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具有測量涂覆層厚度功能的電子裝置及測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】一電子裝置用于測量待測產(chǎn)品的涂覆層的厚度。該電子裝置包括測試接口、存儲單元以及處理單元。該測試接口用于與一包括測試探頭的測試數(shù)據(jù)線連接。該存儲單元存儲有一對應關(guān)系表。處理單元包括測試啟動偵測模塊、供電控制模塊以及結(jié)果分析模塊。測試啟動偵測模塊偵測當前是否需要啟動對待測產(chǎn)品的測試。如果是，供電控制模塊控制分配電壓至該測試接口一預定時間，觸發(fā)該測試探頭在處于供電時產(chǎn)生相應的激勵信號，并在停止供電時產(chǎn)生一包括特定參數(shù)值的回饋信號。結(jié)果分析模塊獲取回饋信號中的特定參數(shù)值，并根據(jù)對應關(guān)系表確定特定參數(shù)值對應的厚度。本發(fā)明還提供一測試系統(tǒng)，本發(fā)明的電子裝置及測試系統(tǒng)，通過簡單的結(jié)構(gòu)測量產(chǎn)品涂覆層的厚度。
【專利說明】具有測量涂覆層厚度功能的電子裝置及測試系統(tǒng)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種電子裝置，特別涉及一種具有測量涂覆層厚度功能的電子裝置及測試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]眾所周知，產(chǎn)品在制造過程中，需要先制造基體，然后在基體上涂覆相應的涂層。一般而言，電子裝置的基體根據(jù)材質(zhì)的不同一般分為磁性金屬基體和非磁性金屬基體，而涂層為與基體不同的材質(zhì)。一般，磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上涂覆的為非磁性涂層(如鋁、鉻、銅、琺浪、橡膠、油漆等)，而非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上涂覆的為非導電覆層(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
[0003]通常，如果涂覆層太薄則可能難以起到保護作用，并容易脫落，而如果涂覆層太厚則可能影響產(chǎn)品的性能并造成了原料的損耗。因此，通常需要對涂覆層進行厚度測量。然而，目前對產(chǎn)品涂覆層厚度的測量通常通過專門的設(shè)備，價格較昂貴。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明提供一種具有測量涂覆層厚度功能的電子裝置及測試系統(tǒng)，可通過簡單的結(jié)構(gòu)對產(chǎn)品涂覆層的厚度進行測量。
[0005]一種具有測量涂覆層厚度功能的測試系統(tǒng)，用于測試一待測產(chǎn)品的涂覆層的厚度，該測試系統(tǒng)包括一電子裝置以及一測試數(shù)據(jù)線，該電子裝置包括一電池、一測試接口、一電源管理單元以及一輸入單元，該電池用于為電子裝置供電，該電源管理單元用于管理電池的供電；該輸入單元用于響應用戶的操作而產(chǎn)生相應的輸入信號。其特征在于，該測試數(shù)據(jù)線包括一數(shù)據(jù)接頭以及一測試探頭，該數(shù)據(jù)接頭用于在測試時與電子裝置的測試接口連接，該測試探頭用于在測試時與待測產(chǎn)品的涂覆層接觸。該電子裝置還包括一存儲單元以及一處理單元。該存儲單元存儲有一對應關(guān)系表，該對應關(guān)系表定義了多個特定參數(shù)值與涂覆層厚度的對應關(guān)系。該處理單元包括一測試啟動偵測模塊、一供電控制模塊、一結(jié)果分析模塊以及一存儲控制模塊。該測試啟動偵測模塊用于在接收到輸入單元響應用戶操作而產(chǎn)生的測試觸發(fā)信號時，確定當前需要啟動對待測產(chǎn)品的測試。該供電控制模塊在該測試啟動偵測模塊確定當前需要對待測產(chǎn)品進行測試時，控制該電源管理單元分配電壓至該測試接口一預定時間，從而為與該測試接口連接的測試數(shù)據(jù)線的測試探頭供電該預定時間，其中，該測試探頭在處于供電的時間內(nèi)產(chǎn)生相應的激勵信號，并在停止供電時，產(chǎn)生一包括特定參數(shù)值的回饋信號，并通過該測試數(shù)據(jù)線將該回饋信號傳送至該測試接口。該結(jié)果分析模塊，在供電控制模塊停止控制該電源管理單元分配電壓給測試接口時，偵測該測試接口的信號，并在偵測到該測試接口的該回饋信號時，獲取該回饋信號中的特定參數(shù)值，并根據(jù)該存儲單元中的對應關(guān)系表確定該特定參數(shù)值所對應的厚度，從而分析得出包括該待測產(chǎn)品的涂覆層的厚度的測試結(jié)果。該存儲控制模塊用于將該測試結(jié)果存儲于該存儲單
J Li ο[0006]一種具有測量涂覆層厚度功能的電子裝置，該電子裝置用于測量一待測產(chǎn)品的涂覆層的厚度，該電子裝置包括一電池、一電源管理單元以及一輸入單元，該電池用于為電子裝置供電，該電源管理單元用于管理電池的供電；該輸入單元用于響應用戶的操作而產(chǎn)生相應的輸入信號。該電子裝置還包括一測試接口、一存儲單元以及一處理單元。該測試接口用于與一測試數(shù)據(jù)線的數(shù)據(jù)接頭連接，該測試數(shù)據(jù)線還包括一測試探頭。該存儲單元存儲有一對應關(guān)系表，該對應關(guān)系表定義了多個特定參數(shù)值與涂覆層厚度的對應關(guān)系。處理單元包括一測試啟動偵測模塊、一供電控制模塊、一結(jié)果分析模塊以及一存儲控制模塊。該測試啟動偵測模塊用于在接收到輸入單元響應用戶操作而產(chǎn)生的測試觸發(fā)信號時，確定當前需要啟動對待測產(chǎn)品的測試。供電控制模塊在該測試啟動偵測模塊確定當前需要對待測產(chǎn)品進行測試時，控制該電源管理單元分配電壓至該測試接口一預定時間，從而為與該測試接口連接的測試數(shù)據(jù)線的測試探頭供電該預定時間，觸發(fā)該測試探頭在處于供電的時間內(nèi)產(chǎn)生相應的激勵信號，并在停止供電時產(chǎn)生一包括特定參數(shù)值的回饋信號。該結(jié)果分析模塊在供電控制模塊停止控制該電源管理單元分配電壓給測試接口時，偵測該測試接口的信號，并在偵測到該測試接口的該回饋信號時，獲取該回饋信號中的特定參數(shù)值，并根據(jù)該存儲單元中的對應關(guān)系表確定該特定參數(shù)值所對應的厚度，從而分析得出包括該待測產(chǎn)品的涂覆層的厚度的測試結(jié)果。該存儲控制模塊用于將該測試結(jié)果存儲于該存儲單元。
[0007]本發(fā)明的具有測量涂覆層厚度功能的電子裝置及測試系統(tǒng)，可通過簡單的結(jié)構(gòu)對產(chǎn)品涂覆層的厚度進行測量。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0008]圖1為本發(fā)明第一實施方式中具有測量涂覆層厚度功能的測試系統(tǒng)的框架示意圖。
[0009]圖2為本發(fā)明第一實施方式中具有測量涂覆層厚度功能的電子裝置的功能模塊圖。
[0010]圖3為本發(fā)明一實施方式中具有測量涂覆層厚度功能的測試系統(tǒng)所用測試數(shù)據(jù)線的示意圖。
[0011]主要元件符號說明
【權(quán)利要求】
1.一種具有測量涂覆層厚度功能的測試系統(tǒng)，用于測試一待測產(chǎn)品的涂覆層的厚度，該測試系統(tǒng)包括一電子裝置以及一測試數(shù)據(jù)線，該電子裝置包括一電池、一測試接口、一電源管理單元以及一輸入單元，該電池用于為電子裝置供電，該電源管理單元用于管理電池的供電；該輸入單元用于響應用戶的操作而產(chǎn)生相應的輸入信號，其特征在于: 該測試數(shù)據(jù)線包括一數(shù)據(jù)接頭以及一測試探頭，該數(shù)據(jù)接頭用于在測試時與電子裝置的測試接口連接，該測試探頭用于在測試時與待測產(chǎn)品的涂覆層接觸； 該電子裝置還包括: 一存儲單元，該存儲單元存儲有一對應關(guān)系表，該對應關(guān)系表定義了多個特定參數(shù)值與涂覆層厚度的對應關(guān)系；以及 一處理單元包括: 一測試啟動偵測模塊，用于在接收到輸入單元響應用戶操作而產(chǎn)生的測試觸發(fā)信號時，確定當前需要啟動對待測產(chǎn)品的測試； 一供電控制模塊，在該測試啟動偵測模塊確定當前需要對待測產(chǎn)品進行測試時，控制該電源管理單元分配電壓至該測試接口一預定時間，從而為與該測試接口連接的測試數(shù)據(jù)線的測試探頭供電該預定時間，其中，該測試探頭在處于供電的時間內(nèi)產(chǎn)生相應的激勵信號，并在停止供電時，產(chǎn)生一包括特定參數(shù)值的回饋信號，并通過該測試數(shù)據(jù)線將該回饋信號傳送至該測試接口； 一結(jié)果分析模塊，在供電控制模塊停止控制該電源管理單元分配電壓給測試接口時，偵測該測試接口的信號，并在偵測到該測試接口的該回饋信號時，獲取該回饋信號中的特定參數(shù)值，并根據(jù)該存儲單元中的對應關(guān)系表確定該特定參數(shù)值所對應的厚度，從而分析得出包括該待測產(chǎn)品的涂覆層的厚度的測試結(jié)果；以及 一存儲控制模塊，用于將該測試結(jié)果存儲于該存儲單元。
2.如權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，該測試數(shù)據(jù)線的測試探頭為一磁性測試探頭，包括軟芯上繞著的線圈，該待測產(chǎn)品為在磁性金屬基體上涂覆非磁性涂層的產(chǎn)品，當該供電控制模塊控制該電源管理單元分配電壓至該測試接口時，該測試探頭的線圈將流過電流并產(chǎn)生一磁場，當供電控制模塊控制停止為測試接口供電時，由于磁通量的變化，該測試探頭產(chǎn)生一與涂覆層厚度相關(guān)的感應電動勢電信號并將該感應電動勢電信號回饋給測試接口。
3.如權(quán)利要求2所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，該存儲單元中存儲的對應關(guān)系表中的特定參數(shù)值與厚度的對應關(guān)系包括感應電動勢與厚度的對應關(guān)系，該結(jié)果分析模塊從該測試接口獲取該感應電動勢，并根據(jù)該存儲單元中的對應關(guān)系表確定該感應電動勢所對應的厚度，從而分析得出包括該待測產(chǎn)品的涂覆層的厚度的測試結(jié)果。
4.如權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，該測試數(shù)據(jù)線的測試探頭為一非磁性測試探頭，包括采用繞在高頻材料鐵芯上的線圈以及一高頻信號產(chǎn)生器，該待測產(chǎn)品為在非磁性金屬基體涂覆非導電覆層的產(chǎn)品，當該供電控制模塊控制該電源管理單元分配電壓至該測試接口時，該高頻信號產(chǎn)生器將電源管理單元分配的電壓轉(zhuǎn)換為高頻交流信號，并輸出至該繞在高頻材料鐵芯上的線圈，使得該繞在高頻材料鐵芯上的線圈產(chǎn)生電磁場，并產(chǎn)生一與非導電覆層/涂覆層的厚度相關(guān)的電流渦流形式的電流電信號，當供電控制模塊控制停止為測試接口供電時，該測試探頭將電流電信號通過該測試數(shù)據(jù)線回饋給測試接□。
5.如權(quán)利要求4所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，該存儲單元中存儲的對應關(guān)系表中的特定參數(shù)值與厚度的對應關(guān)系包括電流與厚度的對應關(guān)系；該結(jié)果分析模塊從該測試接口獲取該電流，并根據(jù)該存儲單元中的對應關(guān)系表確定該電流所對應的厚度，從而分析得出包括該待測產(chǎn)品的涂覆層的厚度的測試結(jié)果。
6.如權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，該測試數(shù)據(jù)線的測試探頭包括一磁性測試探頭以及一非磁性測試探頭，該磁性測試探頭包括軟芯上繞著的線圈，該非磁性測試探頭包括采用繞在高頻材料鐵芯上的線圈以及一高頻信號產(chǎn)生器。
7.如權(quán)利要求6所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，當該待測產(chǎn)品為在磁性金屬基體上涂覆非磁性涂層的產(chǎn)品時，該磁性測試探頭與待測產(chǎn)品的涂覆層接觸，該當該供電控制模塊控制該電源管理單元分配電壓至該測試接口時，該測試探頭的線圈將流過電流并產(chǎn)生一磁場，當供電控制模塊控制停止為測試接口供電時，由于磁通量的變化，該測試探頭產(chǎn)生一與涂覆層厚度相關(guān)的感應電動勢電信號并將該感應電動勢電信號回饋給測試接口。
8.如權(quán)利要求6所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，當該待測產(chǎn)品為在非磁性金屬基體涂覆非導電覆層的產(chǎn)品時，該磁性測試探頭與待測產(chǎn)品的涂覆層接觸，當該供電控制模塊控制該電源管理單元分配電壓至該測試接口時，該高頻信號產(chǎn)生器將電源管理單元分配的電壓轉(zhuǎn)換為高頻交流信號，并輸出至該繞在高頻材料鐵芯上的線圈，使得該繞在高頻材料鐵芯上的線圈產(chǎn)生電磁場，并產(chǎn)生一與非導電覆層/涂覆層的厚度相關(guān)的電流渦流形式的電流信號，當供電控制模塊控制停止為測試接口供電時，該測試探頭將電流信號回饋給測試接口。
9.如權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，該電子裝置為智能手機、電子相框或電子書。
10.如權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，該測試接口為mini型USB接口或電源·接口。
11.一種具有測量涂覆層厚度功能的電子裝置，該電子裝置用于測量一待測產(chǎn)品的涂覆層的厚度，該電子裝置包括一電池、一電源管理單元以及一輸入單元，該電池用于為電子裝置供電，該電源管理單元用于管理電池的供電；該輸入單元用于響應用戶的操作而產(chǎn)生相應的輸入信號，其特征在于，該電子裝置還包括: 一測試接口，用于與一測試數(shù)據(jù)線的數(shù)據(jù)接頭連接，該測試數(shù)據(jù)線還包括一測試探頭; 一存儲單元，該存儲單元存儲有一對應關(guān)系表，該對應關(guān)系表定義了多個特定參數(shù)值與涂覆層厚度的對應關(guān)系；以及 一處理單元包括: 一測試啟動偵測模塊，用于在接收到輸入單元響應用戶操作而產(chǎn)生的測試觸發(fā)信號時，確定當前需要啟動對待測產(chǎn)品的測試； 一供電控制模塊，在該測試啟動偵測模塊確定當前需要對待測產(chǎn)品進行測試時，控制該電源管理單元分配電壓至該測試接口一預定時間，從而為與該測試接口連接的測試數(shù)據(jù)線的測試探頭供電該預定時間，觸發(fā)該測試探頭在處于供電的時間內(nèi)產(chǎn)生相應的激勵信號，并在停止供電時產(chǎn)生一包括特定參數(shù)值的回饋信號；一結(jié)果分析模塊，在供電控制模塊停止控制該電源管理單元分配電壓給測試接口時，偵測該測試接口的信號，并在偵測到該測試接口的該回饋信號時，獲取該回饋信號中的特定參數(shù)值，并根據(jù)該存儲單元中的對應關(guān)系表確定該特定參數(shù)值所對應的厚度，從而分析得出包括該待測產(chǎn)品的涂覆層的厚度的測試結(jié)果；以及 一存儲控制模塊，用于將該測試結(jié)果存儲于該存儲單元。
12.如權(quán)利要求11所述的電子裝置，其特征在于，該包括特定參數(shù)值的回饋信號為感應電動勢電信號或電流電信號，該存儲單元中存儲的對應關(guān)系表中的特定參數(shù)值與厚度的對應關(guān)系包括感應電動勢與厚度的對應關(guān)系和/或電流與厚度的對應關(guān)系。
13.如權(quán)利要求11所述的電子裝置，其特征在于，該電子裝置為智能手機、電子相框或電子書。
14.如權(quán)利要求11所述的電子裝置，其特征在于，該測試接口為mini型USB接口或電源接口。
【文檔編號】G01B7/06GK103575202SQ201210276859
【公開日】2014年2月12日 申請日期:2012年8月6日 優(yōu)先權(quán)日:2012年8月6日
【發(fā)明者】黃世運 申請人:富泰華工業(yè)（深圳）有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司