出料工位時將夾具上的發(fā)光二極管模組頂出的頂料桿； 位于工作臺的出料工位上且用于將位于出料工位的頂料桿向上頂壓的頂壓機(jī)構(gòu)； 安裝在工作臺上的固定架，該固定架上固定有一相機(jī)以及光譜探頭； 活動安裝在工作臺上且位于檢測工位上方的遮光罩，該遮光罩的下部具有開口，相機(jī)的拍攝鏡頭及光譜探頭設(shè)置于遮光罩內(nèi)部； 兩個分別用于對接發(fā)光二極管模組上的接線端子用以將發(fā)光二極管模組連通于外部電源的導(dǎo)電頂針； 用于帶動遮光罩和導(dǎo)電頂針沿高度方向相對于循環(huán)輸送機(jī)構(gòu)上下運(yùn)動的驅(qū)動組件； 用于控制循環(huán)輸送機(jī)構(gòu)和驅(qū)動組件的控制器，光譜探頭、相機(jī)與控制器連接。
2.如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管模組的分光檢測裝置，其特征在于，循環(huán)輸送機(jī)構(gòu)包括可轉(zhuǎn)動的安裝在工作臺上的分度盤、以及機(jī)體部分固定在工作臺上且用于帶動分度盤轉(zhuǎn)動的伺服電機(jī)，該伺服電機(jī)的控制端與控制器連接。
3.如權(quán)利要求2所述的發(fā)光二極管模組的分光檢測裝置，其特征在于，分度盤的上表面可拆卸的安裝有多個夾具，該多個夾具繞分度盤的轉(zhuǎn)動軸線圓周陣列；夾具位于分度盤上表面開設(shè)的凹位內(nèi)，且夾具的上表面與分度盤的上表面平齊或低于分度盤的上表面，夾具的上表面開設(shè)有一用于裝放發(fā)光二極管模組的凹槽。
4.如權(quán)利要求3所述的發(fā)光二極管模組的分光檢測裝置，其特征在于，頂料桿沿高度方向延伸且活動的穿接在夾具上，頂料桿與夾具之間設(shè)置有一回位彈簧，該回位彈簧用于提供一個將頂料桿向下頂壓的彈性應(yīng)力，頂壓機(jī)構(gòu)為一安裝在工作臺出料工位上的頂料凸塊，該頂料凸塊上與分度盤轉(zhuǎn)動方向相對的一側(cè)設(shè)置有一斜面，該斜面的高度順延分度盤的轉(zhuǎn)動方向逐漸向逐漸增大。
5.如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管模組的分光檢測裝置，其特征在于，遮光罩內(nèi)部設(shè)置有一分光板，光譜探頭的探測端位于分光板的正上方，分光板上設(shè)置有一位于相機(jī)的鏡頭正下方的透光孔。
6.如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管模組的分光檢測裝置，其特征在于，遮光罩內(nèi)部安裝有兩個固定套，導(dǎo)電頂針活動的穿接于固定套內(nèi)，且導(dǎo)電頂針與固定套之間設(shè)置有一復(fù)位彈簧，該復(fù)位彈簧用于提供一個將導(dǎo)電頂針向下頂壓的彈性應(yīng)力。
7.如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管模組的分光檢測裝置，其特征在于，驅(qū)動組件包括機(jī)體部分固定在工作臺上的驅(qū)動電機(jī)、遮光罩以絲桿傳動的方式與驅(qū)動電機(jī)的轉(zhuǎn)軸連接。
8.如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管模組的分光檢測裝置，其特征在于，遮光罩的頂壁上開設(shè)有用于供相機(jī)和光譜探頭活動穿接的通孔。
9.發(fā)光二極管模組的分光檢測方法，其特征在于，包括如下步驟: 步驟A、利用遮光罩遮住待檢測的發(fā)光二極管模組； 步驟B、將發(fā)光二極管模組的接線端子與外部電源導(dǎo)通，使待檢測的發(fā)光二極管模組處于工作狀態(tài)； 步驟C、將光譜探頭伸入到遮光罩內(nèi)部獲取發(fā)光二極管模組的光學(xué)性能參數(shù)；將相機(jī)的鏡頭伸入到遮光罩內(nèi)部，對工作狀態(tài)中的發(fā)光二極管模組進(jìn)行拍照，獲取發(fā)光二極管模組的光學(xué)圖像； 步驟D、將獲取的光學(xué)性能參數(shù)和光學(xué)圖像發(fā)送給A/D數(shù)據(jù)采集卡，由A/D數(shù)據(jù)采集卡將這些光學(xué)性能參數(shù)和光學(xué)圖像發(fā)送給計(jì)算機(jī)； 步驟E、計(jì)算機(jī)對接收到的光學(xué)性能參數(shù)和光學(xué)圖像進(jìn)行分析，完成發(fā)光二極管模組的分光檢測。
【文檔編號】G01M11/02GK103512729SQ201310461585
【公開日】2014年1月15日 申請日期:2013年9月30日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月30日
【發(fā)明者】蘇佳檳, 陳家俊, 陳志威, 高艷春, 夏雪松 申請人:廣州硅能照明有限公司