一種噪聲系數(shù)測量方法及噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種噪聲系數(shù)測量方法及噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器，屬于測量【技術(shù)領(lǐng)域】。所述方法包括：提供一噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器，噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器在各個低頻頻點(diǎn)的噪聲系數(shù)為定值；采用噪聲系數(shù)測量儀對噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器進(jìn)行測量，得到噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器在待測低頻頻點(diǎn)的噪聲系數(shù)測量值；采用噪聲系數(shù)測量儀對待測器件進(jìn)行測量，得到待測器件在待測低頻頻點(diǎn)的噪聲系數(shù)測量值；根據(jù)噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器在待測低頻頻點(diǎn)的噪聲系數(shù)定值、噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器在待測低頻頻點(diǎn)的噪聲系數(shù)測量值、以及待測器件在待測低頻頻點(diǎn)的噪聲系數(shù)測量值，計(jì)算待測器件在待測低頻頻點(diǎn)的噪聲系數(shù)。本發(fā)明解決了現(xiàn)有技術(shù)不能對器件的低頻噪聲系數(shù)進(jìn)行測量的問題。
【專利說明】一種噪聲系數(shù)測量方法及噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及測量【技術(shù)領(lǐng)域】，特別涉及一種噪聲系數(shù)測量方法及噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器?！颈尘凹夹g(shù)】
[0002]器件的噪聲系數(shù)是指器件輸入端的信噪比與器件輸出端的信噪比的比值，用于衡量該器件本身的噪聲水平。
[0003]現(xiàn)在通常采用如下方法測量器件的噪聲系數(shù):分別將待測器件的輸入端分別接入噪聲溫度已知的高溫噪聲源和低溫噪聲源，并采用功率指示計(jì)測量待測器件輸出端的功
率；按照如下公式計(jì)算待測器件的噪聲系數(shù)
【權(quán)利要求】
1.一種噪聲系數(shù)測量方法，其特征在于，所述方法包括: 提供一噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器，所述噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器在各個低頻頻點(diǎn)的噪聲系數(shù)為定值，所述噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器包括輸入匹配單元、第一級放大電路、以及輸出匹配單元，所述第一級放大電路分別與所述輸入匹配單元和所述輸出匹配單元連接，所述第一級放大電路包括多個并聯(lián)的運(yùn)算放大器； 采用噪聲系數(shù)測量儀對所述噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器進(jìn)行測量，得到所述噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器在待測低頻頻點(diǎn)的噪聲系數(shù)測量值； 采用所述噪聲系數(shù)測量儀對待測器件進(jìn)行測量，得到所述待測器件在所述待測低頻頻點(diǎn)的噪聲系數(shù)測量值； 根據(jù)所述噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器在所述待測低頻頻點(diǎn)的噪聲系數(shù)定值、所述噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器在所述待測低頻頻點(diǎn)的噪聲系數(shù)測量值、以及所述待測器件在所述待測低頻頻點(diǎn)的噪聲系數(shù)測量值，計(jì)算所述待測器件在所述待測低頻頻點(diǎn)的噪聲系數(shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述低頻頻點(diǎn)的范圍為20Hz-100kHz。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器在所述待測低頻頻點(diǎn)的噪聲系數(shù)定值、所述噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器在所述待測低頻頻點(diǎn)的噪聲系數(shù)測量值、以及所述待測器件在所述待測低頻頻點(diǎn)的噪聲系數(shù)測量值，計(jì)算所述待測器件在所述待測低頻頻點(diǎn)的噪聲系數(shù)，包括: 按照如下公式計(jì)算所述待測器件在所述待測低頻頻點(diǎn)的噪聲系數(shù):
x=x，+ (a_a，)； 其中，X為所述待測器件在所述待測低頻頻點(diǎn)的噪聲系數(shù)，X’為所述待測器件在所述待測低頻頻點(diǎn)的噪聲系數(shù)測量值，a為所述噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器在所述待測低頻頻點(diǎn)的噪聲系數(shù)定值，a’為所述噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器在所述待測低頻頻點(diǎn)的噪聲系數(shù)測量值。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述運(yùn)算放大器的個數(shù)為4。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器還包括第二級放大電路，所述第二級放大電路串聯(lián)在所述第一級放大電路和所述輸出匹配單元之間。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器還包括電源電路，所述電源電路包括二次穩(wěn)壓電路和雙T工頻陷波器，所述二次穩(wěn)壓電路通過所述雙T工頻陷波器與所述第一級放大電路電連接。
7.—種噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器，其特征在于，所述噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器包括輸入匹配單元、第一級放大電路、以及輸出匹配單元，所述第一級放大電路分別與所述輸入匹配單元和所述輸出匹配單元連接，所述第一級放大電路包括多個并聯(lián)的運(yùn)算放大器。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器，其特征在于，所述運(yùn)算放大器的個數(shù)為4。
9.根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器，其特征在于，所述噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器還包括第二級放大電路，所述第二級放大電路串聯(lián)在所述第一級放大電路和所述輸出匹配單元之間。
10.根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器，其特征在于，所述噪聲系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器還包括電源電路，所述電源電路包括二次穩(wěn)壓電路和雙T工頻陷波器，所述二次穩(wěn)壓電路通過所述雙T工頻陷波器與所述第一級放大電路電連接。
【文檔編號】G01R29/26GK103954851SQ201410134533
【公開日】2014年7月30日 申請日期:2014年4月3日 優(yōu)先權(quán)日:2014年4月3日
【發(fā)明者】毛勇, 楊軍, 周志宇, 江傳華, 鄭松峰 申請人:中國船舶重工集團(tuán)公司第七二二研究所
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